Детектирующая тестовая последовательность для магистральных структур в системах с оперативной памятью
Автор: Гаврилин Борис Николаевич, Выборное Петр Владимирович
Статья в выпуске: 23 (240), 2011 года.
Бесплатный доступ
Предлагается тестовая последовательность обнаружения и разделения неисправных состояний подсистемы «магистраль - внешняя память» вычислительного ядра БЦВМ. Сжато излагаются также некоторые новые подходы и принципы, использованные при построении алгоритма диагноза.
Тестовая последовательность, диагностика отказов, оперативная память
Короткий адрес: https://sciup.org/147154756
IDR: 147154756
Список литературы Детектирующая тестовая последовательность для магистральных структур в системах с оперативной памятью
- Уильямс, Г.Б. Отладка микропроцессорных систем/Г.Б. Уильямс. -М.: Энергоатомиздат, 1988. -С. 49.
- Van de Goor, A.J. Testing semiconductor memories: Theory and practice/A.J. van de Goor. -Chichester: J. Wiley & Sons, UK, 1991.
- Выборное, П.В. О подходах к составлению диагностических тестов вычислительного ядра БЦВМ/П.В. Выборнов, Б.Н. Гаврилин//Вопросы оборонной техники. -2010. -Серия 9. -№ 1
- Feng, C. A new diagnosis approach for short faults in interconnects/C. Feng, W.K. Huang, F. Lombardi//Proc. IEEE fault-tolerant computing symp. -1995. -June -P. 331-339.
Статья научная
