Физические основы разработки датчиков на основе эффекта переключения в диоксиде ванадия

Автор: Пергамент Александр Лионович, Казакова Елена Лионовна, Артюхин Дмитрий Владимирович, Ольшанников Денис Игоревич

Журнал: Ученые записки Петрозаводского государственного университета @uchzap-petrsu

Рубрика: Физика

Статья в выпуске: 7 (101), 2009 года.

Бесплатный доступ

Переключение, переход металл-изолятор, диоксид ванадия, датчик температуры

Короткий адрес: https://sciup.org/14749589

IDR: 14749589

Текст статьи Физические основы разработки датчиков на основе эффекта переключения в диоксиде ванадия

Переключательные структуры на основе материалов с переходом металл-изолятор (ПМИ) с ВАХ, обладающей отрицательным дифференциальным сопротивлением (ОДС) S-типа (таким, как, например, диоксид ванадия VO2) [2], способны выполнять те же функции, что и стандартные полупроводниковые приборы с S-ОДС – тиристоры, лавинные транзисторы, p-i-n-диоды и т. д. [3]. Тем не менее, как показано в [7], такое использование эффектов ОДС («по прямому назначению») является не единственным и даже не самым главным. В частности, одно из важнейших прикладных направлений в этой области связано с использованием структур с ОДС в сенсорной технике. Необходимо отметить, что в настоящее время основная тенденция в производстве таких элементов, в том числе микросенсоров, связана с микроминиатюризацией. Малые размеры не только обеспечивают возможность интеграции, но и снижают потребляемую мощность и увеличивают быстродействие. Что каса- ется датчиков механических величин, преобразователей и актюаторов, то тенденция к миниатюризации имеет также свою логику, связанную с необходимостью контролировать систему, не влияя на ее свойства. Однако, как показано в [10], совершенно не очевидно, что миниатюризация должна базироваться на кремниевых датчиках [13] с использованием стандартных подходов на основе VLSI (very large scale integration, крупномасштабной интеграции). Поэтому поиск новых эффективных сенсорных материалов, в том числе для такой бурно развивающейся отрасли, как MEMS (микроэлектромеханические системы), является актуальной проблемой.

В целом можно сказать, что в настоящее время датчики являются поистине ключевыми элементами при автоматизации производственных процессов и научных исследований, в области мониторинга состояния окружающей среды и во многих других сферах. Исследования, направленные на создание датчиков нового типа, опираются на материалы, их свойства, равно как и на реализацию до сих пор не использовавших-

ся физических явлений. В частности, актуальной задачей является разработка датчиков температуры и поиск новых сенсорных материалов для них [9].

Каждый из методов измерения температуры специфичен и не обладает универсальностью, а выбор оптимального для данных условий метода определяется различными требованиями [9], [4], [13]: заданной точностью и длительностью измерений, диапазоном измеряемых температур, стоимостью, необходимостью регистрации и регулирования температуры, а также возможно -стью представления результатов в виде, удобном для ввода в компьютер и дальнейшей обработки. В частности, одним из перспективных направлений в данной области является разработка термодатчиков, основанных на зависимости частоты электрических колебаний от температуры. Достоинства метода частотного преобразования [4] - высокая разрешающая способность, стабильность параметров, удобство обработки выходного сигнала, возможность дистанционного измерения и высокий уровень помехозащищенности при передаче информации.

Таким образом, проблема поиска новых материалов для создания микросенсоров весьма актуальна, и важными аспектами этой проблемы являются совместимость с современной интегральной технологией, возможность реализации распределенных сетей (матриц) датчиков и целый ряд других требований, специфических для каждого типа чувствительных элементов сенсорных систем. В [7] показано, что соединения с переходом металл-изолятор (в особенности оксиды ванадия) и переключающие элементы на их основе являются перспективными материалами для создания подобного типа устройств.

