Локализация мест установки закладных устройств методом импульсной рефлектометрии
Автор: Михайловская Анастасия Сергеевна, Панцыр Родион Яковлевич
Журнал: Бюллетень науки и практики @bulletennauki
Рубрика: Технические науки
Статья в выпуске: 5 (6), 2016 года.
Бесплатный доступ
Данная статья посвящена обзору метода импульсной рефлектометрии и особенностям поиска закладных устройств с помощью рефлектометров на примере программно-аппаратного комплекса для исследования сигналов в проводных линиях «Сириус». Проведен сравнительный анализ рефлектограмм, полученных в результате исследования различных дефектов и подключений к кабелю. Такие рефлектограммы позволяют определить точное расстояние до подключения, давая возможность обнаруживать закладные устройства.
Закладное устройство, рефлектометр, метод импульсной рефлектометрии, рефлектограмма, волновое сопротивление, коэффициент укорочения кабеля
Короткий адрес: https://sciup.org/14112356
IDR: 14112356 | УДК: 621.391 | DOI: 10.5281/zenodo.54827
Analysis of time domain reflectometry for secret intelligence devices location
This article provides an overview of the time-domain reflectometry and secret intelligence devices location using reflectometers an example of equipment for data investigation in wired lines “Sirius”. It resulted in the comparative analysis of the traces obtained from the study of various defects and connections to the cable. Such traces are possible to determine the exact distance to the connection. It gives the ability to detect secret intelligence devices.
Список литературы Локализация мест установки закладных устройств методом импульсной рефлектометрии
- Физическая энциклопедия. В 5-ти томах/под ред. А. М. Прохорова. М.: Советская энциклопедия, 1988.
- Lo C., Furse C. Reflectometry for Locating Wiring Faults. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2005, no. 47, pp. 97-104.
- Smith P., Furse C., Gunther J. Analysis of Spread Spectrum Time Domain Reflectometry for Wire Fault Location. IEEE Sensors Journal, 2005, no. 5. pp. 1469-1478.
- Дьяконов В. П. Рефлектометрия и импульсные рефлектометры//Компоненты и технологии. 2012. №1 (126). С. 164-172.
- Кравцов Ю. А., Сахаров А. Н. xDSL: диагностика кабельных линий//Вестник связи. 2002. №8.
- Руководство по эксплуатации программно-аппаратного комплекса для исследования сигналов в проводных линиях «Сириус»//Официальный сайт ОАО «НОВО». Режим доступа: http://www.novocom.ru/(дата обращения: 10.04.2016).
- Коэффициент укорочения кабеля//Официальный сайт фирмы «СТЭЛЛ». Режим доступа: http://www.eurostell.com/methods/koefficient-ukorocheniya-kabelya/(дата обращения: 02.04.2016).
- Song E., Shin Y. J., Stone P. E., Wang J., Choe T. S., Yook J. G., Park J. B. Detection and Location of Multiple Wiring Faults via Time-Frequency-Domain Reflectometry. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2009, no. 51, pp. 131-138.
