Асимптотический метод расчета поля от оптических элементов, обладающих зонной структурой
Автор: Харитонов С.И., Досколович Л.Л., Казанский Н.Л., Каляев М.Л.
Журнал: Компьютерная оптика @computer-optics
Рубрика: Дифракционная оптика, оптические технологии
Статья в выпуске: 4 т.31, 2007 года.
Бесплатный доступ
Представлен новый асимптотический метод решения задачи дифракции света на дифракционных оптических элементах (ДОЭ) с зонной структурой. Метод включает строгое решение задачи дифракции на периодической структуре с периодом, сравнимым с длиной волны, и асимптотический подход к расчету поля за ДОЭ. Получено решение задачи дифракции света на эталонной квазипериодической структуре, сочетающей в себе функции дифракционной решетки и дифракционной линзы. На основе решения эталонной задачи получена простая аппроксимация для поля непосредственно за ДОЭ.
Короткий адрес: https://sciup.org/14058781
IDR: 14058781
Текст научной статьи Асимптотический метод расчета поля от оптических элементов, обладающих зонной структурой
Рассмотрим дифракцию света на дифракционном оптическом элементе (ДОЭ), обладающем зонной структурой. Свет представляет собой электромагнитные волны, и поэтому строгое решение задачи дифракции должно быть основано на решении системы уравнений Максвелла с соответствующими задаче граничными условиями. Однако на практике хорошо известно, что решение уравнений Максвелла в коротковолновой области весьма трудоемкая задача даже для современных компьютеров. Для оценки поведения решения системы уравнений Максвелла в коротковолновой области широко используются асимптотические методы. Наиболее известным асимптотическим методом является приближение геометрической оптики [1]. Приближение геометрической оптики хорошо работает в случае, когда свойства среды слабо меняются на расстояниях сравнимых с длиной волны освещающего пучка. Методы решения задач дифракции на периодических структурах, основанные на точном решении уравнений Максвелла, хорошо известны [2]. Если структура не является периодической, то для решения задач дифракции используются конечно-разностные методы [3] или методы, основанные на решении соответствующих интегральных уравнений [4]. В работах [5-7] рассмотрены асимптотические методы решения волновых уравнений для решения задач дифракции в рамках скалярной теории. В работе [8] представлены методы расчета поля от спиральной фазовой пластинки в рамках параксиальной векторной теории. В работе [9] разработаны методы решения задач дифракции на микрочастицах.
В данной работе рассматривается асимптотический подход к решению широкого класса задач дифракции в рамках электромагнитной теории. Подход основан на синтезе асимптотического метода к расчету поля после ДОЭ, основанного на вычислении интеграла Кирхгофа-Котлера методом стационарной фазы, и решения задач дифракции на квази-периодических структурах внутри ДОЭ. Полученные с использованием данного метода формулы для поля от ДОЭ можно легко интерпретировать в рамках геометрической оптики.
Применение асимптотических методов в физике связано в основном с использованием геометрической оптики [1], квазиклассического приближения в квантовой механике, а также с вычислением интеграла Кирхгофа-Гюйгенса [10] или Кирхгофа-Котлера [11] методом стационарной фазы или методом перевала. Физический смысл подхода в геометрической оптике состоит в замене решения исходной задачи на решение задачи дифракции локальной плоской волны в локально однородной среде или на плоской границе раздела двух сред. Метод перевала и метод стационарной фазы [10-12] также основаны на замене вычисляемого интеграла некоторым эталонным интегралом. Эти методы были положены в основу результатов, изложенных нами в работах [5-7] в рамках скалярной теории дифракции. В настоящей статье предложенный в [5-7] подход обобщен на случай строгой электромагнитной теории.
1. Теория представлений для уравнений Максвелла
В данной работе расчет поля проводится в рамках строгой векторной электромагнитной теории. В декартовой системе координат систему уравнений Максвелла [13] для гармонических по времени полей можно представить в виде i d W k0 dx3
= HW ,
где Н – матричный дифференциальный оператор Гамильтона-Максвелла,
W ( X ) =
E 1
E 2
H 1
, 2п к = — 0 X
1 в = —г
2 к 0 2 L
д / д х 1 д / д х 2
д / д х 1 -д / д х 1 д / д х 1
д / д х 2 -д / д х 2 д / д х 2
H 2
X = ( х 1 , х 2, х 3 ) - декартовы координаты, X - длина волны, E i – поперечные компоненты электрического поля, H i – компоненты магнитного поля.
Для описания электромагнитного поля в случае гармонического изменения поля по времени достаточно четырех компонент электромагнитного поля. Продольные компоненты электрического (и магнитного) поля в случае необходимости можно выразить через поперечные. Представление системы уравнений Максвелла в виде (1) удобно для решения задач дифракции, в которых описывается распространение электромагнитных волн через объекты, имеющие границы в форме параллельных плоскостей. Этим свойством обладают, например, элементы плоской оптики, работающие в оптическом диапазоне.
В дальнейшем четырехкомпонентный вектор W будем называть бивектором, а соответствующее поле – бивекторным электромагнитным полем.
В данной работе используются введенные П. Дираком [14] обозначения для полевых функций, принятые в квантовой механике, в т.ч. 5 -функции. При этом одни и те же символы с разной индексацией могут иметь разный смысл.