В данной работе будут представлены результаты исследования температурных зависимостей частоты релаксационных колебаний, генерируемых VO 2 -переключателями, в которых электронное переключение обусловлено эффектом ПМИ в этом материале при Т t = 340 К [2]. Будет также проведен анализ их работы в качестве датчиков температуры. В результате будет показана принципиальная возможность создания датчика температуры с частотным выходом на основе этих структур.

ОБРАЗЦЫ И МЕТОДИКИ ИЗМЕРЕНИЙ

В качестве образцов для исследования использовались как анодные оксидные пленки (АОП) ванадия [17], так и пленки, полученные золь-гель методом, так как в [5] показано, что перспективным методом формирования VO 2 -переключателей является использование в качестве прекурсора ксерогеля V 2 O 5 х пН 2 О (n = 1,6-1,8).

В случае АОП базовым («нижним») электродом естественным образом является остающийся после анодирования слой металлического ванадия. Иная ситуация имеет место при исполь- зовании пленок V2O5-геля, для которых при получении сэндвич-структур металл-оксид-металл (МОМ) необходимо предварительно нанести металлический подслой на диэлектрическую (стекло, ситалл, кремний) подложку. Для нанесения подслоя использовалось термическое испарение и магнетронное распыление на установке ВУП-5М.

Для получения подслоя были опробованы различные металлы: медь, золото, сплав Pd-Au, никель, алюминий и ванадий. В большинстве случаев (Cu, Al, V, Pd-Au) наблюдалось химическое взаимодействие геля (обладающего кислотными свойствами [12]) с металлом, что выражалось в частичном растворении пленки металла и ее растрескивании (отслоении). При использовании Ni (особенно в случае достаточно тонкого слоя) сопротивление подслоя было слишком велико, что затрудняло проведение электрических измерений. С пленкой из золота гель химически не взаимодействует, однако подложку с напыленным Au гель смачивает хуже, чем стеклянную, поэтому невозможно получить пленки площадью более 1–2 см2. Кроме того, достаточно тонкие пленки золота также имеют относительно высокое электрическое сопротивление.

В результате этих исследований нам все-таки удалось найти практически идеальную подложку для нанесения геля пентаоксида ванадия – это система «ванадий + АОП V». При этом АОП просто играет роль буферного слоя, препятствующего прямому взаимодействию жидкого геля с металлическим ванадием, а при электроформовке происходит образование канала VO 2 насквозь, то есть через слой ксерогеля и через АОП (рис. 1).

Рис. 1. Схематическое изображение исследуемой структуры: 1 – ванадий; 2 – АОП V (d ~ 100 нм); 3 – пленка ксерогеля V 2 O 5 (d ~ 1 мкм); 4 – канал VO 2 ; 5 – электроды; в качестве верхнего электрода использовались напыленные слои металлов (Au, Al) и прижимной контакт – Au проволока диаметром 0,5 мм.

Электрофизические измерения проводились по стандартным методикам [5], [7], [8], [17] с использованием метода характериографа, а также с помощью прибора Keithley 2410 [16]; при этом скорость развертки напряжения была 10– 25 В/с, а ток ограничения варьировался в пределах от 10 до 150 мкА.

РЕЗУЛЬТАТЫ

В схеме, содержащей элемент с S-образной ВАХ (рис. 2а), наблюдается генерация релаксационных колебаний, если линия нагрузки пересекает участок ОДС так, как показано на рис. 2б [3].

Частота релаксационных колебаний f r зависит от свойств структуры (параметров ВАХ образца), параметров внешней схемы ( С , R L , V 0 – см. обозначение на рис. 2) и от температуры, так как при изменении Т изменяются пороговое напряжение V th и соответствующий ему пороговый ток I th , сопротивление выключенного (OFF) состояния R OFF и другие характеристики. Величины R L и V 0 определяют область существования генерации, которая исчезает при изменении этих параметров, как только линия нагрузки выходит за пределы ОДС. В МОМ-структурах на основе АОП, в пределах области существования, f r относительно слабо зависит от V 0 (рис. 3). Параллельная емкость не влияет на область генерации, но частота сильно зависит от С . На рис. 4 представлена зависимость периода колебаний (см. рис. 2в) T r = ( f r )-1 от C для одного из образцов. При больших значениях С период колебаний прямо пропорционально зависит от емкости.

