The semilattice identifier method to test diagnostics of functional units of microprocessors
Автор: Tyajev A.T.
Журнал: Технико-технологические проблемы сервиса @ttps
Рубрика: Диагностика и ремонт
Статья в выпуске: 2 (28), 2014 года.
Бесплатный доступ
Considered the method of constructing tests of search defects of minimum length for functional units of microprocessors preserving the greatest possible depth of the search.
Functional unit of a microprocessor, a test search for defects, technical diagnostics
Короткий адрес: https://sciup.org/148186160
IDR: 148186160
Статья научная
