Исследование свойств лазерных диодов при криогенных температурах

Автор: Власов Анатолий Борисович

Журнал: Вестник Мурманского государственного технического университета @vestnik-mstu

Рубрика: Электротехника

Статья в выпуске: 1 т.18, 2015 года.

Бесплатный доступ

Проведен экспериментальный анализ физических и спектральных характеристик лазерных диодов при естественных и криогенных температурах.

Лазерный диод, криогенные температуры, излучение, длина волны

Короткий адрес: https://sciup.org/14294766

IDR: 14294766   |   УДК: 621.315.592

On properties of laser diodes at cryogenic temperatures

The experimental analysis of physical and spectral features of laser diodes at natural and cryogenic temperatures has been carried out.

Текст научной статьи Исследование свойств лазерных диодов при криогенных температурах

  • 1.    Введение

    Лазерные диоды используются в различных отраслях промышленности (Дворцов, Парфенов, 2014). Анализ электрофизических свойств полупроводниковых светоизлучательных приборов в широком интервале температур (Гулямов, Шарибаев, 2011) представляет интерес прежде всего с точки зрения детализации влияния криогенных температур на их параметры и характеристики излучения.

  • 2.    Результаты испытаний

В процессе испытаний исследовались свойства промышленных лазерных диодов ADL-65075TL, ADL-63058TL, которые при температуре Т = 300 К характеризуются длинами волн излучения 650 нм и 635 нм соответственно.

Вольтамперные характеристики лазерных диодов при комнатной температуре типичны и аналогичны зависимости, представленной на рис. 1. При напряжении 2,9-3,6 В ток через лазерный диод достигает 50-55 мА.

Рис. 1. Типичная вольтамперная характеристика лазерного диода LD65075TL

Яркость лазерного диода измерялась люксметром, приемное устройство которого располагалось на расстоянии 2 см от излучателя: при комнатной температуре яркость лазерного диода нелинейно возрастала при увеличении тока (рис. 2).

Схема установки позволяла наблюдать за излучением лазерного диода, погруженного в жидкий азот; длина волны излучения оценивалась с помощью монохроматора.

Температура поверхности лазерного диода измерялась с использованием термопары медь – константан, закрепленной на корпусе прибора.

Вестник МГТУ, том 18, № 1, 2015 г.    стр. 134-136

Рис. 2. Зависимость яркости излучения лазерного диода от тока

Длина волны излучения лазерного диода LD63058TL при понижении температуры в пределах от 20 до –80 °С уменьшалась от 635 нм до 615 нм (рис. 3). Данное явление обусловлено зависимостью ширины запрещенной зоны A E з от температуры ( Гулямов, Шарибаев , 2011).

Рис. 3. Зависимость длины волны излучения лазерного диода LD63058TL от температуры

В ходе эксперимента установлено относительное изменение яркости излучения E ( T )/ E 300 (рис. 4): при фиксированном токе через диод ( I = 30 мА) наблюдалось увеличение яркости излучения при уменьшении температуры от комнатной до 100 К.

3.    Выводы

Исследование свойств полупроводниковых лазерных диодов в широком интервале температур необходимо в процессе разработки новых приборов, предназначенных для дистанционной оценки температур ( Власов, Деревянкин , 2013).

Наблюдаемое изменение параметров лазерных диодов (длины волны и яркости излучения) представляет значительный интерес для усовершенствования оптических способов оценки температуры ( Власов , 2006), так как современные тепловизионные системы и точечные пирометры имеют рабочий диапазон эксплуатации не ниже 20-25 °С.

Перспективным направлением развития приборостроения является применение оптических датчиков, выполненных на основе лазерных диодов с использованием беспроводных источников напряжения.

Власов А.Б. Исследование свойств лазерных диодов…

-

Рис. 4. Относительное изменение яркости излучения Е ( Т )/ Е 300 лазерного диода DL65075TL

T, C

Список литературы Исследование свойств лазерных диодов при криогенных температурах

  • Власов А.Б. Модели и методы термографической диагностики объектов энергетики. М., Колос, 2006. 280 с
  • Власов А.Б., Деревянкин П.Г. Способ дистанционного измерения температуры среды. Патент РФ на изобретение. Заявка №2013129258/28(0436110), МКП G01K11/00 (2006.01); G01J3/28 (2006/01); G01J5/0(2006.01) от 25.06.2013
  • Гулямов Г., Шарибаев Н. Влияние температуры на ширину запрещенной зоны полупроводника. ФIП, ФИП, PSE. 2011. Т. 9, № 1. C. 40-43
  • Дворцов Д.В., Парфенов В.А. Спектральные характеристики одночастотного режима работы лазерных диодов. Научное приборостроение. 2014. Т. 24, № 3. C. 42-48