Моделирование влияния параметров модели тиристора на коммутационные потери в схеме инвертора тока
Автор: Падеров В.П., Силкин Д.С.
Журнал: Огарёв-online @ogarev-online
Статья в выпуске: 22 т.2, 2014 года.
Бесплатный доступ
В программе «Saber» проведено моделирование влияния времени жизни носителей заряда в базовых областях тиристора на мощность коммутационных потерь в тиристорах в схеме инвертора тока при их последовательном соединении. Исследовано влияние разброса зарядов обратного восстановления и времен жизни в последовательном соединении тиристоров при последовательном соединении на коммутационные потери. Рассчитан относительный перегрев тиристоров, возникающий из-за разброса параметров.
Инвертор тока, мощность коммутационных потерь в тиристорах при их последовательном соединении, физическая кусочно-зарядовая модель тиристора
Короткий адрес: https://sciup.org/147248725
IDR: 147248725
Текст научной статьи Моделирование влияния параметров модели тиристора на коммутационные потери в схеме инвертора тока
Современные программы схемотехнического моделирования включают не только поведенческие модели активных электронных компонентов, которые воспроизводят поведение в схеме по электрическим параметрам прибора, но и физические модели, которые построены на уравнениях физики полупроводников и отражают взаимосвязь электрических параметров прибора и физических параметров его структуры. К таким моделям относится и физическая кусочно-зарядовая модель тиристора scr2 [1], входящая в состав программы схемотехнического моделирования «Saber».
В физической кусочно-зарядовой модели scr2 в качестве входных параметров задаются следующие величины:
-
1) Заряды электронов (qb) и дырок (qbp) в n--базе при термодинамическом равновесии;
-
2) Заряды электронов (qgn) и дырок (qg) в p-базе при термодинамическом равновесии;
-
3) Времена жизни неосновных носителей заряда в n-- и p-базе (taub и taug, соответственно);
-
4) Времена пролета носителей через n-- и p-базу (tp10+tp20 и tp30+tp40, соответственно);
-
5) Барьерная емкость n--p перехода при нулевом смещении (cjo2);
-
6) Отношение объема n--базы к объему p-базы (fv);
-
7) Коэффициент сужения обедненной области со стороны p-базы (fj2g);
-
8) Коэффициент, определяющий, является n--p переход резким или плавным (mj2);
-
9) Коэффициент в барьерной емкости n--p перехода при прямом смещении (fcj2);
-
10) Максимальное напряжение пробоя n--p перехода (vj2bk0);
-
11) Сопротивление, включенное последовательно с анодом (ras);
-
12) Сопротивление катодного шунта (rsh).
Среди них физическими параметрами полупроводниковой структуры, способными повлиять на коммутационные процессы в тиристоре, являются заряды основных носителей в базах, определяемые уровнем легирования, времена жизни, времена пролета и барьерная емкость. Для того чтобы определить параметры, оказывающие наибольшее влияние на коммутационные потери, была рассчитана мощность коммутационных потерь для тиристора ТБИ173-2000 с номинальными параметрами в схеме инвертора тока (рис. 1).
Рис. 1 Упрощенная схема инвертора тока. В каждом плече инвертора – 4 тиристора.
После этого к каждому из этих параметров, по очереди, давалось приращение в 50% от номинального значения. Затем заново рассчитывалась мощность коммутационных потерь, и вычислялось изменение мощности ΔP kom относительно номинальной. Результаты приведены в таблице 1.
Таблица 1.
Влияние параметров модели на мощность коммутационных потерь
Параметр |
qg |
qb |
taub |
taug |
tp10+tp20 |
tp30+tp40 |
cjo |
ΔP kom , % |
1.25 |
-0.417 |
59.4 |
10.24 |
-15.2 |
3.45 |
0.0758 |
Из таблицы видно, что наибольшее влияние на мощность коммутационных потерь оказывает время жизни в n--базе. Кроме него существенно влияние времени жизни в p-базе и времени пролёта n--базы. Время пролета зависит от механизмов переноса заряда (диффузионный или дрейфовый) и определяется формулами [2]:
=W
t, dif 2.D
t
w b
t , drift ^y
где tt,dif – время пролета, определяемое диффузионным механизмом переноса носителей заряда, tt,drift – время пролета, определяемое дрейфовым механизмом переноса носителей заряда, Wb – ширина n--базы, D – коэффициент диффузии носителей заряда, µ – подвижность дырок, V – напряжение, падающее на n--базе. Таким образом, время пролета определяется, в основном, шириной базовой области и зависит от напряжения, падающего на n--базе. Ширина базовой области в тиристорах сильно изменяться не может, следовательно, не может сильно изменяться и время пролета. Поэтому использовать время пролета для управления коммутационными потерями не имеет смысла.

