Исследование поляризационной чувствительности ближнепольного микроскопа с использованием бинарной фазовой пластины
Автор: Хонина Светлана Николаевна, Алфров Сергей Владимирович, Карпеев Сергей Владимирович, Моисеев Олег Юрьевич
Журнал: Компьютерная оптика @computer-optics
Рубрика: Дифракционная оптика, оптические технологии
Статья в выпуске: 3 т.37, 2013 года.
Бесплатный доступ
Проведены теоретические и экспериментальные исследования распределения компонент электрического поля в фокальной плоскости при вращении пластинки с фазовым скачком величиной p, помещённой в фокусируемый пучок. На основе сравнения теоретических и экспериментальных результатов проведён анализ поляризационной чувствительности различных апертурных металлизированных зондов. Показано, что с ростом диаметра открытой части заострённого конца зонда происходит существенное перераспределение чувствительности в пользу поперечных компонент электрического поля и рост коэффициента передачи сигнала через зонд.
Острая фокусировка, пластинка с фазовым скачком, компоненты электрического поля, ближнепольный сканирующий микроскоп, металлизированные апертурные зонды
Короткий адрес: https://sciup.org/14059174
IDR: 14059174
Study of polarization sensitivity of near-field microscope using a binary phase plate
We investigate theoretically and experimentally distribution of electric field components in a focal plane at rotation of a plate with p-phase jump placed in the focused beams. We analyze the polarizing sensitivity of the various apertured metalized probes on the basis of comparison of theoretical and experimental results. It is shown, that with growth of diameter of the aperture window of a probe an essential change of sensitivity occurs in favor of transverse components of the electric field and growth of signal transfer factor of a probe.
