Исследование механизма формирования каталитической маски при облучении структуры алюминий-кремний частицами газового разряда высоковольтного типа

Казанский Н.Л. Колпаков А.И. Колпаков В.А.

Журнал: Компьютерная оптика @computer-optics

Рубрика: Технологии компьютерной оптики

Статья в выпуске: 24, 2002 года.

Бесплатный доступ

Рассматривается система жидкий алюминий - кремний, облучаемая ионно-электронным потоком, сформированным газовым разрядом высоковольтного типа (ГРВТ) с энергией частиц до 6 кэВ. Теоретически показана возможность существования потока пустот атомного размера («вакансий») в объеме жидкой фазы алюминия (маски) при облучении его поверхности отрицательно заряженными частицами ГРВТ с энергией до 6 кэВ. Приведены результаты экспериментальных исследований, хорошо согласующиеся с эффектом увлечения атомов кремния потоком «вакансий». Показана возможность формирования каталитической маски для создания микрорельефа дифракционных оптических элементов (ДОЭ). Средствами литографии обычный фотошаблон ДОЭ превращается в каталитическую маску на основе жидкого алюминия. Показана возможность дозированной загонки атомов полупроводника в расплав маскирующего материала путем изменения режимов облучения структуры алюминий-кремний (Al-Si) непосредственно во время проведения технологического процесса. Последующее удаление насыщенного полупроводником слоя каталитической маски приводит к образованию дифракционного микрорельефа.

Похожие статьи в разделе Электричество. Магнетизм. Электромагнетизм

Особенности формирования пленок оксида кремния, модифицированных наночастицами металла
Особенности формирования пленок оксида кремния, модифицированных наночастицами металла

Павленко В.И., Городов А.И., Ястребинский Р.Н., Лебедев М.С., Кашибадзе В.В.

Разработка новых технологий комбинированной обработки силуминов
Разработка новых технологий комбинированной обработки силуминов

Сидельников Сергей Борисович, Довженко Николай Николаевич, Горбунов Юрий Александрович, Гобунов Дмитрий Юрьевич, Лопатина Екатерина Сергеевна, Соколов Руслан Евгеньевич

Короткий адрес: https://sciup.org/14058563

IDS: 14058563   |   УДК: 537.5