Асимптотический метод расчета поля от оптических элементов, обладающих зонной структурой

Автор: Харитонов С.И., Досколович Л.Л., Казанский Н.Л., Каляев М.Л.

Журнал: Компьютерная оптика @computer-optics

Рубрика: Дифракционная оптика, оптические технологии

Статья в выпуске: 4 т.31, 2007 года.

Бесплатный доступ

Представлен новый асимптотический метод решения задачи дифракции света на дифракционных оптических элементах (ДОЭ) с зонной структурой. Метод включает строгое решение задачи дифракции на периодической структуре с периодом, сравнимым с длиной волны, и асимптотический подход к расчету поля за ДОЭ. Получено решение задачи дифракции света на эталонной квазипериодической структуре, сочетающей в себе функции дифракционной решетки и дифракционной линзы. На основе решения эталонной задачи получена простая аппроксимация для поля непосредственно за ДОЭ.

Короткий адрес: https://sciup.org/14058781

IDR: 14058781

Текст научной статьи Асимптотический метод расчета поля от оптических элементов, обладающих зонной структурой

Рассмотрим дифракцию света на дифракционном оптическом элементе (ДОЭ), обладающем зонной структурой. Свет представляет собой электромагнитные волны, и поэтому строгое решение задачи дифракции должно быть основано на решении системы уравнений Максвелла с соответствующими задаче граничными условиями. Однако на практике хорошо известно, что решение уравнений Максвелла в коротковолновой области весьма трудоемкая задача даже для современных компьютеров. Для оценки поведения решения системы уравнений Максвелла в коротковолновой области широко используются асимптотические методы. Наиболее известным асимптотическим методом является приближение геометрической оптики [1]. Приближение геометрической оптики хорошо работает в случае, когда свойства среды слабо меняются на расстояниях сравнимых с длиной волны освещающего пучка. Методы решения задач дифракции на периодических структурах, основанные на точном решении уравнений Максвелла, хорошо известны [2]. Если структура не является периодической, то для решения задач дифракции используются конечно-разностные методы [3] или методы, основанные на решении соответствующих интегральных уравнений [4]. В работах [5-7] рассмотрены асимптотические методы решения волновых уравнений для решения задач дифракции в рамках скалярной теории. В работе [8] представлены методы расчета поля от спиральной фазовой пластинки в рамках параксиальной векторной теории. В работе [9] разработаны методы решения задач дифракции на микрочастицах.

В данной работе рассматривается асимптотический подход к решению широкого класса задач дифракции в рамках электромагнитной теории. Подход основан на синтезе асимптотического метода к расчету поля после ДОЭ, основанного на вычислении интеграла Кирхгофа-Котлера методом стационарной фазы, и решения задач дифракции на квази-периодических структурах внутри ДОЭ. Полученные с использованием данного метода формулы для поля от ДОЭ можно легко интерпретировать в рамках геометрической оптики.

Применение асимптотических методов в физике связано в основном с использованием геометрической оптики [1], квазиклассического приближения в квантовой механике, а также с вычислением интеграла Кирхгофа-Гюйгенса [10] или Кирхгофа-Котлера [11] методом стационарной фазы или методом перевала. Физический смысл подхода в геометрической оптике состоит в замене решения исходной задачи на решение задачи дифракции локальной плоской волны в локально однородной среде или на плоской границе раздела двух сред. Метод перевала и метод стационарной фазы [10-12] также основаны на замене вычисляемого интеграла некоторым эталонным интегралом. Эти методы были положены в основу результатов, изложенных нами в работах [5-7] в рамках скалярной теории дифракции. В настоящей статье предложенный в [5-7] подход обобщен на случай строгой электромагнитной теории.

1. Теория представлений для уравнений Максвелла

В данной работе расчет поля проводится в рамках строгой векторной электромагнитной теории. В декартовой системе координат систему уравнений Максвелла [13] для гармонических по времени полей можно представить в виде i d W k0 dx3

= HW ,

где Н – матричный дифференциальный оператор Гамильтона-Максвелла,

W ( X ) =

E 1

E 2

H 1

, 2п к = — 0 X

1 в = —г

2 к 0 2 L

д / д х 1 д / д х 2

д / д х 1 / д х 1 д / д х 1

д / д х 2 / д х 2 д / д х 2

H 2

X = ( х 1 , х 2, х 3 ) - декартовы координаты, X - длина волны, E i – поперечные компоненты электрического поля, H i – компоненты магнитного поля.

Для описания электромагнитного поля в случае гармонического изменения поля по времени достаточно четырех компонент электромагнитного поля. Продольные компоненты электрического (и магнитного) поля в случае необходимости можно выразить через поперечные. Представление системы уравнений Максвелла в виде (1) удобно для решения задач дифракции, в которых описывается распространение электромагнитных волн через объекты, имеющие границы в форме параллельных плоскостей. Этим свойством обладают, например, элементы плоской оптики, работающие в оптическом диапазоне.

В дальнейшем четырехкомпонентный вектор W будем называть бивектором, а соответствующее поле – бивекторным электромагнитным полем.

В данной работе используются введенные П. Дираком [14] обозначения для полевых функций, принятые в квантовой механике, в т.ч. 5 -функции. При этом одни и те же символы с разной индексацией могут иметь разный смысл.

