Формальная схема расчета эффективных упругих свойств текстурированных металлов
Автор: Митюшов Е.А., Одинцова Н.Ю., Берестова С.А.
Статья в выпуске: 11, 2003 года.
Бесплатный доступ
Предложена общая схема решения задачи усреднения упругих свойств тектурированных поликристаллов, основанная на алгебраических методах описания их упругих свойств.
Короткий адрес: https://sciup.org/146211248
IDR: 146211248
Текст научной статьи Формальная схема расчета эффективных упругих свойств текстурированных металлов
В предположении, что ориентация зерен в поликристалле равновероятна и поликристалл, как любое изотропное тело, характеризуется двумя упругими константами, задача об определении эффективных упругих свойств была решена сначала Фойгтом [1] путем усреднения матрицы упругих модулей кристалла, а затем Ройсом [2] из усреднения матрицы коэффициентов податливости. Более детальное рассмотрение, выполненное Хиллом [3], показало, что эти усреднения соответствуют предположениям об однородности деформаций в поликристалле в первом случае, и однородности напряжений – во втором, а получаемые значения объемного модуля и модуля сдвига поликристалла дают верхнюю и нижнюю вариационные границы для его эффективных свойств. Им же было предложено определять эффективные упругие характеристики как среднее арифметическое значений, получаемых в приближениях Фойгта и Ройса. Дальнейшее исследование проходило по пути отыскания эффективных упругих характеристик квазиизотропных поликристаллов в рамках тех или иных упрощающих гипотез.
Простой метод усреднения на базе равенства определителей матриц модулей упругости монокристалла и поликристалла был предложен Александровым [4], независимо от него Пересадой [5]. В дальнейшем Александровым и Айзенбергом [6], на примере тензорных свойств второго ранга, была отмечена связь этого способа усреднения с усреднением логарифмов собственных значений соответствующих матриц. Это обстоятельство имело в дальнейшем определяющее значение для развития теории.
Значительно более сложной, чем вычисление упругих свойств квазиизотропных поликристаллов, является задача их вычисления, когда имеется преимущественная ориентация зерен в пространстве – текстура, и в силу этого поликристалл начинает вести себя как анизотропное тело. Методы вычисления упругих характеристик текстурированных поликристаллов развивались по мере совершенствования экспериментальных методов исследования текстуры и ее количественного описания.
Методы количественного текстурного анализа для расчета эффективных упругих свойств поликристаллов в приближениях Фойгта, Ройса и Хилла применялись различными авторами [7,8]. Попытка обобщения метода расчета эффективных упругих характеристик Александрова – Пересады на текстурированные материалы была предпринята Моравиком [9], Матхизом и Гамбертом [10]. Моравиком был предложен алгоритм решения, основанный на свойствах логарифмической тензорной функции, который был реализован им только в случае квазиизотропного материала. Матхизом и
Гамбертом дана численная реализация этого алгоритма на примере некоторых текстурированных поликристаллов, не допускающая аналитической формы записи окончательного решения.
В предлагаемой работе дается аналитическое обобщение метода Александрова – Пересады на примере текстурированных поликристаллов, основанное на алгебраических методах описания их упругих свойств.
Обобщенный закон Гука как линейное преобразование
Как было показано Рыхлевским [11], обобщенный закон Гука может рассматриваться как линейное преобразование пространства симметричных тензоров второго ранга в себя:
□ = C£ ,
или £ = S □ ,
здесь C - линейный оператор упругости, S = C 1 - обратный оператор.
В шестимерном пространстве симметричных тензоров особую роль имеют тензоры, удовлетворяющие уравнениям
C to = X to, или
Как и в векторных пространствах, в
S to= — to.
X пространстве симметричных тензоров
I II VI второго ранга существует такой ортонормированнын базис to , to ,..., to
0 K * L
1 K = L ,
toK • toL = toKtoL Ь,= )
ij ij KL в котором тензоры напряжений и деформаций представимы в виде
□ = □ to I + □ 2 to II +. к + ^6 toVI ,
£ = £1 to I + £2 to II
VI
+ ... + £6 to .
Элементы тензорного базиса to K ( K = I,II,...,VI ) соответствуют различным напряженно-деформированным состояниям (собственные упругие состояния).
Тензор четвертого ранга модулей упругости c , поставленный в соответствие линейному оператору C , записывается следующим спектральным разложением:
с = X, to I ®to I +X~ to II ®to II +... + X. toVI 8 to VI,(2)
аналогично для тензора коэффициентов податливости s = c 1
s = (X1) 1 to I ®to I +(X 2 ) 1 to II ®to II +... + (X 6 ) 1 toVI ®toVI,(3)
здесь
K K KK
(to ® to )ijmn = to ij to mn .
Параметры XK (K = 1,2,...,6) есть собственные значения линейного оператора C. Эти параметры определяются модулями упругости анизотропного тела и названы Рыхлевским истинными модулями жесткости, а с учетом комментария, данного в работе [11], их уместно назвать модулями Кельвина – Рыхлевского. Модули Кельвина – Рыхлевского являются корнями уравнения шестой степени det ( ~kl-X5 kl ) = 0 (K, L = 1,...,6), где
~ KL = to K • c • to L .
Не следует путать величины с~KL [12] с элементами матрицы модулей упругости ckl в обозначениях Фойгта.
