Фокусировка излучения новосибирского лазера терагерцового диапазона (NovoFEL) в соосный отрезок
Автор: Агафонов Андрей Николаевич, Володкин Борис Олегович, Павельев Владимир Сергеевич, Тукмаков Константин Николаевич, Кавеев Андрей Камильевич, Качалов Денис Георгиевич, Князев Борис Александрович, Кропотов Григорий Иванович, Чопорова Юлия Юрьевна
Журнал: Компьютерная оптика @computer-optics
Рубрика: Оптоинформационные технологии
Статья в выпуске: 1 т.39, 2015 года.
Бесплатный доступ
Приведены результаты исследования кремниевого бинарного дифракционного оптического элемента - фокусатора терагерцового лазерного излучения из Гауссова пучка в соосный отрезок. Характеристики дифракционного оптического элемента были исследованы в пучке новосибирского лазера на свободных электронах (ЛСЭ) на длине волны 141 мкм.
Дифракционная оптика, лазеры на свободных электронах, терагерцовое и дальнее ик-излучение, соосный отрезок
Короткий адрес: https://sciup.org/14059334
IDR: 14059334
Binary doe with elongated focal depth to focus terahertz Novosibirsk Free Electron Laser radiation
Binary silicon diffractive optical element (DOE) focusing laser radiation onto an axial segment (or DOE with elongated focal depth) for the terahertz spectral range has been designed and characterized using terahertz radiation of the Novosibirsk Free Electron Laser (NovoFEL).
Текст научной статьи Фокусировка излучения новосибирского лазера терагерцового диапазона (NovoFEL) в соосный отрезок
Дифракционные оптические элементы (ДОЭ) нашли широкое применение в оптическом приборостроении ультрафиолетового, видимого и инфракрасного диапазонов [1]. Применение ДОЭ позволяет создавать оптические приборы с уменьшенными массогабаритными характеристиками и широкими функциональными возможностями [1]. Известны результаты исследования кремниевых бинарных дифракционных линз и делителей пучка [2] для управления излучением мощного монохроматического пучка ТГц-лазера на свободных электронах (ЛСЭ) [3]. В [4] приведены результаты исследования дифракционного оптического элемента, фокусирующего Гауссов пучок тера-герцового лазера на свободных электронах в квадратную фокальную область.
Такие приложения, как получение терагерцовых изображений (в том числе протяжённых объектов), абляция, генерация оптического разряда и другие, требуют фокусировки терагерцового излучения, часто – фокусировки с повышенной глубиной фокуса. В [1, 5, 6] приведены результаты исследования оптических элементов видимого и ИК-диапазонов, предназначенных для фокусировки исходного лазерного пучка в соосный отрезок («протяжённый фокус»).
В настоящей статье приведены результаты исследования кремниевого бинарного дифракционного фо-кусатора, предназначенного для фокусировки Гауссова пучка терагерцового лазера в соосный отрезок. Элемент был изготовлен с помощью реактивно-ионного травления (РИТ) поверхности пластины из высокоомного кремния с последующим нанесением антиотражающего покрытия. Исследования характеристик элемента выполнены на рабочей станции новосибирского ЛСЭ (NOVOFEL) [3], получены первые результаты.
честве исходного материала необходимо использовать нелегированный высокоомный кремний [2]. В данной работе были использованы подложки из кремния HRFZ-Si [7] с двухсторонней полировкой оптического качества диаметром 38 мм и толщиной 1 мм. Получение бинарного микрорельефа высотой 29,1 мкм на поверхности подложки производилось с помощью реактивно-ионного травления кремния (РИТ) [8]. Была использована технология формирования бинарного микрорельефа терагерцового диапазона на поверхности кремниевой пластины, ранее использованная в [2, 4] для изготовления бинарных дифракционных линз и делителей пучка терагерцо-вого диапазона. Для уменьшения френелевских потерь на отражение на элемент наносилось двустороннее антиотражающее покрытие из парилена С . Парилен С в качестве антиотражающего покрытия ранее был использован в работах [2, 4, 9, 10]. Толщина слоя парилена C с каждой стороны элемента составляла около 21 мкм.
Расчёт бинарного микрорельефа производился с использованием модификации стохастической процедуры [6], построенной на основе использования генетического алгоритма.
Для расчёта использовались следующие параметры фокусатора: диаметр апертуры – 30 мм, рабочая длина волны – 141 мкм, расстояние от плоскости установки элемента до начала соосного светового отрезка – 110 мм, использованное в расчётах значение радиуса Гауссова освещающего пучка – 9 мм, число отсчётов фазовой функции вдоль радиуса – 200, длина соосного светового отрезка – 30 мм.
Расчётная высота микрорельефа радиально-симметричного ДОЭ определяется формулой [1]
h ( r ) = Хф ( r ) / 2 л ( n - 1 ) , (1)
где n – показатель преломления материала подложки, ф ( r ) - фазовая функция ДОЭ [1]. Рассчитанная фазовая функция ф ( r ) бинарного (двухуровневого) фоку-сатора в соосный отрезок приведена на рис. 1.
