Лабораторный модуль для контроля поверхности полупроводниковых структур
Автор: Устюгов Е.А.
Журнал: Теория и практика современной науки @modern-j
Рубрика: Основной раздел
Статья в выпуске: 12 (42), 2018 года.
Бесплатный доступ
Данная статья посвящена модулю для контроля поверхности полупроводниковых структур. В электронике широко применяются различные полупроводниковые приборы. Их поверхность и свойства играют очень значимую роль в производстве и дальнейшем использовании. Поэтому разработка достаточно простых и надежных методов и приборов, позволяющих контролировать плоскостность полупроводниковых пластин в условиях автоматизированного промышленного производства, является ключевым моментом.
Контроль поверхности, полупроводники, плоскостность, ферриты-гранаты, лабораторный модуль
Короткий адрес: https://sciup.org/140272726
IDR: 140272726
Список литературы Лабораторный модуль для контроля поверхности полупроводниковых структур
- Метод и установка контроля плоскостности кремниевых пластин. [Текст]: учеб. пособие для вузов / В. А. Пилипенко [и др.] - Минск.: Интеграл, 2010. - 6 с.
- Электротехника [Электронный ресурс] / Классификация оптоэлектронных полупроводниковых приборов - Режим доступа: http://еlеctrоnо.ru/2-1-klassifikaciya-оptоеlеktrоnnyh-pоluprоvоdnikоvyh-pribоrоv-kvant_оpt, свободный. - Загл. с экрана.
- Техник [Электронный ресурс] / История развития электроники - Режим доступа: http://www.tеxnic.ru/tооls/stud/l/l004.htm, свободный. - Загл. с экрана.
- Карпенков С. Х. Технические средства информационных технологий. [Текст] / С. Х. Карпенков - М.- Берлин.: Директ - Медиа, 2015. -376 с.
- Применение диодов [Электронный ресурс]. - Режим доступа: http://hightоlоw.ru/diоdеApplying.php, свободный. - Загл. с экрана.
- Студфайлес [Электронный ресурс] / Основные методы получения полупроводниковых материалов - Режим доступа: https://studfilеs.nеt/prеviеw/2805474/pagе:5/, свободный. - Загл. с экрана.
- Полупроводники [Электронный ресурс]. - Режим доступа: http://hightоlоw.ru/sеmicоnductоrs1.html, свободный. - Загл. с экрана.
- Суворов Э. В. Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов. [Текст]: учеб. пособие для академического бакалавриата / Э. В. Суворов. - 2 - е изд., - М.: Юрайт, 2018. - 180 с.
- Климков Ю. М. Основы расчета оптико-электронных приборов с лазерами. [Текст]: / Ю. М. Климков - М.: Сов. радио, 1978. - 262 с.
- Шмидт В. Оптическая спектроскопия для химиков и биологов. [Текст]: / В. Шмидт - М.: Техносфера, 2007. - 366 с.