Выражение (1) можно рассматривать как операторную запись в абстрактном гильбертовом пространстве бивекторов. В координатном представлении оператор Гамильтона-Максвелла Н имеет следующий вид:
B
A
- 1 д / д х 1
2 к 0 2 д / д х 2
д / д х 1 s 1 0
д / д х 2 0 s - 1
х
-д / д х 1
-д / д х 2
д / д х 1 0 1
д / д х 2 Д- 1 0
а3а1 W J Г* а 2 (| | W J| Vs)
| F ) = а3а2 W JГ* -а1 (I W h II Vs)
-а2 Vs| W J I"' аза1 || WA | I"'
, « 1 ViH W JГ' аза2 || WA |Г’
где к = к 0Vs, || We ||2 = ( а2 +s )( а2 +а32 ) ,
II Wh\ |2 = ( а 32 +s - 1 )( а 2 +а 2 ) ,
а 3 = V1 - ( а 1 ) 2 - ( а 2 ) 2 .
s
0 1Г 0
s 1
- 1
где s - диэлектрическая проницаемость среды, ц = 1.
Представим решение уравнения Максвелла в виде разложения по базису
| W ) = I f nms ( х 3 )| F nms ( х 1 , х 2 )) . (5)
nms
Набор функций { f nms ( х 3 ) } будем называть волновыми функциями бивекторного электромагнитного поля в F -представлении. nms - набор индексов, характеризующий базисную функцию.
Каждому абстрактному оператору Н в данном базисе можно сопоставить многомерную матрицу (или тензор [15]) Hn p m q s l
H I F nms ( х 1 , х 2 )) = I Н £ ( f ) | I ( х 1 , х 2 )) . (6)
nms
В случае, когда набор базисных функций не является счетным, суммирование заменяется интегрированием. Система уравнений Максвелла в F -представлении записывается в виде:
nms т f = I НП (х3) fpql (х3). (7)
к д х 3 pqi
Выберем в качестве системы линейно независимых решений набор функций, представляющих собой плоские волны. В этом случае решение представляется в виде:
да да
IW) = ЕП f “1“2z (х3 )| F.^s (х1, х2)) d«1 d«2, (8) s -да -да где а1,а2 - пространственные частоты.
Базисные векторы запишем в виде матрицы
| F a 1 a 2 ( х 1 , х 2 )) = | F a 1 a 2 )' exP ( Тк ( а 1 х 1 + а 2 х 2 ) ) , (9)
-а 3 а 1 | W J Г’ а 2 (| I W JI Vs)
-
-а 3 а 2 H W J Г’ - а 1 (I W JI Vs )
-
-а2 VI | W J Г' -а3а1 | WA | I"'
U 1 vs I W IГ1 -а 3 а 2 | W6 |Г1 ,
Первый столбец матрицы описывает ТЕ-волну с пространственными частотами ю 1 , ® 2, распространяющуюся в положительном направлении. Второй столбец описывает ТМ-волну с пространственными частотами ю 1 , ® 2, распространяющуюся в положительном направлении. Третий столбец описывает ТЕ-волну с пространственными частотами ю 1 , ® 2,
распространяющуюся в отрицательном направлении. Четвертый столбец описывает ТМ-волну с пространственными частотами © 1 , © 2 , распространяющуюся в отрицательном направлении. В предельном случае, когда а , = a 2 = 0, будем использовать мат-
рицу следующего вида:
-1

Vs +1
-Vs

1 0 '
0 1
0 Vs
—Vs 07
Г a1a3 a2 0 0 ^ |
||
II W 1II vsi| W 2|| |
||
a 2 a 3 —a 1 A A |
||
V,„ = |
II W 1II vsi| W 2|| |
. (18) |
0 0 —a 2 Vs —a 1 a 3 |
||
II W 3II II W .11 |
||
_ _ a. Vs —a.a; |
||
0 0 1 —2—3 |
||
I II W 3II II W .11 7 |
Этот случай описывает волны, распространяющиеся перпендикулярно диэлектрическому слою.
Для того, чтобы записать систему уравнений Максвелла в пространственно-частотном представлении, необходимо найти матричные элементы оператора Н в пространственно-частотном представлении.
Матричные элементы оператора Н имеют вид:
Ha"^1 = Pm (©. ,©2 ) FFmK т \f У (12)
а , а 2 s rm 1 2 a j a 2 a j a 2 □
m
где Pm n - матрица, обратная к матрице парных скалярных произведений базисных векторов (10),
G © 1 ©2 = a^ 2
a 1 a 2
> ©1 © 2 a 1 a 2
A © 1 © 2
a 1 a 2
= s (©1 — a1, ©2 — a 2) Q —
—6(©1 — a1, ©2 — a2)
> © 1 © 2 a 1 a 2
— 1 0
= —6 (“| — a1, ©2 — a2) Q —
—s(©1 — a1, ©2 —a 2)
Q =
— 1 0
s ( © 1 , © 2 ) - преобразование Фурье от распределения диэлектрической проницаемости.
Система уравнений Максвелла в пространственно-частотном представлении имеет вид системы интегро-дифференциальных уравнений
i d f
k d x 3
+» +»
= SJ J H уm ( x 3 ) f a 1 a 2 m ( x 3 ) d a 1 d a 2 m —»—»
Для многих задач вместо базиса, состоящего из волн различной поляризации, распространяющихся в различных направлениях, удобно использовать следующий базис
где || W i |I, i = 1,2,3,4 - нормировочные коэффициенты, обеспечивающие нормировку введенного базиса.
2. Решение эталонной задачи
Предварительно рассмотрим задачу дифракции света на эталонном ДОЭ. Модельный ДОЭ должен сочетать в себе функции расщепителя пучка (дифракционной решетки) и при этом обладать фокусирующими свойствами. Такая модель позволяет охватить достаточно широкий класс существующих ДОЭ.
