Исследование просветляющего покрытия Ta2O5 / SiO2 современных солнечных элементов космического назначения
Автор: Генали М.А., Шаров С.К., Лебедев А.А., Вагапова Н.Т., Жалнин Б.В.
Журнал: Сибирский аэрокосмический журнал @vestnik-sibsau
Рубрика: Авиационная и ракетно-космическая техника
Статья в выпуске: 1 т.19, 2018 года.
Бесплатный доступ
Солнечные элементы (СЭ) на основе материалов AIIIBV в составе солнечных батарей являются основными первичными источниками энергии для большинства современных космических аппаратов (КА). В связи с продол- жающимся ростом энергопотребления КА, несмотря на уже достигнутые высокие характеристики, продол- жаются работы по совершенствованию СЭ. Одним из направлений является уменьшение отражения солнечного излучения с фотоактивной поверхно- сти СЭ за счет применения антиотражающего (просветляющего) покрытия (АОП). Приведены результаты исследований АОП на основе слоев оксидов тантала (V) и кремния (IV) (Ta2O5 / SiO2). Представлены результаты расчета толщин и спектральной характеристики данного покрытия на поверхно- сти трехкаскадного СЭ (InGaP / InGaAs / Ge) с учетом особенностей структуры СЭ, проведенного в специальном программном обеспечении. Для подтверждения технологичности процесса нанесения АОП проведен эксперимент по нанесению покрытия на стеклянную подложку. Нанесение АОП проводилось методом электронно-лучевого испарения в вакууме. Результаты исследования спектральных характеристик на группе образцов, полученные с помощью спектрофотометра, подтвердили равномерность покрытий вне зависимости от положения образцов в камере установки. Предварительный расчет спектральной характеристики для АОП на стеклянной подложке пока- зал удовлетворительное совпадение с экспериментальными данными. Результаты исследований спектральных характеристик АОП, нанесенного на поверхность СЭ, показали хорошее совпадение с расчетными данными. Измерение электрических характеристик с помощью импульсного имитатора солнечного излучения (AM0) до и после нанесения АОП на всех экспериментальных образцах СЭ показало прирост тока короткого замыкания в среднем на 122 мА, а КПД - на 7,5 %. Приводятся результаты электронно-микроскопических исследований АОП в различных частях СЭ.
Просветляющее покрытие, антиотражающее покрытие (аоп), трехкаскадный солнечный элемент, фотоэлектрический преобразователь, вольт-амперная характеристика, оксид тантала (v), оксид кремния (iv)
Короткий адрес: https://sciup.org/148177802
IDR: 148177802