Рис. 1. Фазовая функция расcчитанного фокусатора (белый цвет соответствует значению фазы π , чёрный цвет – 0)
Значение показателя преломления кремния составляет n = 3,42, таким образом, расчётная высота бинарного рельефа для длины волны 141 мкм составляет h = 29,1 мкм. Расчётное значение энергетической эффективности фокусатора незначительно варьировалось в различных сечениях светового соосного отрезка и в среднем составляло e = 19,27%.
Рис. 2. Фотография изготовленного элемента
Рис. 3. Электронная фотография центрального фрагмента изготовленного микрорельефа
-
3. Исследование элемента с помощью новосибирского лазера на свободных электронах
-
4. Результаты экспериментов
Оптические характеристики изготовленного ДОЭ были исследованы на одной из рабочих станций новосибирского ЛСЭ. Оптическая схема приведена на рис. 4. Лазер генерировал монохроматическое излучение с длительностью импульса 100 пс при частоте повторения 5,6 МГц. Лазерный пучок имел Гауссово распределение интенсивности. Средняя мощность излучения в экспериментах составляла десятки ватт. При выполнении экспериментов минимальная длина волны генерации лазера была ограничена величиной λ = 141 мкм, на которой и были проведены все эксперименты. Значение модового радиуса σ Гауссова освещающего пучка c распределением интенсивности I ( x , y )= C exp(–2( x 2+ y 2)/ σ2) в эксперименте отличалось от расчётного значения и составляло более 11 мм.
Прошедшее сквозь элемент излучение регистрировалось при помощи матричного микроболометри-ческого приёмника размером 320×240 элементов [11].
матричный микроболометрический
Рис. 4. Оптическая схема эксперимента на ЛСЭ
Результаты измерения распределения интенсивности ТГц-излучения в плоскостях, отстоящих на разное расстояние от фокусатора, приведены на рис. 5. Отметим, что сфокусированный пучок сохраняет близкое к Гауссовому распределение интенсивности.
В [6] отмечалось, что элементы для формирования соосного отрезка из освещающего Гауссова пучка, рассчитанные итерационной процедурой [6], обладают оптической силой. Этим и объясняется «самовоспроизведение» Гауссова пучка при распространении вдоль отрезка фокусировки (рис. 5).
5 80
I 60
5^
8 ^
a)
б)
Рис. 5. Распределение интенсивности ТГц-излучения в плоскостях, отстоящих на различное расстояние z
от плоскости установки элемента z = 110 мм (а), z = 125 мм (б), z = 140 мм (в)
Измерявшиеся в ходе оптического эксперимента в разных плоскостях значения энергетической эффективности находились в хорошем соответствии с расчётным значением (табл. 1).
Табл. 1. Измеренная энергетическая эффективность изготовленного фокусатора
|
Расстояние от плоскости ДОЭ до плоскости регистрации, мм |
110 |
125 |
140 |
|
Энергетическая эффективность e , % |
18,6 |
18,2 |
17,4 |
На рис. 6 приведены графики распределения интенсивности вдоль оптической оси, полученные в ходе оптического эксперимента и в результате численного моделирования. Применение изготовленного оптического элемента позволило сформировать соосное распределение интенсивности на заданном осевом отрезке 110 мм ÷ 140 мм (рис. 6).
Рис. 6. Распределение интенсивности вдоль оптической оси, сформированное изготовленным элементом ровки (что соответствует полудлине формируемого отрезка) упадёт более чем в 7 раз.
Сравнение результатов, приведённых на рис. 6, с оценкой глубины фокуса линзы с фокусным расстоянием 125 мм показывает, что применение созданного элемента позволило значительно увеличить глубину фокуса, что важно, например, при создании сканирующих систем терагерцового диапазона. Отметим также хорошую устойчивость работы элемента к отклонению модового параметра освещающего пучка от расчётного значения.
Заключение
Эксперименты показали возможность применения бинарных дифракционных элементов для формирования соосного распределения интенсивности излучения терагерцового диапазона.
Совершенствование технологии формирования кремниевого микрорельефа, в частности, увеличение числа уровней квантования микрорельефа позволит в перспективе повысить энергетическую эффективность кремниевых элементов, предназначенных для фокусировки пучков терагерцового излучения в соосные фокальные области.
Данная работа частично поддержана Минобрнауки РФ в рамках Программы повышения конкурентоспособности СГАУ на 2013–2020 г.г. и Государственного задания вузам и научным организациям в сфере научной деятельности, проект № 1879, грантом РФФИ 13-02-97007 и выполнена с использованием оборудования Центра коллективного пользования Сибирский Центр синхротронного и терагерцового излучения (ЦКП СЦСТИ).