Методика повышения качества изделий электронной техники на различных стадиях производства
Автор: Шестакова Т.В.
Журнал: Известия Самарского научного центра Российской академии наук @izvestiya-ssc
Рубрика: Физика
Статья в выпуске: 5-2 т.11, 2009 года.
Бесплатный доступ
В работе рассматривается методика исследований технологического процесса производства интегральных микросхем, в основе которой лежат классические методы корреляционного анализа и оригинальный метод математического моделирования по результатам пассивного эксперимента в условиях реального производства.
Интегральные микросхемы, технологический процесс, математическое моделирование
Короткий адрес: https://sciup.org/148198763
IDR: 148198763
Список литературы Методика повышения качества изделий электронной техники на различных стадиях производства
- Адлер, Ю.П. Планирование эксперимента при поиске оптимальных условий. -2-е изд., перераб. и доп./Ю.П. Адлер, Е.В. Маркова, Ю.В. Грановский. -М.: Наука, 1976.
- Shestakova, T. Mathematical Modeling in Integrated Circuit Technologies//Intern. Conf. on Automation, Quality and Testing, Robotics A&QT-R 2002 (THETA).-Cluj-Napoca, Romania. -2002. -T. I. -P. 274.
- Дружинин, Г.В. Методы оценки и прогнозирования качества. -М.: Радио и связь, 1982.
- Митропольский, А.К. Техника статистических вычислений. -М.: Наука, 1971.
Статья научная