Формальная схема расчета эффективных упругих свойств текстурированных поликристаллов
В рамках модели Фойгта и модели Ройса эффективные упругие характеристики находятся путем осреднения тензоров модулей упругости и коэффициентов податливости по множеству ориентаций зерен в поликристалле:
cV = 0, sR = 0
или с учетом разложений (2) и (3):
CV = X1 (Q) -(to I ®to I )+X 2 (Q) -(to II ®ю II )+ ... + X 6 (Q) - (toVI ®®VI ), (4)s R = (Xi j-1 (Q) - (toI ®toI )+ (x2 j-1 (Q) - (toII ®toII )+. к + (x6) 1 (Q) - (toVI ®toVI).
Здесь
((Q\ -(to K ® to K)).. = QqQ toKK toK, ijmn ip jq mr ns pq rs , где Qip – элементы матрицы перехода при повороте кристаллографической системы координат случайным образом ориентированного зерна до совмещения ее с осями лабораторной системы координат, ... – операция осреднения по множеству ориентаций зерен в поликристалле, Лк — модули Кельвина - Рыхлевского зерен.
С другой стороны, тензоры cV и sR могут быть представлены спектральными разложениями по элементам тензорного базиса макросимметрии to K :
у у ~1 „~1 ,7-11,-11 у ут-У!
с = Xi to ®to + X2 to ®to +... + X6 to ®to , (5)
s = IX 1 I to ®to + IX 2 I to ®to +... + IX 6 I toV ®toV .
Сравнивая разложения (4) и (5) и используя условие ортогональности (1), находим модули Кельвина – Рыхлевского в приближении Фойгта:
XVK = X1 (toK ® toK У (Q) - (to1 ®toI )+
+ X 2 ^ to K ® to K | - (Q)- ( to II ® to II ) + к. + X 6 ^ to K ® to K | - (Q)- ( to VI ® to VI ) .
Аналогично в приближении Ройса
^XRK | 1 =(X1 )-1 ^toK ® toK У (Q) - (toI ®toI )+
+ (x2 j"1 ^toK ® toK j- (Q) - (toII ®toII )+ . + (x6 j-1 ^toK ® toK |- (Q) - (toVI ®toVI), или
X VK = pKI X 1 + pKII X 2 + ... + pKVI X 6 ,
(xRK ) = pKl (X1) + PKII(X 2 ) +...+ pKVI(X 6 )
где
PKL = (toK ®toK )- (Q) - (toL ®toL ), при этом pKI + pKII +... + pKVI —1.
Таким образом, модули Кельвина – Рыхлевского в приближениях Фойгта и Ройса находятся как частный случай взвешенного степенного среднего значения соответствующих модулей кристаллитов,
)
X K "( pKI X 1 + pKII X 2 + ... + pKVI X 6 ) .
При a — 1 имеем средние значения, вычисленные по схеме Фойгта, при a — -1 -средние значения по схеме Ройса. При a > 0 степенное среднее стремится к геометрическому среднему, pppppp
KI KII KIII KIV KV KVI
/V — / v 1 /V 2 /V з /V 4 /V 5 /V 6 .
что является обобщением метода Александрова – Пересады на текстурированные материалы.
Соотношение (6) с формальной точки зрения исчерпывающим образом решает задачу об усреднении упругих характеристик текстурированных материалов. Переход к тензорным обозначениям осуществляется на основании формул (2) и (3).
Модули упругости текстурированных поликристаллов кубической симметрии
Элементы базиса (1) микро- и макросимметрии соответствуют одному напряженному состоянию всестороннего сжатия и пяти напряженным состояниям чистых сдвигов. Базис макросимметрии не зависит от способа усреднения и определяется лишь параметрами текстуры поликристалла [13]:
A , — Qilok + Q202 + 023е, 2 ) ( i — 1.2.3 ) ■
Модули Кельвина – Рыхлевского кубического кристалла выражаются через модули упругости в матричных обозначениях Фойгта равенствами
X 1 — Сц + 2 С и — 3 K . X 2 — X з — Сц C 12 . X 4 — X 5 — X 6 — 2 C 44 .
где K - объемный модуль упругости.
Модули Кельвина – Рыхлевского поликристалла определяются на основании равенства (6):
X^— X 1.
X (2 3 — X 2 ( 1 - 3 A 1+Л 2 -Л 3 + 2 p 2 , 3 ( A 2 -A 3 ) ) X 4 ( 3 A 1 -A 2 +A 3 - 2 p 2 , 3 ( A 2 -A 3 ) ) .
X^ ) — X 2 ( 2 A 2 + 2 A 3 - 2 A 1 ) X 4 ( 1 -( 2 A 2 + 2 A 3 - 2 A 1 )) .
X 50 ) — X 2 ( 2 A 3 + 2 A 1 - 2 A 2 ) X 4 ( 1 - ( 2 A 3 + 2 A 1 - 2 A 2 )) .
X *^) — X0 ( 2 A 1 + 2 A 2 - 2 A 3 ) X/I ( 1 - ( 2 A 1 + 2 A 2 - 2 A 3 )),
62 4
где p 2 3
— k ± V k 2 + k + 1. k — A 1 A 2 .
A 2-A 3
Некоторые результаты, вытекающие из этих соотношений, были получены ранее другими методами. Так, решение Александрова [4] для квазиизотропного материала получается при
A 1 — A 2 — A 3 — 5 ,
k — 0. Для сдвиговых модулей ортотропного
поликристалла обобщение этого решения получено в работе [14]. В случае аксиальных текстур решение приведено в работе [15], а для частного случая при А, = А~ = —,
1 24
A 3 = 0 это решение является точным [16].