Для анализа работы генератора рассмотрим зависимость периода T r от V 0 и C . Выражение для Т r можно получить из известной экспоненциальной зависимости напряжения от времени при зарядке конденсатора:

V (t) = V o [1 - exp(-t/τ)], (1) откуда [3]:

Tr = τ ln

V 0 - xV

V 0 - xV th

где x = (R L /R o ) + 1, а время релаксации τ = R L C / x .

Здесь учтено, что переключатель обладает собственным активным сопротивлением R 0 ≠ ∞; если R L << R 0 , то х = 1 и (2) переходит в обычную формулу для Т r (см., например, формулу (5.32) в [3]). На рис. 4 сплошной линией показана теоретическая (по уравнению (2)) зависимость Т r ( С ). Величины V o , V', V th и R L известны (см. подпись к рис. 4), а за величину внутреннего сопротивления S-диода принято значение R 0 = V th /I th = 215 кОм. Экспериментальные точки хорошо совпадают с теоретической прямой в области C > 10 нФ.

Рис. 2. Генерации релаксационных колебаний:

а – электрическая схема; собственное сопротивление «S-диода» (VO2-переключателя) соответствует величине ROFF Vth/Ith; б – ВАХ и линия нагрузки; в – осциллограмма напряжения выходного сигнала.

Рис. 3. Экспериментальная зависимость частоты генерации от входного напряжения для VO2-сэндвич-переключателя на АОП

Рис. 4. Зависимость периода генерации от емкости параллельно включенного конденсатора

Точки – по данным эксперимента, сплошная линия – по формуле (2). R L = 1 МОм, V 0 = 40 В, V th = 4,5 В, V'= 1,4 В, I th = 21 мкА.

Уменьшение частоты генерации по сравнению с величиной, предсказываемой формулой (2), может быть связано с тем, что при малых С реактивное сопротивление образца имеет не емко стной, а индуктивный характер. Действительно, известно [3], что при положительной обратной связи по току (S-BAX) ток запаздывает относительно напряжения: для прохождения сигнала обратной связи требуется некоторое время. Поэтому реактивная составляющая полного сопротивления носит индуктивный характер. Однако индуктивность S-диода эффективно проявляется лишь на участке ОДС; она связана с неоднородностью (шнурованием) тока [6]. В режиме генерации VO 2 -переключатель большую часть времени проводит в допороговой области. Следовательно, неоднородное распределение плотности тока в образце имеет место уже при V < V th , что связано с протеканием тока не под всей площадью электрода, а по каналу малого радиуса (~ 1 мкм [7]) (рис. 1). Канал переключения в этом случае аналогичен допороговому (статическому) шнуру, возникающему в определенных условиях в переключателях на основе аморфных полупроводников [6] (в отличие от обычного стабильного шнура тока при I > I th ).

На рис. 5а представлены зависимости частоты генерации f r макетных образцов переключателей на основе АОП VO2 от температуры. С учетом всего вышесказанного, данные результаты позволяют сделать вывод о перспективности использования указанных структур в качестве эффективных датчиков температуры, то есть о возможности реализации тонкопленочного миниатюрного (размер канала переключения, как сказано выше, составляет величину порядка 1 мкм) температурного сенсора с частотным выходом со следующими параметрами (см. рис. 5): диапазон температур - от 10 до 340 К, чувствительность – порядка 103 Гц/К, уровень выходного сигнала по току – до 0,2 мА.