Выражение (1) можно рассматривать как операторную запись в абстрактном гильбертовом пространстве бивекторов. В координатном представлении оператор Гамильтона-Максвелла Н имеет следующий вид:

B

A

- 1 д / д х 1

2 к 0 2 д / д х 2

д / д х 1 s 1    0

д / д х 2 0 s - 1

х

/ д х 1

/ д х 2

д / д х 1     0 1

д / д х 2 Д- 1 0

а3а1 W J Г*    а 2 (| | W J| Vs)

| F ) =  а3а2 W JГ*   1 (I W h II Vs)

2 Vs| W J I"'     аза1 || WA | I"'

, « 1 ViH W JГ'     аза2 || WA |Г’

где к = к 0Vs, || We ||2 = ( а2 +s )( а232 ) ,

II Wh\ |2 = ( а 32 +s - 1 )( а 2 2 ) ,

а 3 = V1 - ( а 1 ) 2 - ( а 2 ) 2 .

s

0 0

s 1

- 1

где s - диэлектрическая проницаемость среды, ц = 1.

Представим решение уравнения Максвелла в виде разложения по базису

| W ) = I f nms ( х 3 )| F nms ( х 1 , х 2 )) .                   (5)

nms

Набор функций { f nms ( х 3 ) } будем называть волновыми функциями бивекторного электромагнитного поля в F -представлении. nms - набор индексов, характеризующий базисную функцию.

Каждому абстрактному оператору Н в данном базисе можно сопоставить многомерную матрицу (или тензор [15]) Hn p m q s l

H I F nms ( х 1 , х 2 )) = I Н £ ( f ) | I   ( х 1 , х 2 )) .     (6)

nms

В случае, когда набор базисных функций не является счетным, суммирование заменяется интегрированием. Система уравнений Максвелла в F -представлении записывается в виде:

nms т f = I НП (х3) fpql (х3).                (7)

к д х 3      pqi

Выберем в качестве системы линейно независимых решений набор функций, представляющих собой плоские волны. В этом случае решение представляется в виде:

да да

IW) = ЕП f “1“2z (х3 )| F.^s (х1, х2)) d«1 d«2, (8) s -да -да где а1,а2 - пространственные частоты.

Базисные векторы запишем в виде матрицы

| F a 1 a 2 ( х 1 , х 2 )) = | F a 1 a 2 )' exP ( Тк ( а 1 х 1 + а 2 х 2 ) ) ,     (9)

3 а 1 | W J Г’    а 2 (| I W JI Vs)

  • 3 а 2 H W J Г’ - а 1 (I W JI Vs )

  • 2 VI | W J Г'    3а1 | WA | I"'

U 1 vs I W 1      3 а 2 | W6 1 ,

Первый столбец матрицы описывает ТЕ-волну с пространственными частотами ю 1 , ® 2, распространяющуюся в положительном направлении. Второй столбец описывает ТМ-волну с пространственными частотами ю 1 , ® 2, распространяющуюся в положительном направлении. Третий столбец описывает ТЕ-волну с пространственными частотами ю 1 , ® 2,

распространяющуюся в отрицательном направлении. Четвертый столбец описывает ТМ-волну с пространственными частотами © 1 , © 2 , распространяющуюся в отрицательном направлении. В предельном случае, когда а , = a 2 = 0, будем использовать мат-

рицу следующего вида:

-1

Vs +1

-Vs

1      0 '

0     1

0 Vs

—Vs 07

Г a1a3      a2         0         0   ^

II W 1II vsi| W 2||

a 2 a 3      —a 1       A        A

V,„ =

II W 1II vsi| W 2||

. (18)

0       0      —a 2 Vs  —a 1 a 3

II W 3II II W .11

_        _       a. Vs —a.a;

0      0       1     —2—3

I                                 II W 3II II W .11 7

Этот случай описывает волны, распространяющиеся перпендикулярно диэлектрическому слою.

Для того, чтобы записать систему уравнений Максвелла в пространственно-частотном представлении, необходимо найти матричные элементы оператора Н в пространственно-частотном представлении.

Матричные элементы оператора Н имеют вид:

Ha"^1 =    Pm (©. ,©2 ) FFmK т \f У (12)

а , а 2 s              rm      1 2                     a j a 2 a j a 2

m

где Pm n - матрица, обратная к матрице парных скалярных произведений базисных векторов (10),

G © 1 ©2 = a^ 2

a 1 a 2

> ©1 © 2 a 1 a 2

A © 1 © 2

a 1 a 2

= s (©1 — a1, ©2 — a 2) Q —

—6(©1 — a1, ©2 — a2)

> © 1 © 2 a 1 a 2

1 0

= —6 (“| — a1, ©2 — a2) Q —

—s(©1 — a1, ©2 —a 2)

Q =

1 0

s ( © 1 , © 2 ) - преобразование Фурье от распределения диэлектрической проницаемости.

Система уравнений Максвелла в пространственно-частотном представлении имеет вид системы интегро-дифференциальных уравнений

i d f

k d x 3

+» +»

= SJ J H уm ( x 3 ) f a 1 a 2 m ( x 3 ) d a 1 d a 2 m —»—»

Для многих задач вместо базиса, состоящего из волн различной поляризации, распространяющихся в различных направлениях, удобно использовать следующий базис

где || W i |I, i = 1,2,3,4 - нормировочные коэффициенты, обеспечивающие нормировку введенного базиса.

2. Решение эталонной задачи

Предварительно рассмотрим задачу дифракции света на эталонном ДОЭ. Модельный ДОЭ должен сочетать в себе функции расщепителя пучка (дифракционной решетки) и при этом обладать фокусирующими свойствами. Такая модель позволяет охватить достаточно широкий класс существующих ДОЭ.

Для модельного расчета можно выбрать ДОЭ, расположенный перпендикулярно оси x 3 в области 0 x 3 D (рис. 1).

