Контроль качества светодиодных источников света на основе фрактального моделирования температурного поля

В работе предложена математическая модель прогнозирования деградации светодиодных источников света, основанная на фрактальном анализе температурных полей и генеративном моделировании вероятностных флуктуаций. Температурные поля рассматриваются как фрактальные поверхности с выраженной самоподобной структурой, возникающей вследствие технологических отклонений и локальных тепловых эффектов. В качестве диагностического признака используется фрактальный показатель Хёрста, рассчитываемый на основе метода подсчёта ячеек (box-counting). Для генерации реалистичных температурных карт применяется модифицированный алгоритм случайных смещений (diamond-square), а также обобщённый фрактальный ряд Вейерштрасса. Предложенная модель учитывает влияние фрактальной неоднородности на скорость термической деградации и позволяет построить карту прогнозируемого времени до снижения светового потока до заданного уровня. Полученные результаты демонстрируют высокую точность при сравнении с экспериментальными данными (среднее отклонение менее 2 °C). Модель может быть использована в системах автоматизированного контроля на производственной стадии, включая термографическую диагностику, адаптивное тестирование и сортировку изделий по критерию стабильности параметров.