Для модельного расчета можно выбрать ДОЭ, расположенный перпендикулярно оси x 3 в области 0 < x 3 < D (рис. 1).

Диэлектрическая проницаемость в области эталонного ДОЭ имеет вид
s ( x 1 , x 2 ) = Z g n exp ( ik ng ( x 1 , x 2 ) ) , (19)
n где x = (x1, x2) - декартовые координаты в плоскости оптического элемента, D – толщина диэлектрического слоя, n - целое число, x0 - точка на оптическом элементе в окрестности которой ищется поле. Функция g (x1, x2) имеет смысл функции эйконала для геометрооптического фокусатора [16-18].
Пусть функция g ( x 1 , x 2 ) является квадратичной формой
g ( x 1 , x 2 ) = g ( x 0 ) + ( V g ( x 0 )( x - x 0 ) ) +
1 M +—( x
- x o ) T M ( x o )( x - x o ) ,
D mm 2 ( © 1 , © 2 ) =
ik
•
ik
•
а матрица M имеет вид:
M =
a
c
c b
Для того чтобы решить задачу необходимо найти решение внутри ДОЭ (внутри диэлектрического слоя) и в свободном пространстве, удовлетворяющее условию непрерывности на границах раздела ДОЭ и окружающей среды.
2.1. Решение в диэлектрическом слое
Для получения решения внутри диэлектрического слоя в окрестности точки x 0 = ( ( x 0 ) 1, ( x 0 ) 2 ) введем новые координаты у = ( y 1 , у 2 ) :
x1 - ( x 0 ) 1 cos ( 9 ) - sin ( 9 ) Г у1
Х 2 - ( x 0 ) 2 J L sin ( 9 ) cos ( 9 ) JL У 2
В этих координатах функция g ( x1, x 2 ) имеет вид:
g ( У 1 , У 2 ) = g 0 ( 0, ° ) + Y T ( у ) + 2 ( у ) T M 1 ( y ) > (22)
где матрица M 1 имеет диагональный вид:
M 1 = ZTMZ =
P i
в
cos ( 9 ) - sin ( 9 ) sin ( 9 ) cos ( 9 )
Угол 9 выбирается таким образом, чтобы матрица M 1 = ZTMZ была диагональной.
Запишем Фурье-образ диэлектрической проницаемости
£ ( © 1 , © 2 ) = Е g m ex P ( ikmg ( 0,0 ) ) х m (24)
х Dmm ( © 1 - m Y 1 , © 2 - m Y 2 ) ,
£ - 1 ( © 1 , © 2 ) = E g m 1 exp ( ikmg ( 0,0 ) ) X m (25)
X Dmm ( © 1 - m Y 1 , © 2 - m Y 2 ) ,
Y 1 и y 2 связаны с производными функции g ( x 1, x 2 ) в исходной системе координат следующим образом
5 g ( x p x 2 ) d x 1
d g ( x 1 , x 2 ) d x 2
cos ( 9 ) - sin ( 9 ) y 1 sin ( 9 ) cos ( 9 ) y 2
• exp
г г
- ik
2 п т Д 2 п m2 в 2
( © 1 ) 2 , ( © 2 ) 2 2 m^ 2 m 2 P 2
.
Связь поля в координатном и пространственно-частотном представлении имеет вид, аналогичный (8):
I W ( У1, У2 )) = да да
= EJJ f W ( x 3 )| Fw)
(28a)
s -да -да x exp (ik (a1 y1 +a2 у 2)) d a1 d a2.
Найдем матричные элементы оператора Гамильтона-Максвелла в пространственно-частотном представлении (13). Оператор Гамильтона-Максвелла для распределения диэлектрической проницаемости (24)-(25) имеет вид (12), где
G ©© = E Gn 1 ( © 1 , © 2 , a 1 , a 2 )X
n 1
X D-v, ( © 1 - n 1 Y 1 -a 1 , © 2
n 1 Y 2
a 2 ) ,
G n ( © 1 , © 2 , a 1 , a 2 ) =
0 A n ( © 1 , © 2 , a 1 , a 2 )
_ В„_ ( © 1 , © 2 , a 1 , a 2 ) 0
.
где
A n-, ( © 1 , © 2 , a 1 , a 2 ) = g -' exP ( ik n 1 g 0 ( 0,0 ) ) X
X
-I
-
■ a 2 a 1
■ a 2 a 1 _
5 П 1
-
1 0 ’
-® n 1 (© 1 ’© 2 , a 1 , a 2 ) 5 n 1
- g ^exP ( ikn1 g ( 0 , 0 ) )
-
.
-
-
- ©2
-
Двумерные матрицы, входящие в (13), представляются в виде:
a 1 a 2
= Е Лч (©1, ©2, a1, a2 )X n1
X D n 1 n 1 ( © 1 - n 1 Y 1 -a 1 , © 2
n 1 Y 2 -a 2 ) ,
B©a© =E Bn1 (©1, ©2, a1, a2 )X n1
X D nn ( © 1 - n 1 Y 1 -a 1 , © 2 - n 1 Y 2 -a 2 ) .
Запишем матричные элементы оператора Гамильтона-Максвелла в пространственно-частотном базисе (18)
H2n^n =yM©1©2n|G 0) a a \x a1a2 s / i \ -1 V 1, 2, 1, 2 / a1a2 s / n1 (34)
X D n 1 n 1 ( © 1 - n 1 Y 1 - a 1 , © 2 - n 1 Y 2 - a 2 ) .