Диэлектрическая проницаемость в области эталонного ДОЭ имеет вид

s ( x 1 , x 2 ) = Z g n exp ( ik ng ( x 1 , x 2 ) ) ,              (19)

n где x = (x1, x2) - декартовые координаты в плоскости оптического элемента, D – толщина диэлектрического слоя, n - целое число, x0 - точка на оптическом элементе в окрестности которой ищется поле. Функция g (x1, x2) имеет смысл функции эйконала для геометрооптического фокусатора [16-18].

Пусть функция g ( x 1 , x 2 ) является квадратичной формой

g ( x 1 , x 2 ) = g ( x 0 ) + ( V g ( x 0 )( x - x 0 ) ) +

1 M +—( x

- x o ) T M ( x o )( x - x o ) ,

D mm 2 ( © 1 , © 2 ) =

ik

ik

а матрица M имеет вид:

M =

a

c

c b

Для того чтобы решить задачу необходимо найти решение внутри ДОЭ (внутри диэлектрического слоя) и в свободном пространстве, удовлетворяющее условию непрерывности на границах раздела ДОЭ и окружающей среды.

2.1. Решение в диэлектрическом слое

Для получения решения внутри диэлектрического слоя в окрестности точки x 0 = ( ( x 0 ) 1, ( x 0 ) 2 ) введем новые координаты у = ( y 1 , у 2 ) :

x1 - ( x 0 ) 1      cos ( 9 ) - sin ( 9 ) Г у1

Х 2 - ( x 0 ) 2 J L sin ( 9 )    cos ( 9 ) JL У 2

В этих координатах функция g ( x1, x 2 ) имеет вид:

g ( У 1 , У 2 ) = g 0 ( 0, ° ) + Y T ( у ) + 2 ( у ) T M 1 ( y ) >    (22)

где матрица M 1 имеет диагональный вид:

M 1 = ZTMZ =

P i

в

cos ( 9 ) - sin ( 9 ) sin ( 9 ) cos ( 9 )

Угол 9 выбирается таким образом, чтобы матрица M 1 = ZTMZ была диагональной.

Запишем Фурье-образ диэлектрической проницаемости

£ ( © 1 , © 2 ) = Е g m ex P ( ikmg ( 0,0 ) ) х m                                    (24)

х Dmm ( © 1 - m Y 1 , © 2 - m Y 2 ) ,

£ - 1 ( © 1 , © 2 ) = E g m 1 exp ( ikmg ( 0,0 ) ) X m                                  (25)

X Dmm ( © 1 - m Y 1 , © 2 - m Y 2 ) ,

Y 1 и y 2 связаны с производными функции g ( x 1, x 2 ) в исходной системе координат следующим образом

5 g ( x p x 2 ) d x 1

d g ( x 1 , x 2 ) d x 2

cos ( 9 ) - sin ( 9 ) y 1 sin ( 9 ) cos ( 9 ) y 2

exp

г г

- ik

2 п т Д   2 п m2 в 2

( © 1 ) 2 , ( © 2 ) 2 2 m^ 2 m 2 P 2

.

Связь поля в координатном и пространственно-частотном представлении имеет вид, аналогичный (8):

I W ( У1, У2 )) = да да

= EJJ f W ( x 3 )| Fw)

(28a)

s -да -да x exp (ik (a1 y1 +a2 у 2)) d a1 d a2.

Найдем матричные элементы оператора Гамильтона-Максвелла в пространственно-частотном представлении (13). Оператор Гамильтона-Максвелла для распределения диэлектрической проницаемости (24)-(25) имеет вид (12), где

G ©© = E Gn 1 ( © 1 , © 2 , a 1 , a 2 )X

n 1

X D-v, ( © 1 - n 1 Y 1 -a 1 , © 2

n 1 Y 2

a 2 ) ,

G n ( © 1 , © 2 , a 1 , a 2 ) =

0              A n ( © 1 , © 2 , a 1 , a 2 )

_ В„_ ( © 1 , © 2 , a 1 , a 2 )              0

.

где

A n-, ( © 1 , © 2 , a 1 , a 2 ) = g -' exP ( ik n 1 g 0 ( 0,0 ) ) X

X

-I

-

a 2    a 1

a 2    a 1 _

5 П 1

-

1 0 ’

n 1 (© 1 ’© 2 , a 1 , a 2 )      5 n 1

- g ^exP ( ikn1 g ( 0 , 0 ) )

-

.

-

-

- ©2

-

Двумерные матрицы, входящие в (13), представляются в виде:

a 1 a 2

= Е Лч (©1, ©2, a1, a2 )X n1

X D n 1 n 1 ( © 1 - n 1 Y 1 -a 1 , © 2

n 1 Y 2 -a 2 ) ,

B©a© =E Bn1 (©1, ©2, a1, a2 )X n1

X D nn ( © 1 - n 1 Y 1 -a 1 , © 2 - n 1 Y 2 -a 2 ) .

Запишем матричные элементы оператора Гамильтона-Максвелла в пространственно-частотном базисе (18)

H2n^n =yM©1©2n|G 0) a a       \x a1a2 s      / i \               -1 V 1, 2, 1, 2 / a1a2 s / n1                                             (34)

X D n 1 n 1 ( © 1 - n 1 Y 1 - a 1 , © 2 - n 1 Y 2 - a 2 ) .

Решение системы уравнений Максвелла в пространственно-частотном представлении запишем в виде:

v a 1 a 2 l ( x3 ) =

= £ v s , s 2 l ( x 3 ) D i s 2 ( a , - s 1 Y 1 -y a 2 - s 2 y 2 -^ 2 ) , (35) s 1 s 2

§ , , c 2 - произвольные постоянные, описывающие наклон падающей волны по отношению к локальной решетке.

