Численное моделирование скользящего разряда как источника ионов для элементного масс-спектрометрического анализа диэлектриков
Автор: Курнин И.В.
Журнал: Научное приборостроение @nauchnoe-priborostroenie
Рубрика: Исследования, приборы, модели и методы анализа
Статья в выпуске: 4 т.16, 2006 года.
Бесплатный доступ
На основе двухтемпературного лагранжевого гидродинамического кода, предложена численная модель, описывающая развитие скользящего разряда инициируемого на поверхности диэлектрика. Проведено численное моделирование экспериментальных условий. Сравнение расчетного ионного состава разрядной плазмы показывает хорошее согласие с экспериментальными данными. На основе результатов численного моделирования рассматриваются пути оптимизации скользящего разряда как источника ионов для элементного масс-спектрометрического анализа диэлектриков.
Короткий адрес: https://sciup.org/14264461
IDR: 14264461
