Эффекты от отдельных ядерных частиц во вторичных источниках питания
Автор: Кессаринский Леонид Николаевич, Бойченко Дмитрий Владимирович
Журнал: Спецтехника и связь @st-s
Статья в выпуске: 4-5, 2011 года.
Бесплатный доступ
Разработана схемотехническая модель реакции вторичного источника питания на воздействия одиночных ядерных частиц. Получены результаты экспериментальных исследований радиационного поведения ВИП на циклотроне «У-400М».
Ояч, тиристорный эффект, одиночный сбой, импульсный вторичный источник питания
Короткий адрес: https://sciup.org/14967050
IDR: 14967050
Список литературы Эффекты от отдельных ядерных частиц во вторичных источниках питания
- Чумаков А.И. Действие космической радиации на интегральные схемы. -М.: Радио и связь, 2004. -320 с.
- Testing Guidelines for Single Event Transient. Testing of Linear Devices./Poivey C., Buchner S., Howard J., LaBel K./NASA Goddard Space Flight Center, 2003.
- Total-Dose and Single-Event Effects in Switching DC/DC Power Converters./Adell P.C., Schrimpf R.D., Choi B.K., Holman W.T., Attwood J.P., Cirba C.R., Galloway K.F./IEEE Trans. Nucl. Sci., 2002. -Vol. NS-49. -№ 6. -PP. 3217 -3221.
- Total-Dose and Single-Event Effects in DC-DC Converter Control Circuitry./Adell P.C., Schrimpf R.D., Holman W.T., Boch J., Stacey J., Ribero P., Sternberg A., Galloway K.F./IEEE Trans. Nucl. Sci., 2003. -Vol. NS-50. -№ 6. -PP. 1867 -1872.
- Бойченко Д.В., Братко Д.В., Кессаринский Л.Н. Исследование радиационного поведения стабилизаторов напряжения разного типа./Научная сессия МИФИ-2008. Сб. науч. трудов. Т. 8 -М.: МИФИ, 2008. -С. 59 -60.
- Кессаринский Л.Н., Бойченко Д.В., Вавилов В.А. Исследование стойкости импульсных стабилизаторов к действию ионизирующего излучения и тяжелых заряженных частиц./10-я Российская научно-техническая конференция «Электроника, микро-и наноэлектроника». Сб. научн. трудов./Под ред. В.Я. Стенина. -М.: МИФИ, 2008. -С.187 -190.
- Киргизова А.В., Скоробогатов П.К., Никифоров А.Ю., Кессаринский Л.Н., Давыдов Г.Г., Петров А.Г. Моделирование ионизационной реакции элементов КМОП КНС микросхем при импульсном ионизирующем воздействии./Микроэлектроника. -М.: Наука, 2008. -том 37. -№1. -С. 28 -44.
- Чумаков А.И., Никифоров А.Ю., Скоробогатов П.К. и др. Расчетно-экспериментальные методы прогнозирования эффектов одиночных сбоев в элементах современной микроэлектроники./Микроэлектроника, 2003. -Том 32. -№ 2.
- Chumakov A.I., Nikiforov A.Y., Pershenkov V.S., Skorobogatov P.K. IC's Radiation Effects Modeling and Estimation./Microelectronics Reliability, 2000. -v. 40. -№ 12.
- Nikiforov A.Y., Chumakov A.I. Simulation of space radiation effects in microelectronic parts./Effects of space weather on technology infrastructure, 2004. Kluwer Academic Publishers, Netherlands.
Статья научная