Подставляем выражения в исходную систему интегро-дифференциальных уравнений Максвелла в пространственно-частотном представлении (17), получаем систему дифференциальных уравнений i _dvm m2l (x3)

7 E---л----Dmm (to - m,Yi - k m,m2      Оx3         1 2

-^L to 2 - m 2 Y 2 -7 ) =

+w +^

/ 'V ' ^( to , , ® 2 , a , , a 2 )| V^ q ) X (36) s , s 2 n 1 q -ю-то

Xvs,s2q (X3)Dss2 (a, -s,y, -^,a2 -s2Y2 -§2)x xDnn (to, -n,y, -a,,to2 -n,y2 -a2)da,da2.

Вычислим интеграл в правой части (36) методом стационарной фазы [10-12].

Получим:

i к ^

m 1 m 2

d v m , m 2 1 ( x 3 )

----------- X dx3

X D m , m 2 ( to - m Yl -У to - m 2 Y 2 - § 2 ) =

= Уy(vtoto2l\G„ (to,,to2,as,asllv, , V nV , , 2, , , 2/| a,s a 2 q/ s s2n q xvss2q (x3)x D         (to, - (n, + s,)y, -

3           s , + n , s 2 + n 2        , i i i

-7 , to 2 - ( n , + s 2) y 2 -7 ) ,

где стационарные точки a. = § toV-SJi., n, + s, a2 = c2 +

( to 2 2 ) s 2 n , + s 2

Введем новые обозначения для индексов суммирования в правой части (37)

m , = n , + s , ,     m 2 = n , + s 2.

Тогда в этой новой индексации i      dvm,m21 (x3)

— 7 ----—- X кchc m m2

X D m , m 2 ( to - m Y1 -^ , , to 2 - m 2 Y 2 "^ 2 ) =

= EEV'to"‘llG-. (to,to2.a:.«'2)|V.,.„)x(38)

m m 2 n q

X v m , - n , m 2 - n , q ( x 3 ) x

XDm,m2 (to - m, Y1 -^, , to2 - m2 Y2 -^2 ) , и стационарные точки s        (to,-M( m, - n, )

al 4i +                         ,

m s         (to2 -^2 )( m 2 - n, )

a 2 = c2 +  -------—--------.

m 2

Основной вклад в результат вносит функция

D m , m 2 ( to - m , Y , -^ , , to 2 - m 2 Y 2 - § 2 )

в окрестности точек to, = m, Y,+§,, to2 = m 2 y2 +§2.

Заменим в выражении для стационарных точек to , , to 2 этими значениями.

Далее будем использовать стационарные точки as =§, +Y, (m, - n,), a2 = §2 + Y2 (m2 - n,).

Эта замена при малых длинах волн не влияет на точность вычисления интеграла методом стационарной фазы.

Уравнение (38) является функциональным уравнением, так как в него входит зависимость от to , , to 2.

Перейдем от дифференциально-функционального уравнения к системе обыкновенных дифференциальных уравнений. Для этого выберем систему линейно-независимых функций Kmn ( to , , to 2 ) .

Умножим (38) на каждую из базисных функций и в результате получим систему обыкновенных дифференциальных уравнений для коэффициен- mml тов v m 1 m 2 .

Бивекторное поле внутри диэлектрического слоя имеет вид:

I W 2aa ( x 3 )) = v a,a2 - ( x 3 )| V ^2,) +

+ v a , a 2 2 ( x 3 )| Va^ +

+ v aia 2 3 ( x 3 )| V aia 23) +

+ v aia 2 4 ( x 3 )| '

где v a,2 ( x 3 ) описывается выражением (35).

  • 2.2.    Распространение в свободном пространстве

В пространстве с постоянной диэлектрической проницаемостью в плоскости x 3 = 0 решение системы уравнений Максвелла в пространственно-частотном F -представлении запишем в виде:

/ ; ^2 l ( x 3 ) =

= E f is , s 2 l ( 0 ) D s „2 ( a , - s , Y , -                       (40)

s 1 s 2

-§,, a2 - s2y2 -§2) exp (±ika3x3), a3

= ^! - a , - a 2

Знак «+» берется для 1 = 1,2; знак «-» берется, если 1 = 3,4.

Введем следующие обозначения:

  •    область 1 - область, в которой распространяется падающая и отраженная волны (обозначим I -падающая волна, соответствующая ТМ-поляри-зации, и R – падающая волна, соответствующая ТЕ-поляризации);

  •    f wi = i «№ h коэффициент, описывающий па-

  • дающую волну, соответствующую ТМ-поляри-зации. Соответствующий набор коэффициентов

f « 1 s 21 = I s s 2 e .

  •    f «ч^2 = i «м e коэффициент, описывающий падающую волну, соответствующую ТЕ-поляри-зации. Соответствующий набор коэффициентов fi s i s 2 2 = I s 1 s 2 h ;

  •    f «m3 = r ; x ; 2 h коэффициент, описывающий отраженную волну, соответствующую ТМ-поляри-зации. Соответствующий набор коэффициентов f1 s1S 2 3 = R 1 2 e ;

  •    f «aR = r ;; 2 e коэффициент, описывающий от-

  • раженную волну, соответствующую ТЕ-поляри-зации. Соответствующий набор коэффициентов f sis24 = Rss2h;
  •    область 2 - область, содержащая диэлектрический слой с плоскими границами;

  •    область 3 - область, в которой распространяется прошедшая волна;

  •    f “А2 1 = т »»2 e коэффициент, описывающий прошедшую волну, соответствующую ТМ-поляриза-ции. Соответствующий набор коэффициентов f ' s 2 1 = J5 !s 2 e ;

  •    f 3 ^2 2 = y 3 ;; - e коэффициент, описывающий прошедшую волну, соответствующую ТЕ-поляризации. Соответствующий набор коэффициентов f ' s 2 2 = J s 1 s 2 h

Бивекторное поле в первой области имеет вид:

| W ( % 3 )} = I a 1 a 2 h ( % 3 )| F ^) +

+ 1 e ( % 3 )| F <,<-) +

+ R -*1 " 2 h ( % 3 )| F ^) +

+ R e ( % 3 )| F ^}.