Решение системы уравнений Максвелла в пространственно-частотном представлении запишем в виде:
v a 1 a 2 l ( x3 ) =
= £ v s , s 2 l ( x 3 ) D i s 2 ( a , - s 1 Y 1 -y a 2 - s 2 y 2 -^ 2 ) , (35) s 1 s 2
§ , , c 2 - произвольные постоянные, описывающие наклон падающей волны по отношению к локальной решетке.
Подставляем выражения в исходную систему интегро-дифференциальных уравнений Максвелла в пространственно-частотном представлении (17), получаем систему дифференциальных уравнений i _dvm m2l (x3)
7 E---л----Dmm (to - m,Yi - k m,m2 Оx3 1 2
-^L to 2 - m 2 Y 2 -7 ) =
+w +^
=ш / 'V ' ^( to , , ® 2 , a , , a 2 )| V^ q ) X (36) s , s 2 n 1 q -ю-то
Xvs,s2q (X3)Dss2 (a, -s,y, -^,a2 -s2Y2 -§2)x xDnn (to, -n,y, -a,,to2 -n,y2 -a2)da,da2.
Вычислим интеграл в правой части (36) методом стационарной фазы [10-12].
Получим:
i к ^
m 1 m 2
d v m , m 2 1 ( x 3 )
----------- X dx3
X D m , m 2 ( to - m Yl -У to - m 2 Y 2 - § 2 ) =
= Уy(vtoto2l\G„ (to,,to2,as,asllv, , V nV , , 2, , , 2/| a,s a 2 q/ s s2n q xvss2q (x3)x D (to, - (n, + s,)y, -
3 s , + n , s 2 + n 2 , i i i
-7 , to 2 - ( n , + s 2) y 2 -7 ) ,
где стационарные точки a. = § toV-SJi., n, + s, a2 = c2 +
( to 2 2 ) s 2 n , + s 2
Введем новые обозначения для индексов суммирования в правой части (37)
m , = n , + s , , m 2 = n , + s 2.
Тогда в этой новой индексации i dvm,m21 (x3)
— 7 ----—- X кchc m m2
X D m , m 2 ( to - m Y1 -^ , , to 2 - m 2 Y 2 "^ 2 ) =
= EEV'to"‘llG-. (to,to2.a:.«'2)|V.,.„)x(38)
m m 2 n q
X v m , - n , m 2 - n , q ( x 3 ) x
XDm,m2 (to - m, Y1 -^, , to2 - m2 Y2 -^2 ) , и стационарные точки s (to,-M( m, - n, )
al 4i + ,
m s (to2 -^2 )( m 2 - n, )
a 2 = c2 + -------—--------.
m 2
Основной вклад в результат вносит функция
D m , m 2 ( to - m , Y , -^ , , to 2 - m 2 Y 2 - § 2 )
в окрестности точек to, = m, Y,+§,, to2 = m 2 y2 +§2.
Заменим в выражении для стационарных точек to , , to 2 этими значениями.
Далее будем использовать стационарные точки as =§, +Y, (m, - n,), a2 = §2 + Y2 (m2 - n,).
Эта замена при малых длинах волн не влияет на точность вычисления интеграла методом стационарной фазы.
Уравнение (38) является функциональным уравнением, так как в него входит зависимость от to , , to 2.
Перейдем от дифференциально-функционального уравнения к системе обыкновенных дифференциальных уравнений. Для этого выберем систему линейно-независимых функций Kmn ( to , , to 2 ) .
Умножим (38) на каждую из базисных функций и в результате получим систему обыкновенных дифференциальных уравнений для коэффициен- mml тов v m 1 m 2 .
Бивекторное поле внутри диэлектрического слоя имеет вид:
I W 2aa ( x 3 )) = v a,a2 - ( x 3 )| V ^2,) +
+ v a , a 2 2 ( x 3 )| Va^ +
+ v aia 2 3 ( x 3 )| V aia 23) +
+ v aia 2 4 ( x 3 )| '
где v a,“2 ‘ ( x 3 ) описывается выражением (35).
-
2.2. Распространение в свободном пространстве
В пространстве с постоянной диэлектрической проницаемостью в плоскости x 3 = 0 решение системы уравнений Максвелла в пространственно-частотном F -представлении запишем в виде:
/ ; ^2 l ( x 3 ) =
= E f is , s 2 l ( 0 ) D s „2 ( a , - s , Y , - (40)
s 1 s 2
-§,, a2 - s2y2 -§2) exp (±ika3x3), a3
= ^! - a , - a 2
Знак «+» берется для 1 = 1,2; знак «-» берется, если 1 = 3,4.
Введем следующие обозначения:
-
• область 1 - область, в которой распространяется падающая и отраженная волны (обозначим I -падающая волна, соответствующая ТМ-поляри-зации, и R – падающая волна, соответствующая ТЕ-поляризации);
-
• f wi = i «№ h — коэффициент, описывающий па-
- дающую волну, соответствующую ТМ-поляри-зации. Соответствующий набор коэффициентов
f « 1 s 21 = I s s 2 e .
