Метод параметрического оценивания оптико-электронного тракта системы дистанционного формирования оптического изображения

Автор: Баврина Алина Юрьевна, Мясников Владислав Валерьевич, Cергеев Александр Владиславович

Журнал: Компьютерная оптика @computer-optics

Рубрика: Обработка изображений: Восстановление изображений, выявление признаков, распознавание образов

Статья в выпуске: 4 т.35, 2011 года.

Бесплатный доступ

Предложен метод определения структуры и оценки параметров оптико-электронного тракта (ОЭТ). В основу метода положен анализ перепада яркости на границах изображений объектов, используемый для получения реализации сечения амплитудно-частотной характеристики (АЧХ) ОЭТ. Принцип работы метода, позволяющий осуществлять оценку параметров ОЭТ, заключается в минимизации показателя, характеризующего интегральную величину отклонения реализаций сечений АЧХ ОЭТ от математической модели АЧХ, известной с точностью до этих параметров. Экспериментальное исследование иллюстрирует эффективность предложенного метода оценки структуры и параметров ОЭТ и границы его применения.

Еще

Оптико-электронный тракт, амплитудно-частотная характеристика, параметрическая оценка, генетический алгоритм

Короткий адрес: https://sciup.org/14059046

IDR: 14059046

Method of parametric estimation of optoelectronic tract of remote sensed optical image formation

Method of definition of a structure and estimation of parameters of optoelectronic tract (OET) is suggested in the work. The method uses the places of «jump» of image intensity function, that occurs on the borders of imaged objects, for obtaining of realizations of sections of amplitude frequency response (AFR) of OET. The principle of the method that allows to fulfill the OET parameters estimation consists in minimization of the criterion that characterizes cumulative value of the difference between realizations of AFR sections and mathematical model of AFR that is known up to these parameters. Experimental investigation illustrates the effectiveness of suggested method of OET structure and parameters estimation and the limits of its competence.

Еще