Бивекторное поле в третьей области имеет вид:

I W     ( % 3 )} = T a1a 2 h ( % 3 )| F 1 2 1) +

+ T e ( % 3 )| F ^}.

Используя (40) и введенные выше обозначения для коэффициентов, получаем выражение для поля в пространственно-частотном представлении.

  • 2.3.    Сшивка решений

В предыдущих пунктах были записаны решения системы уравнений Максвелла в пространственночастотном представлении в области диэлектрического слоя и в области свободного пространства в виде линейной комбинации с неизвестными коэффициентами. В настоящем пункте рассмотрим решение задачи дифракции плоской волны на диэлектрическом слое с диэлектрической проницаемостью s , представленной в форме (19).

Условие сшивки на первой границе – равенство бивекторных полей на границе раздела

W " 1 " 2 ( 0 ) = W 2 « •" ( 0 ) .                               (43)

Условие сшивки на второй границе - аналогично (43):

W ! ; - 2 ( D ) = W3a^ ( D ) ,                        (44)

где D – толщина диэлектрического слоя.

Эти условия служат для определения коэффициентов T 1“2 e , T 1 2 h , R 1 2 e , R “^ h . Таким образом, сшивка приводит к системе линейных алгебраических уравнений.

  • 3.    Коротковолновые асимптотики

    • 3.1.    Поле внутри слоя модуляции ДОЭ

Рассмотрим теперь случай, когда длина волны освещающего пучка стремится к нулю (коротковолновая асимптотика). В этом случае

Dm-,m 2 ( ^ 1 , ® 2 ) = § ( Ю 1 , Ю 2 ) .                          (45)

Используя линейную независимость 5 -функций, получаем следующую систему линейных дифференциальных уравнений:

£ dvm1 m 21 (% 3) = k    d% 3

= z V ■"'■■ ’ | ^ ;. (» 0 » 0 , «г , «?)| V ., - . ?.) -          ( 4 6)

n 1 q

■ vm1-n1m2-n1q (%3), где as' =^i +Y1 (m1 - n1), a2 = ^2 +Y2 (m2 - n1), to° = mY +§1, ro° = mгy2 +^2.

Запишем систему уравнений только для под- множества индексов m1 = m2.

£ dvmm11 (% 3) = k    d%3

= Z Vv ’■’■ ' I G .J» ; » ; , « st , « 2 t )| V;., ,, ,) ■          (47)

n 1 q

■ vm1-nm1-n1q (%3 ), где

a?' = ^, +Yi (mi - n), a2 = ^ + Y2 (m 1 — n),ю0 = m 1Y1 + £p to2 = miY2 + ^-

Далее введем новые индексы суммирования

P i = m 1 - n i :

i Svm11 (x3) = k dx3                                           (48)

= ZV*°1 \ Gm1-p Ж,af,«2)| Vs^q) • vPq(X3), p1 q где as' =^1+Y1 P1, a2' = ^2 + Y2P1, Ю0 = m1Y1 +^1, Ю0 = mW2 +^2-

Обозначим

Y 1 = Y cos ф , Y 2 = Y sin ф -

Легко показать, что справедливы тождества

^ + y cos ф p 1    cos 9 - sin 9   ^ + y p 1

c 2 + y sin ф p 1     [ sin 9    cos 9_| c 2

cos 9 sin 9 ^ + y cos ф m1 ^ + y cos ф m1 - sin 9 cos 9 q 2 + Y sin ф p 1 ^ 2 + y sin ф p 1

-^ 2 sin ф p 1 ^ +y cos ф p 1 cos 9 - sin 9

-^ 2 - y sin ф p 1 q 2 +y cos ф p 1 sin 9 cos 9

^ 1 +y m

-

^ 1 + Y P 1

-

Ч2 1 1 + Y P 1 .-1 2   1 1 +Y P 1

Структура оператора Гамильтона-Максвелла такова, что отличны от нуля только следующие восемь матричных элементов

H P 1 1 - = V 61 62 | ^ m 1 - p 1 ((0 1 , (0 2 , Ct. 1 , St 2 )| V a 1 ,j 2-^ >

H m1* V 6 162 p m 1 - P 1 (to 1 , •”2 , a 1 ,•^ 2 )| V a 1 a , 4) ’ H m- = ( V 6 1 6 2 p m 1 - P 1 (C O 1 , •”2 , с5 1 , с5 2 )| V a 1,223^ , H^ = ^y to to 2| Ami - P 1 ( to 1 , to 2 , a 1 , a 2 )| V a 1 a 24^ ,    (52)

H m;? = V 6 1 6 2 3| Bmi- P 1 ( to 1 , to 2 , a 1 , a 2 )| V a 1 a 2 1) , Н а2 = V 6 1 6 2 B B - _ P 1 (to 1 , to 2 , a, 1 , a 2)| V a 1( . 2 2) , H^ = ( V 6 1 6 2 4| Bm 1 - P 1 ( to 1 , to 2 , a 1 , a 2 )| V da 2 1) , H Pm 1^ = yV toto 4| B m - ^ 1 , 6 2 , a 1 , a 2 )| V a 1 6 2 2) .