-
• f «ч^2 = i «м e — коэффициент, описывающий падающую волну, соответствующую ТЕ-поляри-зации. Соответствующий набор коэффициентов fi s i s 2 2 = I s 1 s 2 h ;
-
• f «m3 = r ; x ; 2 h — коэффициент, описывающий отраженную волну, соответствующую ТМ-поляри-зации. Соответствующий набор коэффициентов f1 s1S 2 3 = R 1 2 e ;
-
• f «aR = r ;; 2 e — коэффициент, описывающий от-
- раженную волну, соответствующую ТЕ-поляри-зации. Соответствующий набор коэффициентов f sis24 = Rss2h;
-
• область 2 - область, содержащая диэлектрический слой с плоскими границами;
-
• область 3 - область, в которой распространяется прошедшая волна;
-
• f “А2 1 = т »»2 e — коэффициент, описывающий прошедшую волну, соответствующую ТМ-поляриза-ции. Соответствующий набор коэффициентов f ' s 2 1 = J5 !s 2 e ;
-
• f 3 ^2 2 = y 3 ;; - e — коэффициент, описывающий прошедшую волну, соответствующую ТЕ-поляризации. Соответствующий набор коэффициентов f ' s 2 2 = J s 1 s 2 h
Бивекторное поле в первой области имеет вид:
| W ( % 3 )} = I a 1 a 2 h ( % 3 )| F ^) +
+ 1 e ( % 3 )| F <,<-) +
+ R -*1 " 2 h ( % 3 )| F ^) +
+ R e ( % 3 )| F ^}.
Бивекторное поле в третьей области имеет вид:
I W ( % 3 )} = T a1a 2 h ( % 3 )| F „ 1 „ 2 1) +
+ T e ( % 3 )| F ^}.
Используя (40) и введенные выше обозначения для коэффициентов, получаем выражение для поля в пространственно-частотном представлении.
-
2.3. Сшивка решений
В предыдущих пунктах были записаны решения системы уравнений Максвелла в пространственночастотном представлении в области диэлектрического слоя и в области свободного пространства в виде линейной комбинации с неизвестными коэффициентами. В настоящем пункте рассмотрим решение задачи дифракции плоской волны на диэлектрическом слое с диэлектрической проницаемостью s , представленной в форме (19).
Условие сшивки на первой границе – равенство бивекторных полей на границе раздела
W " 1 " 2 ( 0 ) = W 2 « •" ( 0 ) . (43)
Условие сшивки на второй границе - аналогично (43):
W ! ; - “ 2 ( D ) = W3a^ ( D ) , (44)
где D – толщина диэлектрического слоя.
Эти условия служат для определения коэффициентов T “ 1“2 e , T “ 1 “ 2 h , R “ 1 “ 2 e , R “^ h . Таким образом, сшивка приводит к системе линейных алгебраических уравнений.
-
3. Коротковолновые асимптотики
-
3.1. Поле внутри слоя модуляции ДОЭ
-
Рассмотрим теперь случай, когда длина волны освещающего пучка стремится к нулю (коротковолновая асимптотика). В этом случае
Dm-,m 2 ( ^ 1 , ® 2 ) = § ( Ю 1 , Ю 2 ) . (45)
Используя линейную независимость 5 -функций, получаем следующую систему линейных дифференциальных уравнений:
£ dvm1 m 21 (% 3) = k d% 3
= z V ■"'■■ ’ | ^ ;. (» 0 » 0 , «г , «?)| V ., - . ?.) - ( 4 6)
n 1 q
■ vm1-n1m2-n1q (%3), где as' =^i +Y1 (m1 - n1), a2 = ^2 +Y2 (m2 - n1), to° = mY +§1, ro° = mгy2 +^2.
Запишем систему уравнений только для под- множества индексов m1 = m2.
£ dvmm11 (% 3) = k d%3
= Z Vv ’■’■ ' I G .J» ; » ; , « st , « 2 t )| V;., ,, ,) ■ (47)
n 1 q
■ vm1-nm1-n1q (%3 ), где
a?' = ^, +Yi (mi - n), a2 = ^ + Y2 (m 1 — n),ю0 = m 1Y1 + £p to2 = miY2 + ^-
Далее введем новые индексы суммирования
P i = m 1 - n i :
i Svm11 (x3) = k dx3 (48)
= ZV*°1 \ Gm1-p Ж,af,«2)| Vs^q) • vPq(X3), p1 q где as' =^1+Y1 P1, a2' = ^2 + Y2P1, Ю0 = m1Y1 +^1, Ю0 = mW2 +^2-
Обозначим
Y 1 = Y cos ф , Y 2 = Y sin ф -
Легко показать, что справедливы тождества
^ + y cos ф p 1 cos 9 - sin 9 ^ + y p 1
c 2 + y sin ф p 1 [ sin 9 cos 9_| c 2
cos 9 sin 9 ^ + y cos ф m1 ^ + y cos ф m1 - sin 9 cos 9 q 2 + Y sin ф p 1 ^ 2 + y sin ф p 1
-^ 2 -у sin ф p 1 ^ +y cos ф p 1 cos 9 - sin 9
-^ 2 - y sin ф p 1 q 2 +y cos ф p 1 sin 9 cos 9
^ 1 +y m
-
^ 1 + Y P 1
-
Ч2 1 1 + Y P 1 .-1 2 1 1 +Y P 1
Структура оператора Гамильтона-Максвелла такова, что отличны от нуля только следующие восемь матричных элементов
H P 1 1 - = V 61 62 | ^ m 1 - p 1 ((0 1 , (0 2 , Ct. 1 , St 2 )| V a 1 ,j 2-^ >
H m1* V 6 162 p m 1 - P 1 (to 1 , •”2 , a 1 ,•^ 2 )| V a 1 a , 4) ’ H m- = ( V 6 1 6 2 p m 1 - P 1 (C O 1 , •”2 , с5 1 , с5 2 )| V a 1,223^ , H^ = ^y to to 2| Ami - P 1 ( to 1 , to 2 , a 1 , a 2 )| V a 1 a 24^ , (52)
H m;? = V 6 1 6 2 3| Bmi- P 1 ( to 1 , to 2 , a 1 , a 2 )| V a 1 a 2 1) , Н а2 = V 6 1 6 2 B B - _ P 1 (to 1 , to 2 , a, 1 , a 2)| V a 1( . 2 2) , H^ = ( V 6 1 6 2 4| Bm 1 - P 1 ( to 1 , to 2 , a 1 , a 2 )| V da 2 1) , H Pm 1^ = yV toto 4| B m - ^ 1 , 6 2 , a 1 , a 2 )| V a 1 6 2 2) .
