Диагностика порошковых материалов методами рентгенографии

Автор: Фофанов Анатолий Дмитриевич, Лобов Денис Владимирович, Логинов Дмитрий Владимирович

Журнал: Ученые записки Петрозаводского государственного университета @uchzap-petrsu

Рубрика: Физико-математические науки

Статья в выпуске: 4 (109), 2010 года.

Бесплатный доступ

Поликристаллы, рентгеноструктурный анализ, фазовый анализ, метод ритвельда, "рентгеноаморфная" картина рассеяния

Короткий адрес: https://sciup.org/14749716

IDR: 14749716

Список литературы Диагностика порошковых материалов методами рентгенографии

Алешина Л. А., Фофанов А. Д. Рентгеноструктурный анализ аморфных материалов. Петрозаводск, 1987. 85 с.
Бабушкин Ф. А. Динамическая теория магнитного рассеяния рентгеновских лучей в антиферромагнетиках. Л.:Изд-во ЛГУ, 1979. 104 с.
Вайнштейн Б. К. Дифракция рентгеновых лучей на цепных молекулах. М.: Изд-во АН СССР, 1963. 372 с.
Васильев Е. К., Нахмансон М. С. Качественный рентгенофазовый анализ. Новосибирск: Наука. Сиб.Отд-ние, 1986. 195 с.
Гинье А. Рентгенография кристаллов: Пер. с франц. М.: Физматгиз, 1961. 602 с.
Даценко Л. И., Молодкин В. Б., Осиновский М. Е. Динамическое рассеяние рентгеновских лучей реальными кристаллами. Киев: Наукова думка, 1988. 200 с.
Джеймс Р. Д. Оптические принципы дифракции рентгеновских лучей. М.: Изд-во иностр. лит., 1950. 572 с.
Дриц В. А., Сахаров Б. А. Рентгеноструктурный анализ смешаннослойных минералов. М.: Наука, 1976. 255 с.
Жданов Г. С., Илюшин А. С., Никитина С. В. Дифракционный и резонансный структурный анализ. М.: Наука, 1980. 256 с.
Зевин Л. С., Завьялова Л. Л. Количественный рентгенографический фазовый анализ. М.: Недра, 1974. 184 с.
Ивашевская С. Н. Исследование гетероароматических N-оксидов и их молекулярных комплексов методами порошкового рентгеноструктурного анализа: Автореф. дис.... канд. физ.-мат. наук. Петрозаводск, 2002. 18 с.
Иверонова В. И., Ревкевич Г. П. Теория рассеяния рентгеновских лучей. М.: Изд-во МГУ, 1972. 246 c.
Каули Дж. Физика дифракции: Пер. с англ. М.: Мир, 1979. 431 c.
Ковба Л. М., Трунов В. К. Рентгенофазовый анализ. М.: Изд-во МГУ, 1976. 232 c.
Кривоглаз М. А. Теория рассеяния рентгеновских лучей и тепловых нейтронов реальными кристаллами. М.:Наука, 1967. 336 c.
Кривоглаз М. А. Дифракция рентгеновских лучей и нейтронов в неидеальных кристаллах. Киев: Наукова дума, 1983. 406 с.
Кривоглаз М. А. Диффузное рассеяние рентгеновских лучей и нейтронов на флуктуационных неоднородностях неидеальных кристаллах. Киев: Наукова думка, 1984. 288 с.
Лобов Д. В., Фофанов А. Д., Осауленко Р. Н. Модель атомной структуры глушенных стекол наоснове диопсида // Электронный журнал «Исследовано в России». 2004. 125. 1315-1328 // ttp://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2004/125.pdf.
Лобов Д. В., Фофанов А. Д., Осауленко Р. Н., Калинкин А. М. Рентгенографическое исследование структурного состояния образцов диопсида после длительного помола // Электронный журнал «Исследовано в России». 2005. 085. 889-907 // http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2005/085.pdf.
Нахмансон М. С., Феклычев В. Г. Диагностика состава материалов рентгенодифракционными и спектральными методами. Л.: Машиностроение, 1990. 357 с.