В последних выражениях использовались ненулевые компоненты соответствующих четырехмерных векторов.

Система распадается на две системы уравнений:

i dvm11 (x3) = k   dx 3                                          (53)

Z Z ну (x3 ) = ZZ АУ (x3).

P 1 q = 3,4                          P 1 q = 3,4

Используя эти тождества, можно доказать соот- ношение l=1, 2, toPtoP              /,^0 ,^0     ?' s.St

V V     |G m - p 1 (to 1 , to 2 , a 1 , a 2

Vst st a as q

11, ю 2, a 1, a 2

i dvml (x3) = k   dx 3

= ZZ H my1q ( x 3 ) = ZZ B mql v "4 ( x 3 ) , P 1 q = 1,2                           P 1 q = 1,2

a 1 =^ 1 +Y 1 P 1 , a 2 =^ 2 , to 1 = m ^ +1 1 , (0 2 =1 2 -

Следует отметить, что матричные элементы в правой части (49) соответствуют задаче конической дифракции [19] на одномерной периодической решетке.

Для дальнейшего анализа запишем уравнение в виде:

m1l iv = H^ (x-)■                     (50)

k dXo l=3, 4.

Полученные системы можно свести к системам уравнений второго порядка. При этом вдвое сокращается размерность системы уравнений:

J_ d2vm11 (x3 ) k2 d(x3)2

= Mm‘vn ( x 3 ) ,

vs11 (x3 ) = Z Emn (a + mn exp (ik^mnx3 ) + mn где

H ml = p 1 q

ю 1 ю 2, a 1, a 2

(5 )

+ a - mn exp ( - ik Ц mn ( x 3 - D ) ) ) ,

Z MnlEPn =^2P„EPqn, nl ml                ml pq ns z z ^ Pq ns , P q=3,4

l =1, 2,

d 2 v m1 1 ( X 3 ) k2 д ( x з ) 2

= On ( X 3 ) ,

v s 1 l ( x 3 ) = E P^ ( a + "’ exp ( ik Ц mn x 3 ) + mn

+ a - mn exp ( - ik ц mn ( x 3 - D ) ) ) ,

EMsqPpl = U2 Psq pl mn    цmn mn , pl

Nm = v^ у Bm Apq ns                   pq ns , p q=1,2

l =3, 4,

D - толщина диэлектрического слоя.

В случае, когда плоская волна падает перпендикулярно к плоскости дифракционного оптического элемента, или радиально-симметричная волна падает на радиально-симметричный оптический элемент, имеем частный случай | , = 0. В этом случае уравнения для коэффициентов, описывающих распространение поля внутри слоя, имеют вид:

R a 1 a 2 e ( x 3 ) =

= ERse5(at - sY1 -^1, a 2 - sy2 -^2 )x s1

x exp ( - ik a 3 x 3

R " h ( x 3 ) =

= ERs5 («1 - sY1 - ^, «2 - sY2 - ^2 ) x s1

x exp ( - ik a 3 x 3 ) .

Для прошедшего поля

Ta1«2e (x3 ) = ETse5(«1 -s1Y1 - s1

  • -^ 15 a 2 - s 1 Y 2 -^ 2 ) exp ( ik a 3 ( x 3 - D ) ) ,

Ta1a2h (x3) = ETsh5(a1 -s1Y1 - s1

  • -^ 15 a 2 - s 1 Y 2 -^ 2 ) exp ( ik a 3 ( x 3 - D ) ) .

  • 3.3. Условия сшивки полей

),

i д v m11 ( X 3 )

к    д x 3

= a ; ; 1 v p13 ( x 3 ) ,

i д vm12 (xj       , s к    дZ 3 = Am4vp14 (x3),                     (58)

Условие непрерывности электрического и магнитного полей приводит к формулам для расчета локальных коэффициентов отражения и пропускания:

v s1k ( 0 ) = Ph ( 0 ) ( Г a 1 a 2 k|| F a 1 a 21) +

i д vm13 (xj       3 X к Л     = Ami3 vp11 (x3),                       (59)

+ IsE ( 0 ) V a 1 a 2 k||F a 1 a 22) +

+ R s 1 h ( 0 )( Г a 1 a 2 k\\ F^ +

+ R s 1 e ( 0 ) ( Г k||F a 1 a 24) ,

i д v m 1 4 ( x 3 ) к    д z

= A m4 v p12 ( x 3 ) .

v sk ( D ) = T 1 ( D ) V aa2 k|| F aa 21) +

+ T s 1 k ( D ) V

a] a2 k

При стремлении длины волны освещающего пучка к нулю выражение для поля внутри слоя имеет вид:

v “'“ 2 l ( x 3 ) =

= E vs 1 l ( x 3 ) 3 ( a - s 1 Y 1 -^ , ° 2 - s ^2 Л ) .

s 1

где a, = s 1 y + § 1, a 2 = s ! Y + ^ 2 -

Нетрудно показать, что преобразование поворота не изменяет скалярное произведение a1a2 k

II f \ = V a1a 2 k\U \ a1a2 s /     \                a 1OL2 s / где a 1 = s1Y + ^1, a2 = sfy + ^2-

Следует отметить, что полученная система линейных уравнений совпадает с системой уравнений для определения коэффициентов дифракционной решетки в случае конической дифракции [2, 19].