Аналогичные зависимости f r от температуры наблюдаются и для образцов на основе V 2 O 5 -геля. Осциллограмма таких колебаний представлена на рис. 5б. Следует подчеркнуть, что при этом технология их изготовления намного проще и дешевле [5] (что важно при массовом производстве), а разработанная методика нанесения геля на подложку из АОП ванадия исключает нежелательное взаимодействие оксида с металлом (см. раздел 2). Кроме того, легирование V 2 O 5 -геля вольфрамом стабилизирует параметры переключения [1], [15] (то есть минимизирует их статистический разброс, неизбежно вызываемый процессом предварительной электрической формовки [8]).

В заключение отметим, что аналогичная зависимость частоты релаксационных колебаний не только от температуры, но и от давления наблюдалась нами ранее для МОМ-структур на основе ксерогеля V 2 O 5 х пН 2 О [14].

Рис. 5.

а – Зависимость частоты генерации релаксационных колебаний от температуры для трех образцов сэндвич-переключателей «V-VO2-металл» с пороговым напряжением (при 100 К) Vth= 4,4 В (1, 2), 1,64 В (3) и 7,7 В (4). Напряжение питания и сопротивление нагрузки: 80 В и 1,4 МОм (1), 95 В и 1 МОм (2), 40 В и 0,6 МОм (3), 100 В и 1,05 МОм (4). б – Автоколебания в схеме с переключателем на основе V2O5-геля (фото с экрана осциллографа). Всплески тока соответствуют моментам резкого спада напряжения – см. рис. 2в.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Зависимость пороговых характеристик сэн-двич-переключателей на основе АОП VO2 и гидратированного пентаоксида ванадия от температуры и давления, как показано в данной работе и целом ряде ранее опубликованных наших работ (и работ других наших коллег – сотрудников ПетрГУ) [1], [5], [7], [14], [17], указывает на возможность их использования в качестве тонкопленочных микросенсоров температуры и механических величин (давление, сила, перемещение и т. п.).

Количественные параметры исследуемых материалов, характеризующие их преимущества по сравнению с аналогами, – это широкий диапазон измеряемых температур и высокая чувствительность.

Что касается преобразователей давления, то следует подчеркнуть, что «вертикальная» (МОМ) конфигурация более предпочтительна по сравнению с планарным вариантом, при котором для регистрации сигнала требуется изгиб подложки. Кроме того, одним из требований, предъявляемых к механическим датчикам, преобразователям и актюаторам в MEMS-системах, является малая собственная масса, что исключает обратное взаимовлияние [10]. В настоящее время речь уже идет о создании NEMS – наноэлек-тромеханических систем. Поэтому сочетание идеологии нанолитографии по оксидам ванадия [7], [11], [17] с возможностью использования переключательных элементов на основе VO2 в сенсорной технике может оказаться достаточно эффективным направлением в области приложений материалов с ПМИ.

Необходимо отметить, что диапазон измеряемых температур может быть расширен в низкотемпературную область, так как нет принципиальных ограничений для работы VO2-перек-лючателей вплоть до температуры жидкого ге- лия и ниже. Важной особенностью предлагаемого варианта датчика также является его быстродействие: благодаря малым размерам и малым временам переключения (~10-10 с) [7], [8] инерционность будет определяться только величиной порядка (fr)-1, где fr – рабочая частота при данной температуре. Кроме того, фактически «точечная» структура «V-VO2-металл» не будет искажать распределение температуры вблизи себя, что позволит использовать набор таких датчиков для прецизионного измерения градиентов температуры, тепловых полей и т. п.

Сочетание таких качеств, как малые размеры и широкий диапазон измеряемых температур (наряду с вполне удовлетворительными показателями по точности измерений), является весьма редким и может найти применение при решении множества проблем, связанных с контролем, регулированием и измерением температуры [4], [13].

