Кремниевые p-i-n фотодиоды для рентгеновской диагностики короткоживущей плазмы

Автор: Голубев А.В., Акулиничев В.В.

Журнал: Научное приборостроение @nauchnoe-priborostroenie

Рубрика: Оригинальные статьи

Статья в выпуске: 1 т.11, 2001 года.

Бесплатный доступ

В работе дано краткое описание методики исследования временных и спектральных характеристик детекторов мягкого рентгеновского излучения в интервале энергий фотонов от нескольких десятков до тысячи электронвольт. Представлены измеренные характеристики (время нарастания сигнала, временнóе разрешение, абсолютная спектральная чувствительность) и определенные по результатам измерений параметры (толщины контактного, "мертвого" и чувствительного слоев) некоторых типов быстрых кремниевых p-i-n фотодиодов различных производителей (Siemens, Hamamatsu, Motorola, НИИИТ/Москва), которые могут быть использованы в аппаратуре для рентгеновской диагностики плазмы с временным разрешением около 1 ns и лучше.

Еще

Короткий адрес: https://sciup.org/14264160

IDR: 14264160   |   УДК: 621.383

Silicon p-i-n photodiodes for x-ray diagnostics of short-lived plasma

The paper presents a brief outline of a method for studying temporal and spectral characteristics of soft X-ray detectors in the photon energy range from several tens to a thousand of electron-volts. The measured characteristics (signal rise time, temporal resolution, absolute spectral sensitivity) are given as well as parameters calculated from the measured data (thicknesses of contact, "dead", and sensitive layers) of some types of fast silicon p-i-n photodiodes from different manufacturers (Siemens; Hamamatsu; Motorola; RIIT, Moscow), which may be used in the instrumentation for X-ray plasma diagnostics with a temporal resolution of 1 ns and better.

Еще

Список литературы Кремниевые p-i-n фотодиоды для рентгеновской диагностики короткоживущей плазмы

  • Cuderman J.F., Glibert K.M.//Rev. Sci. Instrum. 1975. V. 46. P. 53-57.
  • Hohlfelder J.J.//Adv. in X-ray Analysis. 1973. V. 17. P. 531-541.
  • Альбиков З.А., Белик В.П., Бобашев С.В. и др.//Диагностика плазмы./Под ред. М.И. Пергамента. М.: Атомиздат, 1989. Вып. 6. С. 48-52.
  • Renner O., Krousky E., Pina L.//Czech. J. Phys. 1992. V. 42. P. 1-9.
  • Jach T., Cowan P.L.//Nucl. Instrum. and Meth. 1983. V. 208. P. 423-426.
  • Fiedorowicz H., Parys P., and Ryc L.//Proc. SPIE. 1989. V. 1140. P. 91-94.
  • 7. Henke B.L., Gullikson E.M., Davis J.C. // At. Data Nucl. Data Tables. 1993. V. 54. P. 181-342; html://www-cxro.lbl.gov/optical_constants/.
  • Pina L.//Czech. J. Phys. 1985. V. A35. P. 363-367.
  • Pivinskii Е., Akulinichev V., Gorbunov V.//Proc. SPIE. 1997. V. 2986. P. 231-238.
  • Акулиничев В.В., Мавричев М.Е., Пивин-ский Е.Г.//Оптика и спектроскопия. 1994. Т. 76. С. 681-684.
  • Голубев А.В., Сорокин А.А., Пивинский Е.Г. и др.//ЖТФ. 1999. Т. 69, № 5. С. 83-88.
  • Новицкий Л.А., Степанов Б.М. Фотометрия быстропротекающих процессов. М.: Машиностроение, 1983. 296 с.
  • Stradling G.L., Attwood D.T., Kauffman R.L.//IEEE J. Quantum Electron. 1983. V. QE-19. P. 604-615.
  • Corallo D.M., Creek D.M., Murray G.M.//J. Phys. E. 1980. V. 13. P. 623-626.
  • Tegeler E.//Physica Scripta. 1990. V. 31. P. 215-222.
  • Scholze F., Rabus H., Ulm G.//Appl. Phys. Lett. 1996. V. 69. P. 2974-2976.
  • Gullikson E.M., Korde R., Canfield L.R. et al.//J. Electr. Spectr. Rel. Phenom. 1996. V. 80. P. 313-316.
  • Rabus H., Persch V., Ulm G.//Appl. Optics. 1997. V. 36. P. 5421-5440.
  • Bobashev S.V. and Shmaenok L.A.//Rev. Sci. Instrum. 1981. V. 51. P. 16-20.
  • Krumrey M. and Tegeler E.//Rev. Sci. Instrum. 1992. V. 63. P. 797-801.
  • Bobashev S.V., Volkov G.S., Golubev A.V. et al.//Physica Scripta. 1991. V. 43. P. 356-366.
  • Бобашев С.В., Голубев А.В., Мосесян Д.А. и др.//ЖТФ. 1995. Т. 65, № 10. С. 62-73.
  • Полупроводниковые детекторы в экспериментальной физике/Под ред. Акимова Ю.К. М.: Энергоатомиздат, 1989. 344 c.
  • Сорокин А.А., Шмаенок Л.А., Белик В.П. и др.//Письма в ЖТФ. 1996. Т. 22, № 4. С. 15-24.
  • Hebach M., Simanovskii D., Bobashev S. et al.//Plasma Sourc. Sci. Technol. 1993. V. 2. P. 296-300.
  • Krejci A., Raus J., Piffl V. et al.//IEEE Trans. Plasma Sci. 1993. V. 21. P. 584-587.
  • Golubev A.V. and Krejci A.//Soft-X-rays of Nitrogen Z-pinch, Research Report IPPCZ-352. Prague, 1995. 18 p.
Еще