Локализация мест установки закладных устройств методом импульсной рефлектометрии
Автор: Михайловская Анастасия Сергеевна, Панцыр Родион Яковлевич
Журнал: Бюллетень науки и практики @bulletennauki
Рубрика: Технические науки
Статья в выпуске: 5 (6), 2016 года.
Бесплатный доступ
Данная статья посвящена обзору метода импульсной рефлектометрии и особенностям поиска закладных устройств с помощью рефлектометров на примере программно-аппаратного комплекса для исследования сигналов в проводных линиях «Сириус». Проведен сравнительный анализ рефлектограмм, полученных в результате исследования различных дефектов и подключений к кабелю. Такие рефлектограммы позволяют определить точное расстояние до подключения, давая возможность обнаруживать закладные устройства.
Закладное устройство, рефлектометр, метод импульсной рефлектометрии, рефлектограмма, волновое сопротивление, коэффициент укорочения кабеля
Короткий адрес: https://sciup.org/14112356
IDR: 14112356 | DOI: 10.5281/zenodo.54827
Список литературы Локализация мест установки закладных устройств методом импульсной рефлектометрии
- Физическая энциклопедия. В 5-ти томах/под ред. А. М. Прохорова. М.: Советская энциклопедия, 1988.
- Lo C., Furse C. Reflectometry for Locating Wiring Faults. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2005, no. 47, pp. 97-104.
- Smith P., Furse C., Gunther J. Analysis of Spread Spectrum Time Domain Reflectometry for Wire Fault Location. IEEE Sensors Journal, 2005, no. 5. pp. 1469-1478.
- Дьяконов В. П. Рефлектометрия и импульсные рефлектометры//Компоненты и технологии. 2012. №1 (126). С. 164-172.
- Кравцов Ю. А., Сахаров А. Н. xDSL: диагностика кабельных линий//Вестник связи. 2002. №8.
- Руководство по эксплуатации программно-аппаратного комплекса для исследования сигналов в проводных линиях «Сириус»//Официальный сайт ОАО «НОВО». Режим доступа: http://www.novocom.ru/(дата обращения: 10.04.2016).
- Коэффициент укорочения кабеля//Официальный сайт фирмы «СТЭЛЛ». Режим доступа: http://www.eurostell.com/methods/koefficient-ukorocheniya-kabelya/(дата обращения: 02.04.2016).
- Song E., Shin Y. J., Stone P. E., Wang J., Choe T. S., Yook J. G., Park J. B. Detection and Location of Multiple Wiring Faults via Time-Frequency-Domain Reflectometry. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2009, no. 51, pp. 131-138.
