Квазипланарные бессеточные ионные зеркала в многоотражательных времяпролетных масс-анализаторах
Автор: Помозов Т.В., Веренчиков А.Н., Явор Михаил Игоревич
Журнал: Научное приборостроение @nauchnoe-priborostroenie
Рубрика: Физика приборостроения
Статья в выпуске: 3 т.25, 2015 года.
Бесплатный доступ
В работе рассмотрен способ периодической фокусировки ионов в направлении дрейфа во многоотражательном времяпролетном анализаторе с зигзагообразной траекторией движения ионов, основанный на периодической пространственной модуляции электростатического поля в ионных зеркалах в указанном направлении. Указанный способ позволяет не только осуществлять удержание ограниченных размеров пакетов ионов в направлении дрейфа, но также в комбинации с набором периодических одиночных линз формировать свойство пространственной изохронности ионных пакетов во втором аберрационном порядке в этом направлении.
Многоотражательный времяпролетный масс-анализатор, бессеточное ионное зеркало, фокусировка, пространственная изохронность
Короткий адрес: https://sciup.org/14264981
IDR: 14264981
Список литературы Квазипланарные бессеточные ионные зеркала в многоотражательных времяпролетных масс-анализаторах
- Toyoda M., Okumura D., Ishihara M., Katakuse I. Multi-turn time-of-flight mass spectrometers with electrostatic sectors//J. Mass Spectrom. 2003. Vol. 38, no. 11. P. 1125-1142 DOI: 10.1002/jms.546
- Satoh T., Tsuno H., Iwanaga M., Kammei Y. The design and characteristic features of a new time-of-flight mass spectrometer with a spiral ion trajectory//J. Am. Soc. Mass Spectrom. 2005. Vol. 16. P. 1969-1975 DOI: 10.1016/j.jasms.2005.08.005
- Wolnik H. History of mass measurements in time-of-flight mass analyzers//Int. J. Mass Spectrom. 2013. Vol. 349-350. P. 38-46 DOI: 10.1016/j.ijms.2013.04.023
- Wollnik H., Przewloka M. Time-of-flight mass spectrometers with multiply reflected ion trajectories//Int. J. Mass Spectrom. Ion Processes. 1990. Vol. 96. P. 267-274 DOI: 10.1016/0168-1176(90)85127-N
- Явор М.И., Веренчиков А.Н. Сравнительный анализ многопроходных времяпролетных масс-анализаторов на основе зеркал и секторных полей//Научное приборостроение. 2006. Т. 16, № 3. С. 21-29.
- Wollnik H., Casares A. An energy-isochronous multi-pass time-of-flight mass spectrometer consisting of two coaxial electrostatic mirrors//Int. J. Mass Spectrom. 2003. Vol. 227, no. 2. P. 217-222 DOI: 10.1016/S1387-3806(03)00127-1
- Yavor M.I., Plaß W.R., Dickel T. et al. Ion-optical design of a high-performance multiple-reflection time-of-flight mass spectrometer and isobar separator//Int. J. Mass Spectrom. 2015. Vol. 381-382. P. 1-9 DOI: 10.1016/j.ijms.2015.01.002
- Wolf R.N., Wienholtz F., Atanasov D. et al. ISOLTRAP’s multi-reflection time-of-flight mass separator/spectrometer//Int. J. Mass Spectrom. 2013. Vol. 349-350. P. 123-133 DOI: 10.1016/j.ijms.2013.03.020
- Schury P., Wada M., Ito Y. et al. A high-resolution multi-reflection time-of-flight mass spectrograph for precision mass measurements at RIKEN/SLOWRI//Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2014. Vol. 335. P. 39-53 DOI: 10.1016/j.nimb.2014.05.016
- Nazarenko L.M., Sekunova L.M., Yakushev E.M. Time-of-flight mass spectrometer with multiple reflection. SU Patent 1725289, 1992.
- Веренчиков А.Н., Явор М.И. Планарный многоотражательный времяпролетный масс-анализатор, работающий без ограничения диапазона масс//Научное приборостроение. 2004. Т. 14, № 2. С. 38-45.
- Веренчиков А.Н., Явор М.И., Хасин. Ю.И. и др. Многоотражательный планарный масс-анализатор. I. Анализатор для параллельного тандемного спектрометра//ЖТФ. 2005. Т. 75, № 1. С. 74-83.
- Yavor M., Verentchikov A., Hasin Yu. et al. Planar multi-reflecting time-of-flight mass analyzer with a jigsaw ion path//Physics Procedia. 2008. Vol. 1, no. 1. P. 391-400 DOI: 10.1016/j.phpro.2008.07.120
- Помозов Т.В., Явор М.И. О возможности улучшения характеристик планарных бессеточных ионных зеркал//Научное приборостроение. 2011. Т. 21, № 2. С. 90-97.
- Verentchikov A., Yavor M. Quasi-planar multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer. US Patent 2011/0186729, 2011.
- Verentchikov A., Berdnikov A., Yavor M. Stable ion beam transport through periodic electrostatic structures: linear and non-linear effects//Physics procedia. 2008. Vol. 1, no. 1. P. 87-97 DOI: 10.1016/j.phpro.2008.07.082
- Ristroph T., Flory C.A. Time-of-flight mass spectrometer with curved ion mirrors. US Patent 2011//0168880 A1.
- Manura D.J., Dahl D.A. SIMIONTM 8.0 User Manual. Sci. Instrument Services Inc. Idaho. Nat. Lab., 2006.