Нахмансон М. С., Черный Ю. А. Система автоматического рентгенофазового анализа АРФА. Л.: ЛНПО Буревестник», 1982. 85 с. (Рукопись деп. в ВИНИТИ 13.6.82. № 4150-82. Деп.)
Осауленко Р. Н. Структура и ближний порядок многокомпонентных стекол, полученных из отходов горнопромышленного производства: Автореф. дис.... канд. физ.-мат. наук. Петрозаводск, 2003. 14 с.
Пинскер З. Г. Динамическое рассеяние рентгеновских лучей в идеальных кристаллах. М.: Наука, 1974. 368 с.
Пинскер З. Г. Рентгеновская кристаллооптика. М.: Наука, 1982. 392 с.
Сигаловская Ю. И., Сандомирский П. А., Урусов В. С. Уточнение структур порошковым олнопрофильным методом//Журнал структурной химии. 1985. Т. 26. № 4. С. 132-143.
Сигаловская Ю. И., Урусов В. С. Развитие рентгеновского порошкового полнопрофильного метода точнения кристаллических структур//Методы дифракционных исследований кристаллических материалов: Материалы 5 школы по рентгеноструктурным методам анализа вещества. Иркутск, 1986. С. 59-69.
Скрышевский А. Ф. Структурный анализ жидкостей и аморфных тел. М.: Высшая школа, 1980. 328 с.
Уманский М. М. Рентгеновский качественный фазовый анализ//Заводская лаборатория. 1984. Т. 50. № 5. С. 20-26.
Фофанов А. Д. Структура и ближний порядок в кислород-и углеродсодержащих системах с особыми свойствами: Автореф. дис.... д-ра физ.-мат. наук. М., 1998. 32 с.
Хейкер Д. М. Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов. Л.: Машиностроение, 1973. 256 c.
Хейкер Д. М., Зевн Л. С. Рентгеновская дифрактометрия. М.: Физматгиз, 1963. 340 c.
Цыбуля С. В., Соловьева Л. П. Программа уточнения структур по полному профилю рентгенограммы//аппаратура и методы рентгеновского анализа. 1988. Вып. 38. С. 46-61.
Чернышев В. В. Определение кристаллических структур по порошковым данным//Известия Академии наук. ерия химическая. 2001. С. 2171-2190.
Чернышев В. В. Определение молекулярных кристаллических структур методами порошковой дифракции: Автореф. дис.... д-ра физ.-мат. наук. М., 2004. 48 с.
Drits V. A., Tchoubar C. X-Ray Diffraction by Disordered Lammelar Structures. Berlin Heidelberg: Springererlag, 1990. 371 p.
Khattak C. P., Cox D. E. Profile analysis of X-ray powder difractometer data: structural refinement of La0.75 Sr0.5 rO3//J. App. Cryst. 1977. Vol. 10. № 5. P. 733-739.
Malet G., Gabos C., Escande A., Delord P. Double Diffraction des Rayons X par une Substance morphe//J. Appl. Cryst. 1973. Vol. 6. Р. 139-143.
Malmros G., Thomas J. O. Least-squire structure refinement based on profile analysis of powder film intensity data easured on an automatic microdensitometer//J. App. Cryst. 1977. Vol. 10. № 1. P. 7-11.
Powder Diffraction File. Search Manual Hanawalt method. Inorganic. JCPDS. Swarthmore, Pennsylvania, USA. 1982.
Rietveld H. M. A profile refinement method for nuclear and magnetic structures//J. Appl. Crystallogr. 1969. Vol. 2. 1. P. 65-71.
Use of the Powder Diffraction File. JCPDS/Ed. by R. Jenkins, R. Anderson, G. J. McCarthy. 1991.
Warren B. E., Mozzi R. L. Multiple Scattering of X-rays by Amorphous Samples//Acta Cryst. 1966. Vol. 21. 3. Р. 459-461.
Zlokazov V. B., Chernyshev V. V. MRIA -a program for a full profile analysis of powder multiphase neutron-iffraction time-of-flight (direct and Fourier) spectra//J. Appl. Crystallogr. 1992. Vol. 25. P. 447-451.

Еще

Статья