В последних выражениях использовались ненулевые компоненты соответствующих четырехмерных векторов.
Система распадается на две системы уравнений:
i dvm11 (x3) = k dx 3 (53)
Z Z ну (x3 ) = ZZ АУ (x3).
P 1 q = 3,4 P 1 q = 3,4
Используя эти тождества, можно доказать соот- ношение l=1, 2, toPtoP /,^0 ,^0 ?' s.St
V V |G m - p 1 (to 1 , to 2 , a 1 , a 2
Vst st a as q
11, ю 2, a 1, a 2

i dvml (x3) = k dx 3
= ZZ H my1q ( x 3 ) = ZZ B mql v "4 ( x 3 ) , P 1 q = 1,2 P 1 q = 1,2
a 1 =^ 1 +Y 1 P 1 , a 2 =^ 2 , to 1 = m ^ +1 1 , (0 2 =1 2 -
Следует отметить, что матричные элементы в правой части (49) соответствуют задаче конической дифракции [19] на одномерной периодической решетке.
Для дальнейшего анализа запишем уравнение в виде:
m1l iv = H^ (x-)■ (50)
k dXo l=3, 4.
Полученные системы можно свести к системам уравнений второго порядка. При этом вдвое сокращается размерность системы уравнений:
J_ d2vm11 (x3 ) k2 d(x3)2
= Mm‘vn ( x 3 ) ,
vs11 (x3 ) = Z Emn (a + mn exp (ik^mnx3 ) + mn где
H ml = p 1 q
ю 1 ■ ю 2, a 1, a 2
(5 )
+ a - mn exp ( - ik Ц mn ( x 3 - D ) ) ) ,
Z MnlEPn =^2P„EPqn, nl ml ml pq ns z z ^ Pq ns , P q=3,4
l =1, 2,
d 2 v m1 1 ( X 3 ) k2 д ( x з ) 2
= On ( X 3 ) ,
v s 1 l ( x 3 ) = E P^ ( a + "’ exp ( ik Ц mn x 3 ) + mn
+ a - mn exp ( - ik ц mn ( x 3 - D ) ) ) ,
EMsqPpl = U2 Psq pl mn цmn mn , pl
Nm = v^ у Bm Apq ns pq ns , p q=1,2
l =3, 4,
D - толщина диэлектрического слоя.
В случае, когда плоская волна падает перпендикулярно к плоскости дифракционного оптического элемента, или радиально-симметричная волна падает на радиально-симметричный оптический элемент, имеем частный случай | , = 0. В этом случае уравнения для коэффициентов, описывающих распространение поля внутри слоя, имеют вид:
R a 1 a 2 e ( x 3 ) =
= ERse5(at - sY1 -^1, a 2 - sy2 -^2 )x s1
x exp ( - ik a 3 x 3
R " h ( x 3 ) =
= ERs5 («1 - sY1 - ^, «2 - sY2 - ^2 ) x s1
x exp ( - ik a 3 x 3 ) .
Для прошедшего поля
Ta1«2e (x3 ) = ETse5(«1 -s1Y1 - s1
-
-^ 15 a 2 - s 1 Y 2 -^ 2 ) exp ( ik a 3 ( x 3 - D ) ) ,
Ta1a2h (x3) = ETsh5(a1 -s1Y1 - s1
-
-^ 15 a 2 - s 1 Y 2 -^ 2 ) exp ( ik a 3 ( x 3 - D ) ) .
3.3. Условия сшивки полей
),
i д v m11 ( X 3 )
к д x 3
= a ; ; 1 v p13 ( x 3 ) ,
i д vm12 (xj , s к дZ 3 = Am4vp14 (x3), (58)
Условие непрерывности электрического и магнитного полей приводит к формулам для расчета локальных коэффициентов отражения и пропускания:
v s1k ( 0 ) = Ph ( 0 ) ( Г a 1 a 2 k|| F a 1 a 21) +
i д vm13 (xj 3 X к Л = Ami3 vp11 (x3), (59)
+ IsE ( 0 ) V a 1 a 2 k||F a 1 a 22) +
+ R s 1 h ( 0 )( Г a 1 a 2 k\\ F^ +
+ R s 1 e ( 0 ) ( Г k||F a 1 a 24) ,
i д v m 1 4 ( x 3 ) к д z
= A m4 v p12 ( x 3 ) .
v sk ( D ) = T 1 ( D ) V aa2 k|| F aa 21) +
+ T s 1 k ( D ) V
a] a2 k

При стремлении длины волны освещающего пучка к нулю выражение для поля внутри слоя имеет вид:
v “'“ 2 l ( x 3 ) =
= E vs 1 l ( x 3 ) 3 ( a - s 1 Y 1 -^ , ° 2 - s ^2 Л ) .
s 1
где a, = s 1 y + § 1, a 2 = s ! Y + ^ 2 -
Нетрудно показать, что преобразование поворота не изменяет скалярное произведение a1a2 k
II f \ = V a1a 2 k\U \ a1a2 s / \ a 1OL2 s / где a 1 = s1Y + ^1, a2 = sfy + ^2-
Следует отметить, что полученная система линейных уравнений совпадает с системой уравнений для определения коэффициентов дифракционной решетки в случае конической дифракции [2, 19].
