Лазерные имитаторы «ПИКО» для испытаний электронной компонентной базы на стойкость к воздействию отдельных ядерных частиц
Автор: Егоров Андрей Николаевич, Маврицкий Олег Борисович, Чумаков Александр Иннокентьевич, Никифоров Александр Юрьевич, Телец Виталий Арсеньевич, Печенкин Александр Александрович, Яненко Андрей Викторович
Журнал: Спецтехника и связь @st-s
Статья в выпуске: 4-5, 2011 года.
Бесплатный доступ
В работе приведено описание разработанных в ЭНПО СПЭЛС лазерных имитационных комплексов семейства «ПИКО», основанных на использовании сфокусированного лазерного излучения пикосекундной длительности и предназначенных для проведения научных исследований и испытаний интегральных схем на стойкость к воздействию высокоэнергетичных отдельных заряженных частиц. Обсуждаются основные требования к лазерным имитаторам подобного класса, представлены краткое описание и технические характеристики созданных комплексов
Отдельная заряженная частица; одиночный сбой; радиационная стойкость; пикосекундные лазерные импульсы; лазерные имитационные испытания
Короткий адрес: https://sciup.org/14967065
IDR: 14967065
Список литературы Лазерные имитаторы «ПИКО» для испытаний электронной компонентной базы на стойкость к воздействию отдельных ядерных частиц
- Чумаков А.И. Действие космической радиации на ИС. -М.: Радио и связь, 2004. -320 с.
- Messenger G.C., Ash M.S. Single Event Phenomena. -N.Y.:Chapman & Hall, 1997. -368 p.
- Чумаков А.И., Печенкин А.А., Егоров А.Н., Маврицкий О.Б. и др. Методика оценки параметров чувствительности ИС к тиристорному эффекту при воздействии отдельных ядерных частиц./Микроэлектроника, 2008. -Т. 37. -№ 1. -С. 45 -51.
- Чумаков А.И. Взаимосвязь эквивалентных значений линейных потерь энергии тяжелых заряженных частиц и энергии сфокусированного лазерного излучения./Микроэлектроника, 2011. -Т. 40. -№ 3. -С. 163 -169.
- Buchner S., et al. Laboratory Tests for Single-Event Effects./IEEE Trans. on Nuclear Science, 1996 -V. NS-43. -№ 2. -PР. 678 -686
- Jones et al. Comparison between SRAM SEE cross-section from ion beam testing with those obtained using a new picosecond pulsed laser facility./IEEE Trans. on Nuclear Scienceю, 2000. -V. NS-47. -№ 4. -PР. 539 -544.
- Чумаков А.И., Егоров А.Н., Маврицкий О.Б., Яненко А.В. Возможности использования локального лазерного излучения для моделирования эффектов от воздействия отдельных ядерных частиц в ИС./Микроэлектроника, 2004. -Т. 33. -№ 2. -С. 128 -133.
- Никифоров А.Ю., Чумаков А.И., Яненко А.В., Артамонов А.С., Калашников О.А., Скоробогатов П.К., Телец В.А., Брянда О.Е., Герасимов В.Ф., Улимов В.Н. Методы испытаний на стойкость к воздействию радиационных факторов космического пространства и импульсную электрическую прочность./В сб.: Модель космоса: Научно-информ. изд.: В 2 т./Под ред. М.И. Панасюка, Л.С. Новикова. -Т.2: Воздействие космической среды на материалы и оборудование космических аппаратов. -М.: КДУ, 2007. -С. 815 -833.
- Чумаков А.И., Печенкин А.А., Егоров А.Н., Маврицкий О.Б., Баранов С.В., Васильев А.Л., Яненко А.В. Методика оценки параметров чувствительности ИС к тиристорному эффекту при воздействии отдельных ядерных частиц./Микроэлектроника, 2008. -Т. 37. -№ 1. -С. 45 -51.
- Чумаков А.И. Радиационные эффекты в ИС от отдельных ядерных частиц./В сб.: Модель космоса: Научно-информ. изд.: В 2 т./Под ред. М.И. Панасюка, Л.С. Новикова. -Т.2: Воздействие космической среды на материалы и оборудование космических аппаратов. -М.: КДУ, 2007. -С. 494 -518.
- Чумаков А.И. Оценка параметров чувствительности БИС по одиночным эффектам с помощью лазерного излучения./Сб. трудов 4-й Всерос. научн.-техн. конф. «Проблемы разработки перспективных микро-и наноэлектронных систем-2010». -М.: ИППМ РАН, 2010. -С. 265 -268.
