Математическое моделирование рентгеновской дифракции на пористых кристаллах. 1. Когерентное рассеяние

Автор: Пунегов Василий Ильич

Журнал: Известия Коми научного центра УрО РАН @izvestia-komisc

Статья в выпуске: 3 (11), 2012 года.

Бесплатный доступ

В рамках статистической динамической теории дифракции рентгеновских лучей на пористых кристаллах проведено численное моделирование углового распределения интенсивности когерентного рассеяния вблизи узла обратной решетки. Показаны особенности формирования контуров равной интенсивно- сти, а также вертикальных и латеральных сечений когерентного рассеяния в обратном пространстве от пористых пленок, многослойных структур и сверх- решеток в зависимости от величины статического фактора Дебая-Валлера и упругих деформаций в пористых слоях.

Статистическая теория рентгеновской дифракции, когерентное рассеяние, пористые кристаллы, численное моделирование

Короткий адрес: https://sciup.org/14992539

IDR: 14992539

Список литературы Математическое моделирование рентгеновской дифракции на пористых кристаллах. 1. Когерентное рассеяние

Uhlir A. Electrolytic shaping of germanium and silicon//Bell System Tech. J. 1956. Vol. 35. P. 333-347.
Canham L.T. Si Quantum Wire Array Fabrication by Electrochemical and Chemical Dissolution//Appl. Phys. Lett. 1990. Vol. 57. P.1046-1048.
Lehmann V., Gösele U. Porous Silicon Formation: A Quantum Wire Effect//Appl. Phys. Lett. 1991. Vol. 58. P. 856-858.
Cullis G., Canham L.T, Calcott P. D. J. The structural and luminescence properties of porous silicon J. Appl. Phys., 1997. Vol. 82, P. 909-965.
Kochergin V., Föll H. Porous Semiconductors. Optical Properties and Applications. Springer-Verlag, London, 2009. 207p.
Lomov A.A. Bellet D., Dolino G. X-ray Diffraction Study of Thin Porous Silicon Layers.//Phys. Stat. Sol. (b). 1995. Vol.190. P. 219-226.
Punegov V.I, Lomov A.A., Shcherbachev K.D. Characterization of InP porous layer by highresolution x-ray diffraction//Phys. Stat. Sol. (a). 2007. Vol. 204. P. 2620-2625.
Пунегов В.И., Ломов А.А. Теория дифракции рентгеновских лучей в нанопористых кристаллах с латеральной квазипериодичностью//Письма в ЖТФ. 2008. Т.34, № 6. C.30-35.
А.А.Ломов, В.И.Пунегов, А.Л.Васильев, Д.Но-хавица, П.Гладков, А.А.Карцев, Д.В.Новиков//Кристаллография. 2010. Т.55. № 2. С. 196-204.
Пунегов В.И., Ломов А.А. О рассеянии рентгеновских лучей на многослойных пористых структурах//Письма в ЖТФ. 2010. Т. 36. № 3. C.47-60.
Kato N. Statistical Dynamical Theory of Crystal Diffraction. I. General Formulation//Acta Cryst. A. 1980. Vol.36. P. 763-769.
Takagi S. A Dynamical Theory of Diffraction for a Distorted Crystal//J. Phys. Soc. Japan 1969. Vol. 26. P.1239-1253.
Punegov V.I., Nesterets Ya.I., Roshchupkin D.V. Coherent and diffuse X-ray scattering in crystals modulated by surface acoustic wave//J. Appl. Cryst. 2010. Vol. 43. N.3. P. 520-530.
Punegov V.I. X-ray diffraction from multilayer structures with statistically distributed microdefects.//Phys.Stat.Sol. (a). 1993. Vol. 136. P. 9-19.
Пунегов В.И. Динамическая дифракция на слоисто-неоднородных системах с дефектами//Письма в ЖТФ. 1994. Т.20. №.2. С.25-29.
Ida T., Ando M., Toraya H. Extended pseudo-Voigt function for approximating the Voigt profile.//J. Appl. Cryst. 2000. Vol. 33. P. 1311-1316.
Stepanov S.A.//http://sergey.gmca.aps.anl.gov
Nohavica D., Gladkov P., Zelinka J., Dvořák M., Pirov J. "Micro-and Nanopores Formation in A III B V Semiconductors"//Proc. of the Conf., NANO. 2004, Brno, Czech Republic. P.176-182.
Arsentyev I.N., Bobyl A.B., Konnikov S.G. et al. Porous nanostructured InP: technology, properties, application//Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, 2005. Vol. 8, N 4. P. 95-104.
Authier A. Dynamical Theory of X-Ray Diffraction. Oxford University Press, New York. 2001. 661p.
Berger M.G., Dieker C., Thonissen M. et al. Porosity superlattice: a new class of Si heterostructures//J. Phys. D: Appl. Phys. 1994. Vol. 27. 1333-1336.
Buttard D., Bellet D., Baumbach T. X-ray diffraction investigation of porous silicon superlattices//Thin Solid Films. 1996. Vol. 276. P. 69-72.
Buttard D., Bellet D., Dolino G., Baumbach T. Thin layers and multilayers of porous silicon: X-ray diffraction investigation//J. Appl. Phys. 1998. Vol. 83. P. 5814-5822.
Buttard D., Bellet D., Dolino G., Baumbach T. X-ray diffuse scattering of p-type porous silicon//J. Appl. Phys. 2002. Vol. 91. P. 2742-2752.

Еще

Статья научная