3.4. Поле на выходе оптического элемента в случае ^ 2 = 0
В случае, когда плоская волна падает перпендикулярно к плоскости дифракционного оптического элемента, или радиально-симметричная волна падает на радиально-симметричный оптический элемент, имеем частный случай j|2 = 0. Учитывая формулы (28a), поле на выходе ДОЭ в пространственном представлении в переменных y 1, y 2 имеет вид:
W =
= ( f f r '"2 ' ( x )| F A + Г h ( x )| 1= ,)(x (64)
111 \ 3 / aj 02 1 / у 3 / ULj 02 2/1 x /
—x> —x> xexp( ik (a1 y1 + a2 y 2) x3) d a1 d a2, где F a2 m) — базисные вектора F-представления.
Коэффициенты T s 1 e , T s 1 h , входящие в выражения (62), для случая . 2 = 0 имеют вид:
Г 1 e = а ( 0,0 ) T h 1 ( 0,0 ) ; Г 1 = b ( 0,0 ) T 1 ( 0,0 ) .
Коэффициент а ( 0,0 ) описывает вклад падающей волны в случае, когда направление электрического поля совпадает с направлением штрихов локальной дифракционной решетки.
Коэффициент b ( 0,0 ) описывает вклад падающей волны в случае, когда направление магнитного поля совпадает с направлением штрихов локальной дифракционной решетки. T h 1 ( 0,0 ) , Г 1 ( 0,0 ) - коэффициенты дифракции в s 1 порядке для случая, когда направление магнитного и электрического (соответственно) поля параллельно штрихам дифракционной решетки.
Вычисляем интеграл в выражении (64), получаем поле в пространственном представлении в переменных y 1, y 2
| W ( у )) = £ а ( 0, О ) Г;( 0,0 )| F^^ „ 1 + , 21 n 1
x exp ( ikn g ( 0,0 ) ) exp ( ik Y у n 1 ) +
+Z b (0,0) Г (0.0)1 F+„„+U x n1
x exp ( ikn g ( 0,0 ) ) exp ( ik Y у n 1 ) .
Теперь необходимо перейти от координат y 1, y 2 к координатам x 1, x 2. Этот переход осуществляется с помощью преобразования вращения. Поле в точке x 0
I W ( X 0 )) =
= 2 а ( 0, 0 ) Th' ( 0, 0 ) Zz| F .+„1„+t,) x n 1
x exp ( ikn g ( 0,0 ) ) + (66)
+ 2 b ( 0 , 0 ) T,' ( 0 , 0 ) ZZ|F .+,, , „+. ,,) x n 1
x exp ( ikn 1 g ( 0,0 ) ) .
Матрица ZZ имеет вид
ZZ =
Z
Z
Напомним, что матрица Z имеет вид (23).
Для получения окончательного результата определим a и b , которые описывают падающую волну.
Бивектор электромагнитного поля падающей волны в плоскости x3 = 0 в координатах ( у 1 , у 2 ) , когда исходная электромагнитная волна падает перпендикулярно модулированной дифракционной решетке и вектор поляризации направлен вдоль оси x 2 , имеет вид:
W ( 0,0 ) = ( а ( X )| F ) + b ( Х 0 )| F 2 )) , (67)
где a3 cosф|I We||—1
| F\ = a3sin ф| | We i Г1
1 - Sin фд/Ё|| We |I"’
Ч cos ф-x/s 11 W e ll 1 ?
sin ф(| | Wh || Vs)
। F^ = - cos ф (| W h U Vs ) Оз cos ф|| Wh||-1
ч Оз sin ф|| Wh||-1
Y, ф = arctg—.
Y 1
Базисные вектора выбраны таким образом, чтобы электрическое поле в первом базисном бивекторе и магнитное поле во втором базисном бивекторе были направлены вдоль штрихов локальной дифракционной решетки.
Поле (67) в координатах ( x 1 , x 2 ) описывается выражением
W ( X 0 ) = ZZ ( а ( X 0 )| Fh) + b ( X 0 )| F 2) ) , (69)
ZZ F 1
ZZ F 2
a 3 cos to || We || 1 a 3 sin to|| W e IГ' - sin toVs 11 We || * cos toVs| I We || 1 ^
sin to (| I W h ll Vs) - cos to ( I W h ll Vs ) a 3cos to|| Wh || 1
^ a 3 sin to| I Wh||'
to = ф + 0 .
Бивектор, описывающий подающую волну в случае, когда она нормально падает на элемент, имеет вид:
W =
Vs
Для определения a и b необходимо решить систему линейных алгебраических уравнений
o " |
- cos to |
- sin to |
||
1 |
= a |
- sin to |
+ b |
cos to |
vs |
sin to Vs |
- cos to Vs |
||
o _ |
- cos toVs |
- sin to Vs |
В этом случае a = -V2sin(ф + 9), b = V2cos(ф + 9)
и окончательное выражение для электромагнитного поля на выходе модулированной дифракционной решетки имеет вид:
I W ( X o )) =
= 2 S ZZ ( - sin ( ф + 9 ) T n ( X o )| F . hnv;h „ 1 ,1) + (73)
n 1
+ cos (ф + 9)Tn (xo )| FY1 „1Л2„1.2)) exp (i4 g (xo )) , где Ten1 = Ten1 (Xo) - Th' = T„ (Xo) - - коэффициенты дифракции на локальной решетке для Е- и Н-поля-ризации, соответственно. В случае, когда вектор поляризации направлен вдоль оси x1:
и выражение для поля принимает вид:
I W ( X o )> =
= -V2 £ ZZ ( cos ( ф + 9 ) T „ ( X o )| F^ „ 1 -1) + (76)
n 1
+ sin ( ф + 9 ) T n 1 ( X o ) | F Y 1 „ 1 , Y 2 „ 1 ,2 )) exp ( ik „x g ( X o ) ) .
