Local force and tunneling interaction sensor for a scanning probe microscope
Автор: Vasiliev A.A., Kerpeleva S. Yu., Kotov V.V., Sapozhnikov I.D., Golubok A.O.
Журнал: Научное приборостроение @nauchnoe-priborostroenie
Рубрика: Оригинальные статьи
Статья в выпуске: 1 т.15, 2005 года.
Бесплатный доступ
The paper presents a multipurpose sensor of tunneling and force interactions in a scanning probe microscope (SPM). A mathematical model of the sensor for the semicontact force mode is offered. The influence of the topography and local rigidity on the SPM image contrast is discussed.
Короткий адрес: https://sciup.org/14264372
IDR: 14264372
Статья научная
