Методы диагностирования функциональных узлов микропроцессоров
Автор: Тяжев А.Т.
Журнал: Технико-технологические проблемы сервиса @ttps
Рубрика: Диагностика и ремонт
Статья в выпуске: 3 (25), 2013 года.
Бесплатный доступ
Рассматривается вопросы формализации процедуры выбора метода построения теста поиска дефектов функциональных узлов микропроцессоров в соответствии с требованиями практики, являющейся важной составляющей автоматизированной системы построения тестов диагностирования.
Функциональный узел микропроцессора, тест поиска дефектов, техническая диагностика, процедура выбора метода
Короткий адрес: https://sciup.org/148186091
IDR: 148186091
Статья научная
