Метод расчета акустических напряжений при шестилучевой дифракции в слоистых средах
Автор: Беляев Ю.Н.
Статья в выпуске: 4, 2018 года.
Бесплатный доступ
Теоретически исследуются напряжения, возникающие в слоистой среде в результате воздействия акустической волны. В общем случае под действием падающей упругой волны в анизотропном слое формируются шесть волн, три из которых направлены в область отражения и три - в область прохождения. Напряженно-деформированное состояние слоя является результатом суммарного воздействия этих волн и описывается уравнениями движений сплошной среды и обобщенным законом Гука. Эта система дифференциальных уравнений решается относительно компонент вектора смещения и тензора напряжений в декартовой системе координат в матричной форме. Компоненты вектора смещений и тензора напряжений на двух противоположных границах слоя толщиной di выражаются друг через друга с помощью матрицы переноса шестого порядка Ti = exp(Wi di). Вычисление этой экспоненты проводится с помощью многочленов главных миноров матрицы Wi и не требует нахождения собственных значений матрицы Wi. Этот метод обеспечивает более точное и надежное вычисление матрицы переноса N-слойной среды T = TNTN-1…T1 в сравнении с другими известными алгоритмами. Амплитуды волн, рассеянных анизотропным слоем, выражены через элементы матрицы переноса. Распределение акустических напряжений по толщине анизотропного слоя определяется амплитудами рассеянных волн и элементами соответствующих матриц переноса. Этот способ расчета акустических напряжений продемонстрирован для падающих волн SH-, SV- и P-типа на трехслойной модели: изотропный слой - кристаллический слой - изотропный слой. Приведено сравнение спектров рассеяния упругих волн и зависимостей напряжений от углов рассеяния для кристаллических слоев кремния и молибдата свинца. Дана интерпретация резонансов акустических напряжений, возникающих в кристаллическом слое под действием сдвиговых волн.
Упругие волны, матричная экспонента, метод масштабирования и квадрирования, многочлены главных миноров, рекуррентные соотношения, относительная погрешность усечения, резонансы напряжений
Короткий адрес: https://sciup.org/146281903
IDR: 146281903 | DOI: 10.15593/perm.mech/2018.4.07
Список литературы Метод расчета акустических напряжений при шестилучевой дифракции в слоистых средах
- Thickness Dependence of the Properties of Epitaxial Barium Strontium Titanate Thin Films / V.B. Shirokov, Yu.I. Golovko, V.M. Mukhortov, Yu.I. Yuzyuk, P.E. Janolin, B. Dkhil // Physics of the Solid State. - 2015. - Vol. 57. - No. 8. - Р. 1529-1534. DOI: 10.1134/S1063783415080314
- Material Constants of Barium Titanate Thin Films / V.B. Shirokov, V.V. Kalinchuk, R.A. Shakhovoi, Yu.I. Yuzyuk // Physics of the Solid State. - 2015. - Vol. 57. - No. 8. - Р. 1535-1540. DOI: 10.1134/S1063783415080302
- Physics of thin films. Advances in research and development. Vol. 1. Ed. G. Hass. - New York: Academic Press, 1963. - 350 p.
- Егоров Г.П., Волков А.А. Определение критического уровня внутренних напряжений в тонких пленках // Композиты и наноструктуры. - 2016. - Т. 8, № 3. - С. 187-203.
- Dieulesaint E., Royer D. Ondes élastiques dans les solides. Application au traitment du signal. - Paris: Masson, 1974. - 424 c.