3.4. Поле на выходе оптического элемента в случае ^ 2 = 0

В случае, когда плоская волна падает перпендикулярно к плоскости дифракционного оптического элемента, или радиально-симметричная волна падает на радиально-симметричный оптический элемент, имеем частный случай j|2 = 0. Учитывая формулы (28a), поле на выходе ДОЭ в пространственном представлении в переменных y 1, y 2 имеет вид:

W =

= ( f f r '"2 ' ( x )| F A + Г h ( x )| 1= ,)(x    (64)

111         \ 3 / aj 02 1 /             у 3 / ULj 02 2/1        x /

—x> —x> xexp( ik (a1 y1 + a2 y 2) x3) d a1 d a2, где F a2 m) — базисные вектора F-представления.

Коэффициенты T s 1 e , T s 1 h , входящие в выражения (62), для случая . 2 = 0 имеют вид:

Г 1 e = а ( 0,0 ) T h 1 ( 0,0 ) ; Г 1 = b ( 0,0 ) T 1 ( 0,0 ) .

Коэффициент а ( 0,0 ) описывает вклад падающей волны в случае, когда направление электрического поля совпадает с направлением штрихов локальной дифракционной решетки.

Коэффициент b ( 0,0 ) описывает вклад падающей волны в случае, когда направление магнитного поля совпадает с направлением штрихов локальной дифракционной решетки. T h 1 ( 0,0 ) , Г 1 ( 0,0 ) - коэффициенты дифракции в s 1 порядке для случая, когда направление магнитного и электрического (соответственно) поля параллельно штрихам дифракционной решетки.

Вычисляем интеграл в выражении (64), получаем поле в пространственном представлении в переменных y 1, y 2

| W ( у )) = £ а ( 0, О ) Г;( 0,0 )| F^^ „ 1 + , 21 n 1

x exp ( ikn g ( 0,0 ) ) exp ( ik Y у n 1 ) +

+Z b (0,0) Г (0.0)1 F+„„+U x n1

x exp ( ikn g ( 0,0 ) ) exp ( ik Y у n 1 ) .

Теперь необходимо перейти от координат y 1, y 2 к координатам x 1, x 2. Этот переход осуществляется с помощью преобразования вращения. Поле в точке x 0

I W ( X 0 )) =

= 2 а ( 0, 0 ) Th' ( 0, 0 ) Zz| F .+„1„+t,) x n 1

x exp ( ikn g ( 0,0 ) ) +                             (66)

+ 2 b ( 0 , 0 ) T,' ( 0 , 0 ) ZZ|F .+,, , „+. ,,) x n 1

x exp ( ikn 1 g ( 0,0 ) ) .

Матрица ZZ имеет вид

ZZ =

Z

Z

Напомним, что матрица Z имеет вид (23).

Для получения окончательного результата определим a и b , которые описывают падающую волну.

Бивектор электромагнитного поля падающей волны в плоскости x3 = 0 в координатах ( у 1 , у 2 ) , когда исходная электромагнитная волна падает перпендикулярно модулированной дифракционной решетке и вектор поляризации направлен вдоль оси x 2 , имеет вид:

W ( 0,0 ) = ( а ( X )| F ) + b ( Х 0 )| F 2 )) ,              (67)

где a3 cosф|I We||—1

| F\ = a3sin ф| | We i Г1

1       - Sin фд/Ё|| We |I"’

Ч cos ф-x/s 11 W e ll 1 ?

sin ф(| | Wh || Vs)

। F^ = - cos ф (| W h U Vs ) Оз cos ф|| Wh||-1

ч Оз sin ф|| Wh||-1

Y, ф = arctg—.

Y 1

Базисные вектора выбраны таким образом, чтобы электрическое поле в первом базисном бивекторе и магнитное поле во втором базисном бивекторе были направлены вдоль штрихов локальной дифракционной решетки.

Поле (67) в координатах ( x 1 , x 2 ) описывается выражением

W ( X 0 ) = ZZ ( а ( X 0 )| Fh) + b ( X 0 )| F 2) ) ,            (69)

ZZ F 1

ZZ F 2

a 3 cos to || We || 1 a 3 sin to|| W e IГ' - sin toVs 11 We || * cos toVs| I We || 1 ^

sin to (| I W h ll Vs) - cos to ( I W h ll Vs ) a 3cos to|| Wh || 1

^ a 3 sin to| I Wh||'

to = ф + 0 .

Бивектор, описывающий подающую волну в случае, когда она нормально падает на элемент, имеет вид:

W =

Vs

Для определения a и b необходимо решить систему линейных алгебраических уравнений

o "

- cos to

- sin to

1

= a

- sin to

+ b

cos to

vs

sin to Vs

- cos to Vs

o _

- cos toVs

- sin to Vs

В этом случае a = -V2sin(ф + 9), b = V2cos(ф + 9)

и окончательное выражение для электромагнитного поля на выходе модулированной дифракционной решетки имеет вид:

I W ( X o )) =

= 2 S ZZ ( - sin ( ф + 9 ) T n ( X o )| F . hnv;h 1 ,1) +     (73)

n 1

+ cos (ф + 9)Tn (xo )| FY1 „1Л2„1.2)) exp (i4 g (xo )) , где Ten1 = Ten1 (Xo) - Th' = T„ (Xo) - - коэффициенты дифракции на локальной решетке для Е- и Н-поля-ризации, соответственно. В случае, когда вектор поляризации направлен вдоль оси x1:

_ 1 " - cos to - sin to o - sin to cos to o = a sin to Vs +b - cos to Vs ,          (74) _Ve_ - cos toVs - sin to Vs a = -V2cos(ф + 9), b = -V2sin(ф + 9) -      (75)

и выражение для поля принимает вид:

I W ( X o )> =

= -V2 £ ZZ ( cos ( ф + 9 ) T ( X o )| F^ 1 -1) +    (76)

n 1

+ sin ( ф + 9 ) T n 1 ( X o ) | F Y 1 1 , Y 2 1 ,2 )) exp ( ik x g ( X o ) ) .

