Метод когерентного контроля глубины поверхностного микрорельефа голограммных и дифракционных оптических элементов
Автор: Колючкин Василий Васильевич, Злоказов Евгений Юрьевич, Одиноков Сергей Борисович, Талалаев Владимир Евгеньевич, Цыганов Иван Константинович
Журнал: Компьютерная оптика @computer-optics
Рубрика: Дифракционная оптика, оптические технологии
Статья в выпуске: 4 т.39, 2015 года.
Бесплатный доступ
Защитные голограммы применяются в качестве элементов, подтверждающих подлинность документов и различной продукции. Качество защитных голограмм в значительной степени зависит от глубины поверхностного микрорельефа голограммных и дифракционных оптических элементов. Авторами статьи предлагается метод контроля качества защитных голограмм, основанный на непрямых измерениях параметров микрорельефа. В статье представлены результаты теоретических исследований предложенного метода.
Голография, дифракционные решётки, теория дифракции, голографические оптические элементы, дифракционные оптические элементы
Короткий адрес: https://sciup.org/14059391
IDR: 14059391 | DOI: 10.18287/0134-2452-2015-39-4-515-520
A coherent measurement method for checking the surface microrelief depth in holographic and diffractive optical elements
Security holograms have been widely used for document and product authenticity protection. The quality of security holograms and master-matrices significantly depends on the perfection of the diffraction grating. The authors introduce a method for checking the security hologram quality based on indirect measurements of diffraction grating parameters. Theoretical results concerned with the use of this method for microrelief quality control are discussed.
Список литературы Метод когерентного контроля глубины поверхностного микрорельефа голограммных и дифракционных оптических элементов
- Kolyuchkin, V.V. Correlation method for quality control of master matrix used for embossing security holograms/V.V. Kolyuchkin, A.Yu. Zherdev, E.Yu. Zlokazov, D.S. Lushnikov, S.B. Odinokov, A.V. Smirnov//Holography: Advances and Modern Trends III, Proceedings of SPIE. -2013. -Vol. 8776 -P. 87760A.
- Бессемельцев, В.П. Контроль качества отражающих голограмм методами конфокальной микроскопии/В.П. Бессемельцев//XI международная конференция Голоэкспо-2014: сборник научных трудов. -2014. -С. 50-53.
- Беляцкий, М.А. Устройство и алгоритм проверки подлинности защитных голограмм/М.А. Беляцкий, Ю.Д. Карякин, Р.В. Телятников, М.Л. Чиканова, И.П. Шумский//XI международная конференция Голоэкспо-2014: сборник научных трудов. -2014. -С. 64-67.
- Хорохоров, А.М. Исследование влияния параметров фазовых дифракционных решёток на распределение интенсивности дифрагированного света при формировании цветокодированных изображений/А.М. Хорохоров, А.М. Клищук, И.К. Цыганов, С.Б. Одиноков, А.Ф. Ширанков//Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. Приборостроение. -2005. -№ 4. -С. 13-26.
- Борн, М. Основы оптики/М. Борн, Э. Вольф; под ред. Г.П. Мотулевич. -Изд. 2-е. -М.: Наука, 1973. -С. 341-362.
