Метод полурешетки идентификаторов для тестового диагностирования функциональных узлов микропроцессоров
Автор: Тяжев А.Т.
Журнал: Технико-технологические проблемы сервиса @ttps
Рубрика: Диагностика и ремонт
Статья в выпуске: 2 (28), 2014 года.
Бесплатный доступ
Рассматривается метод построения для функциональных узлов микропроцессоров тестов поиска дефектов минимальной длины при сохранении максимально возможной глубины поиска.
Функциональный узел микропроцессора, тест поиска дефектов, техническая диагностика
Короткий адрес: https://sciup.org/148186160
IDR: 148186160
Статья научная
