Исследовательские испытания интегральных микросхем
Автор: Мишанов Роман Олегович, Пиганов Михаил Николаевич
Журнал: Известия Самарского научного центра Российской академии наук @izvestiya-ssc
Рубрика: Информатика, вычислительная техника и управление
Статья в выпуске: 4-7 т.18, 2016 года.
Бесплатный доступ
В статье приводится информация о назначении и программе исследовательских испытаний микросхем, указывается связь обучающего эксперимента и исследовательских испытаний. Приведены важнейшие этапы методики обучающего эксперимента. Отмечены задачи каждого этапа методики. Указаны важнейшие дестабилизирующие факторы, влияющие на функционирование микросхем. На примере выборки микросхем 765ЛН2-1 ОС показано применение программы испытаний, определены режимы испытаний, выявлены наиболее информативные параметры. Приводятся структурные схемы измерения наиболее информативных параметров. Получены математические модели индивидуального прогнозирования для исследуемой выборки на основе полученных результатов испытаний.
Обучающий эксперимент, прогнозирование, исследовательские испытания, микросхемы, математическая модель, ток утечки, метод регрессионных моделей, метод дискриминантных функций
Короткий адрес: https://sciup.org/148204867
IDR: 148204867
Список литературы Исследовательские испытания интегральных микросхем
- Пиганов М.Н. Индивидуальное прогнозирование показателей качества элементов и компонентов микросборок. М.: Новые технологии, 2002. 267 с.
- Пиганов М.Н., Тюлевин С.В. Прогнозирование надежности радиоэлектронных средств//Научно-технические ведомости СПбГПУ. Серия «Информатика. Телекоммуникации. Управление». СПб.,2009. Вып.1. С.175-182.
- ГОСТ 16504-81. Испытания и контроль качества продукции. Основные термины и определения. М.: Изд-во стандартов, 1991. 48 с.
- Тюлевин С.В., Пиганов М.Н. Методика обучающего эксперимента при индивидуальном прогнозировании показателей качества космических РЭС//Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций: материалы всероссийской НТК 13 -15 мая 2008. Самара: Издательство СГАУ, 2008. С. 239-253.
- Пиганов М.Н. Испытания электронных средств специального назначения : электрон. учеб. пособие. Минобрнауки России, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С.П. Королёва (нац. исслед. ун-т). Электрон. текстовые и граф. дан. (1,86 Мбайт). Самара, 2012. 1 эл. опт. диск (CD-RW).
- Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения/А.И. Белоус, В.А. Емельянов, С.А. Ефименко, А.В. Прибыльский//Технология и конструирование в электронной аппаратуре. 2001. №4-5. С. 35-37.