-
4. Асимптотики
-
5. Расчет поля фокусатора в кольцо
для псевдопериодических структур в рамках электромагнитной теории
В данном пункте рассмотрим применение вышеизложенных методов для расчета поля в случае дифракции волны на ДОЭ, которые обладают зонной структурой. В предыдущем разделе мы рассматривали дифракцию на модельном ДОЭ. Рас- смотрим теперь диэлектрический слой с диэлектрической проницаемостью, которая описывается выражением (19). Случай, когда функция g (x1, x2) является линейной, будет соответствовать чисто периодической структуре (дифракционной решетке). В случае, когда функция g (x,, x2) не является линейной, получаем дифракционную структуру с изменяющимся периодом.
Для того чтобы воспользоваться результатами предыдущего раздела, сделаем предположение о том, что поле в данной точке зависит от распределения диэлектрической проницаемости только в окрестности данной точки. Это предположение основано на принципе локализации, который рассмотрен выше. Далее разложим функцию g ( x , , x 2 ) в окрестности точки X o в ряд Тейлора с точностью до членов второго порядка.
Полученное выражение по форме совпадает с выражением для поля на выходе дифракционного оптического элемента, полученного в рамках метода нелинейного предыскажения фазы, рассмотренного в работах [16, 17]. Оно также объясняет возможность использования приближения тонкого оптического элемента. Отличие состоит в том, что коэффициенты T „ = T „ ( X o ) и T „ = T „ ( X o ) имеют другой физический смысл. Напомним, что в методе предыскажения коэффициент Te „ ' = Te „ ' ( X o ) = T „ = T „ ( X o ) совпадал с коэффициентом разложения в ряд Фурье функции предыскажения. В нашем случае он определяется согласно методу, изложенному в предыдущем разделе настоящей работы.
Рассмотрим поле от фокусатора в кольцо. В этом случае функция g ( r ) имеет вид:
g ( r ) =V ( r - ro ) 2 + f 2, r = V x 2 + x 2 , (77)
r o - радиус кольца фокусировки.
По аналогии с (76) следует, что электромагнитное поле на выходе дифракционного оптического элемента, фокусирующего в кольцо, имеет вид:
| W ( X 1- x 2 )) =
Г r2
= V2exp l-| S ZZ ( T h„ F-„ o' + (78)
X ) „
+ Te„|F Y „ o2) ) exP ( ik „g ( r ) ) ,
dg (r)
Y = "
d r
Были проведены расчеты распределения интенсивности электромагнитного излучения в фокальной плоскости фокусатора в кольцо для различных сочетаний параметров системы.
Вычисление поля проводилось на основе распределения поля на выходе ДОЭ (78) с помощью пропагатора, описанного в работе [13].
На рис. 2 приведены примеры расчета полей от фокусатора в кольцо для значений, указанных в табл. 1 (все размеры в мкм). При малых отношениях σ / f , где σ – параметр освещающего гауссова пучка, распределение интенсивности в фокальной плоскости фокусатора в кольцо близко к распределениям интенсивности, полученным в работах [18,20,21] в рамках скалярного приближения. В этом случае распределение энергии практически радиальносимметрично. При увеличении фокусного расстояния степень симметричности увеличивается. При увеличении отношения σ / f в распределении энергии вдоль кольца появляется асимметричность. Наличие асимметричности связано со следующими факторами:
-
• наличие линейной поляризации у падающей волны нарушает радиальную симметрию задачи, так как в разных точках фокальной плоскости электрические поля от различных точек на фоку-саторе приходят под разными углами;
-
• при увеличении отношения σ/ f появляется зависимость коэффициентов дифракции от направления локальной дифракционной решетки в случае линейной поляризации падающей волны.
Неравномерность интенсивности излучения в плоскости наблюдения на выходе из фокусатора в кольцо обусловлена неравномерностью значений коэффициентов пропускания (отражения) Е - и Н -поля-ризации в зависимости от текущего значения периода зонной структуры (дифракционной решетки).
Заключение
В данной статье представлен асимптотический метод решения задач дифракции на ДОЭ, который сочетает в себе решение задачи дифракции на периодической структуре с периодом сравнимым с длиной волны и геометрооптический подход. Решена задача дифракции на эталонной квазипериодиче-ской структуре, сочетающей в себе функции расщепителя пучка и дифракционной линзы. На основе решения эталонной задачи получено простое выражение для поля в плоскости, непосредственно прилегающей к ДОЭ. Полученное выражение позволяет оценить распределение поля на выходе ДОЭ, не прибегая к сложным вычислительным методам.
Работа выполнена при поддержке грантов РФФИ 07-07-97601, 07-07-96602, 08-07-99005, 07-07-91580-АСП, а также российско-американской программы «Фундаментальные исследования и высшее образование» (“BRHE”).
Таблица 1
Параметр |
Значение (вариант 1), мкм |
Значение (вариант 2), мкм |
Длина волны λ |
1 |
0,1 |
Параметр гауссова пучка σ |
50 |
50 |
Расстояние от оптического элемента до плоскости наблюдения |
1000 |
100 |
Фокусное расстояние |
1000 |
100 |
Габаритные размеры оптического элемента |
500×500 |
500×500 |

Рис. 2. Рассчитанные распределения интенсивности поля в фокальных плоскостях фокусаторов в кольцо с параметрами, приведенными в Табл. 1 (вариант 1 – слева; вариант 2 – справа).