Информационный образ растрового изображения шероховатой поверхности деталей машиностроения

Бесплатный доступ

В статье предлагается метод параметризации изображения шероховатой поверхности с помощью его информационного образа, который формировался на основе решения задачи ортогональной упаковки квадратов в квадрат Мною было установлено, что информационный образ позволяет отслеживать любые изменения яркости пикселей на изображении контролируемой шероховатой поверхности. Метод позволяет визуально фиксировать утрату или изменения яркости группы пикселей изображения шероховатой поверхности. При этом группа пикселей может составлять менее 0,2 % анализируемого изображения. Для формирования информационного образа монохромного изображения использовалась его нормированная гистограмма. Каждое значение гистограммы рассматривались, как площадь квадратов, которые размещены ортогонально и без пересечений в квадрате площадью 2. Такая упаковка квадратов в квадрат рассматривалась, как информационный образ изображения. Для численного анализа информационного образа использовался параметр, который позволил отслеживать любые изменения количества и яркости пикселей изображения шероховатой поверхности.

Еще

Шероховатая поверхность, растровое изображение, информационный образ, упаковка квадратов в квадрат

Короткий адрес: https://sciup.org/148324486

IDR: 148324486   |   DOI: 10.37313/1990-5378-2022-24-2-97-104

Список литературы Информационный образ растрового изображения шероховатой поверхности деталей машиностроения

  • Vázquez R., Torre D. The Effect of Surface Roughness on Efficiency of Low Pressure Turbines ASME / R. Vázquez, D. Torre / J. Turbomach. - 2013. - Vol. 6 A. -P. V06AT36A007-16.
  • Yashchuk V.V. Specification of x-ray mirrors in terms of system performance: new twist to an old plot / V.V. Yashchuk, L.V. Samoylova, I.V. Kozhevnikov // Opt. Eng. - 2015. - Vol. 54, Iss. 2. - P. 025108.
  • Whitehouse D.J. Handbook of Surface and Nanometrology / D.J. Whitehouse. - Boca Raton, London, New York: CRC Press, 2011. - 955 p.
  • Whitehouse D.J. Surfaces and their Measurement / D.J. Whitehouse. - Boca Raton, London, New York: CRC Press, 2002. - 395 p.
  • Табенкин, А.Н. Шероховатость, волнистость, профиль. Международный опыт / А.Н. Табенкин, С.В. Тарасов, С.Н. Степанов. - Санкт-Петербург: Политехнический институт, 2007. - 136 с.
  • DeGarmo E.P., Black J.T., Kohser R.A. Materials and Process in Manufacturing / E.P. DeGarmo, J.T. Black, R.A. Kohser. - New York, Chichester: John Wiley & Sons, 2003. - 355 p.
  • Gong Y. Surface Roughness Measurements Using Power Spectrum Density Analysis with Enhanced Spatial Correlation Length / Y. Gong, T. Scott, S.T. Misture, P. Gao, N.P. Mellott // J. Phys. Chem. C. -2016. - Vol. 120, Iss. 39 - P. 22358 - 64.
  • Salazar F., Barrientos A. Surface Roughness Measurement on a Wing Aircraft by Speckle Correlation / F. Salazar, A. Barrientos / Sensors. -2013. - Vol. 13. - P. 11772-81.
  • Yoshitomi K. Surface roughness determination using spectral correlations of scattered intensities and an artificial neural network technique / K. Yoshitomi, A. Ishimaru, J.-N.V. Hwang // IEEE Transactions on Antennas and Propagation. - 1993. - Vol. 41, Iss. 4. -P. 498-502.
  • Zhou Y. The Thee-Point Sinuosity Method for Calculating the Fractal Dimension of Machined Surface Profile / Y. Zhou, Y. Li, H. Zhu, X. Zuo, J. Yang // Fractals. - 2015. - Vol. 20, Iss. 2. - P. 1550016-26.
  • Ichida Y. Fractal Analysis of Micro Self-Sharpening Phenomenon in Grinding with Cubic Boron Nitride (cBN) / Wheels Scanning Electron Microscopy. -Rijeka : INTECH, 2012. - P. 393-410.
  • Outer A.D. Difficulties with using continuous fractal thery for discontinuity surfaces / A.D. Outer, J.F. Kaashoek, H.R.G.K. Hack // International Journal of Rock Mechanics and Mining Sciences & Geomechanics Abstracts. - 1995. - Vol. 32, Iss. 1. - P. 3-9.
  • Entropy and Co-entropy of Partitions and Coverings with Applications to Roughness Theory // Granular Computing: At the Junction of Rough Sets and Fuzzy Sets. Studies in Fuzziness and Soft Computing / G. Cattaneo, D. Ciucci, D. Bianucci. - Berlin, Heidelberg : Springer, 2008. - Vol. 224. - P. 55-77.
  • Pascoal R., Monteiro A.M. Market Efficiency, Roughness and Long Memory in PSI20 Index Returns: Wavelet and Entropy Analysis / R. Pascoal, A.M. Monteiro // Entropy. - 2014. - Vol. 16, Iss. 5. - P. 2768-2788.
  • Leach R.K., Giusca C.L. Determination of the metrological characteristics of optical surface topography measuring instruments / R.K. Leach, C.L. Giusca // Proc. SPIE. - 2012. - Vol. 8430. - P. 84300Q-7.
  • Leach R.K. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology / R.K. Leach. - Norwich, NY: William Andrew Publ./American Elsevir, 2014 - 384 p.
  • Neri P. Nonlinear characterization of a simple process in human vision / P. Neri // Journal of Vision. - 2009. - Vol. 9, Iss. 1. - P. 1-29.
  • Яглом, Ю.А. Как разрезать квадрат / Ю.А. Яглом. -Москва: Наука, 1968. - 112 с.
  • Solomon S.G., Lennie P. 2007 The machinery of colour vision / S.G. Solomon, P. Lennie // Nature Reviews Neuroscience. - 2007. - Vol. 8. - P. 276-286.
  • Korte B., Vygen J. Combinatorial Optimization / B. Korte, J. Vygen. - Berlin, Heideberg: Springer Sciens, 2008 - 720 p.
Еще
Статья научная