  • 4.    Асимптотики

  • 5.    Расчет поля фокусатора в кольцо

для псевдопериодических структур в рамках электромагнитной теории

В данном пункте рассмотрим применение вышеизложенных методов для расчета поля в случае дифракции волны на ДОЭ, которые обладают зонной структурой. В предыдущем разделе мы рассматривали дифракцию на модельном ДОЭ. Рас- смотрим теперь диэлектрический слой с диэлектрической проницаемостью, которая описывается выражением (19). Случай, когда функция g (x1, x2) является линейной, будет соответствовать чисто периодической структуре (дифракционной решетке). В случае, когда функция g (x,, x2) не является линейной, получаем дифракционную структуру с изменяющимся периодом.

Для того чтобы воспользоваться результатами предыдущего раздела, сделаем предположение о том, что поле в данной точке зависит от распределения диэлектрической проницаемости только в окрестности данной точки. Это предположение основано на принципе локализации, который рассмотрен выше. Далее разложим функцию g ( x , , x 2 ) в окрестности точки X o в ряд Тейлора с точностью до членов второго порядка.

Полученное выражение по форме совпадает с выражением для поля на выходе дифракционного оптического элемента, полученного в рамках метода нелинейного предыскажения фазы, рассмотренного в работах [16, 17]. Оно также объясняет возможность использования приближения тонкого оптического элемента. Отличие состоит в том, что коэффициенты T = T ( X o ) и T = T ( X o ) имеют другой физический смысл. Напомним, что в методе предыскажения коэффициент Te ' = Te ' ( X o ) = T = T ( X o ) совпадал с коэффициентом разложения в ряд Фурье функции предыскажения. В нашем случае он определяется согласно методу, изложенному в предыдущем разделе настоящей работы.

Рассмотрим поле от фокусатора в кольцо. В этом случае функция g ( r ) имеет вид:

g ( r ) =V ( r - ro ) 2 + f 2, r = V x 2 + x 2 ,          (77)

r o - радиус кольца фокусировки.

По аналогии с (76) следует, что электромагнитное поле на выходе дифракционного оптического элемента, фокусирующего в кольцо, имеет вид:

| W ( X 1- x 2 )) =

Г r2

= V2exp l-| S ZZ ( T h„ F-„ o' +            (78)

X )

+ Te„|F Y o2) ) exP ( ik „g ( r ) ) ,

dg (r)

Y =         "

d r

Были проведены расчеты распределения интенсивности электромагнитного излучения в фокальной плоскости фокусатора в кольцо для различных сочетаний параметров системы.

Вычисление поля проводилось на основе распределения поля на выходе ДОЭ (78) с помощью пропагатора, описанного в работе [13].

На рис. 2 приведены примеры расчета полей от фокусатора в кольцо для значений, указанных в табл. 1 (все размеры в мкм). При малых отношениях σ / f , где σ – параметр освещающего гауссова пучка, распределение интенсивности в фокальной плоскости фокусатора в кольцо близко к распределениям интенсивности, полученным в работах [18,20,21] в рамках скалярного приближения. В этом случае распределение энергии практически радиальносимметрично. При увеличении фокусного расстояния степень симметричности увеличивается. При увеличении отношения σ / f в распределении энергии вдоль кольца появляется асимметричность. Наличие асимметричности связано со следующими факторами:

  •    наличие линейной поляризации у падающей волны нарушает радиальную симметрию задачи, так как в разных точках фокальной плоскости электрические поля от различных точек на фоку-саторе приходят под разными углами;

  •    при увеличении отношения σ/ f появляется зависимость коэффициентов дифракции от направления локальной дифракционной решетки в случае линейной поляризации падающей волны.

Неравномерность интенсивности излучения в плоскости наблюдения на выходе из фокусатора в кольцо обусловлена неравномерностью значений коэффициентов пропускания (отражения) Е - и Н -поля-ризации в зависимости от текущего значения периода зонной структуры (дифракционной решетки).

Заключение

В данной статье представлен асимптотический метод решения задач дифракции на ДОЭ, который сочетает в себе решение задачи дифракции на периодической структуре с периодом сравнимым с длиной волны и геометрооптический подход. Решена задача дифракции на эталонной квазипериодиче-ской структуре, сочетающей в себе функции расщепителя пучка и дифракционной линзы. На основе решения эталонной задачи получено простое выражение для поля в плоскости, непосредственно прилегающей к ДОЭ. Полученное выражение позволяет оценить распределение поля на выходе ДОЭ, не прибегая к сложным вычислительным методам.

Работа выполнена при поддержке грантов РФФИ 07-07-97601, 07-07-96602, 08-07-99005, 07-07-91580-АСП, а также российско-американской программы «Фундаментальные исследования и высшее образование» (“BRHE”).

Таблица 1

Параметр

Значение (вариант 1), мкм

Значение (вариант 2), мкм

Длина волны λ

1

0,1

Параметр гауссова пучка σ

50

50

Расстояние от оптического элемента до плоскости наблюдения

1000

100

Фокусное расстояние

1000

100

Габаритные размеры оптического элемента

500×500

500×500

Рис. 2. Рассчитанные распределения интенсивности поля в фокальных плоскостях фокусаторов в кольцо с параметрами, приведенными в Табл. 1 (вариант 1 – слева; вариант 2 – справа).

Статья научная