Работа выполнена при поддержке аналитической ведомственной целевой программы «Развитие научного потенциала высшей школы (2009–2010)», проект № 4978. Авторы также благодарят Г. Б. Стефановича и А. А. Величко за участие в обсуждении и полезные замечания.

Список литературы Физические основы разработки датчиков на основе эффекта переключения в диоксиде ванадия

  • Артюхин Д. В. Электронное переключение в легированном диоксиде ванадия: Дис. … магистра техники и технологии. Петрозаводск, 2008. 71 с.
  • Бугаев А. А., Захарченя Б. П., Чудновский Ф. А. Фазовый переход металл-полупроводника и его применение. Л.: Наука, 1979. 183 с.
  • Викулин И. М., Стафеев В. И. Физика полупроводниковых приборов. М.: Сов. радио, 1980. 296 с.
  • Гордов А. Н., Жагулло О. М., Иванова А. Г. Основы температурных измерений. М.: Энергоатомиздат, 1992. 303 с.
  • Казакова Е. Л. Электронные и ионные процессы в гидратированном оксиде ванадия: Дис. … канд. физ.-мат. наук. Петрозаводск, 2002. 153 с.
  • Костылев С. А., Шкут В. А. Электронное переключение в аморфных полупроводниках. Киев: Наукова думка, 1978. 203 с.
  • Пергамент А. Л. Электронные неустойчивости в соединениях переходных металлов: Дис. … д-ра физ.-мат. наук. СПб., 2007. 302 с.
  • Пергамент А. Л., Ханин С. Д. Электронное переключение в тонких слоях оксидов переходных металлов//Изв. РГПУ им. А. И. Герцена. Естественные и точные науки. 2007. № 7(26). С. 69-86.
  • Сопряжение датчиков и устройств ввода данных с компьютерами IBM PC: Пер. с англ./Под ред. У. Томпкинса, Дж. Уэбстера. М.: Мир, 1992. 592 с.
  • Busch -Vishniac I. J. Trends in electromechanical transduction//Physics Today. 1998. Vol. 51. №. 17. P. 28-34
  • Cheremisin A. B., Loginova S. V., Velichko A. A., Putrolaynen V. V., Pergament A. L., Grishin A. M. Modification of Atomic Structure of Thin Amorphous V2O5. Films under UV Laser Irradiation//Journal of Physics: Conference Series. 2008. Vol. 100. 052096. 5 p.
  • Livage J., Ganguli D. Sol-gel electrochromic coatings and devices: A review//Solar Energy Materials & Solar Cells. 2001. Vol. 68. P. 365-381.
  • National Semiconductor Temperature Sensor Handbook. National Semiconductor Corporation. 1999. 40 p. http://chaokhun.kmitl.ac.th/~kswichit/logger/temphb.pdf.
  • Pergament A. L., Kazakova E. L., Stefanovich G. B. Optical and electrical properties of vanadium pentoxide xerogel films: Modification in electric field and the role of ion transport//J. Phys. D: Appl. Phys. 2002. Vol. 35. №. 17. P. 2187-2197.
  • Pergament A. L., Velichko A. A., Berezina O. Ya., Kazakova E. L., Kuldin N. A., Artyukhin D. V. Influence of doping on the properties of vanadium oxide gel films//J. Phys.: Condensed Matter. 2008. Vol. 20. 422204. 3 р.
  • Pergament A., Velichko A., Putrolaynen V., Stefanovich G., Kuldin N., Cheremisin A., Feklistov I., Khomlyuk N. Electrical and optical properties of hydrated amorphous vanadium oxide//J. Phys. D: Appl. Phys. 2008. Vol. 41. №. 22. 225306. 3 p.
  • Stefanovich G. B., Pergament A. L., Velichko A. A., Stefanovich L. A. Anodic oxidation of vanadium and properties of vanadium oxide films//Journal of Physics: Condensed Matter. 2004. Vol. 16. №. 23. P. 4013-4024.
Еще
Статья