Рис. 2 Зависимость мощности коммутационных потерь от времен жизни в базах тиристора.
Времена жизни неосновных носителей в базовых областях зависят от многих факторов и могут сильно варьироваться. Существуют методы регулирования времени жизни в базовой области [3; 4; 5]. Поэтому изменение времени жизни в базовых областях тиристоров можно использовать для контроля мощности коммутационных потерь. Зависимость мощности коммутационных потерь от времён жизни неосновных носителей в базовых областях приведена на рис. 2.
Влияние времени жизни на коммутационные потери обусловлено тем, что именно время жизни определяет максимальный накопленный заряд в базовой области [6]. В свою очередь, от максимального накопленного заряда и скорости спада тока, в первом приближении, будет зависеть заряд обратного восстановления Q rr , который во многом определяет коммутационные потери. Зависимость заряда обратного восстановления от времен жизни в базах приведена на рис. 3. Из графика (рис. 3) видно, что угловой коэффициент зависимости Q rr (taug) меньше, чем угловой коэффициент зависимости Q rr (taub), приблизительно на 40%. Такое же соотношение имеют угловые коэффициенты зависимостей P kom (taub) и P kom (taug) (рис. 2). График зависимости P kom (Q rr ) приведен на рис. 4.
При последовательном соединении тиристоров немаловажную роль играет разброс параметров. Время жизни в n--области может различаться даже у тиристоров из одной партии, что, в свою очередь, означает наличие разброса Q rr и связанного с ним разбаланса напряжений тиристоров в последовательном соединении [7]. Разбаланс напряжений, в свою очередь, приводит к тому, что в тиристорах выделяется разная мощность коммутационных потерь. При этом возникает разница температур тиристоров, которая может повлиять на параметры приборов, зависящие от температуры, и срок службы и надежность тиристоров.
Для определения максимальной разницы температур в тиристорах в последовательном соединении был определён худший случай, когда разброс Q rr приводит к максимальному разбалансу обратных напряжений при коммутации в плече инвертора тока (рис. 1). Это случай наблюдается тогда, когда один из четырех тиристоров имеет минимальный заряд обратного восстановления в диапазоне, заданном разбросом Q rr , в то время как остальные тиристоры – максимальный.
Определить разницу температур можно, предполагая, что тепловые сопротивления переход-корпус тиристоров в последовательном соединении одинаковы. Тогда:
A T \ P • R th ( j - c ) (2)
В уравнении (2) ΔT – разница температур кристаллов тиристоров в последовательном соединении, ΔP – наибольшая разница мощностей между тиристорами последовательного соединения, R th(j-c) – тепловое сопротивление переход-корпус тиристоров.

Рис. 3 Зависимость заряда обратного восстановления от времен жизни в базовых областях тиристора.

Рис. 4 Зависимость мощности коммутационных потерь от заряда обратного восстановления
В тиристорах одного плеча инвертора тока (рис. 1) для худшего случая были рассчитаны средние мощности потерь за период при разбросе Qrr, равном 5%, 10% и 15%. Далее по известному из справочных данных температурному сопротивлению переход-корпус Rth(j-c) тиристора была рассчитана максимальная разница температур тиристоров в последовательном соединении. Тепловое сопротивление кристалл-корпус тиристора равно 0,008 °С/Вт для двухстороннего охлаждения и 0,016 °С/Вт – для одностороннего [8]. В таблице 2 приведены результаты расчётов для случаев одностороннего (ΔTOSC) и двухстороннего (ΔTDSC) охлаждения приборов.
Таблица 2.
Разница температур тиристоров в последовательном соединении при различных значениях разброса Q rr
Разброс Q rr , % |
5 |
10 |
15 |
ΔT OSC , °C |
8,18 |
15,7 |
23,6 |
ΔT DSC , °C |
4,09 |
7,85 |
11,8 |
Из значений, приведённых в таблице 2, можно заключить, что зависимость разницы температур кристаллов тиристоров от разброса Q rr близка к линейной с угловым коэффициентом, приблизительно равным 0,8 (для ΔT DSC ) или 1,6 (для ΔT OSC ) °С/%.
На практике достаточно сложно подобрать группу тиристоров с разбросом Q rr менее 10%. Кроме того, из-за несовершенства технологии производства возможно наличие разброса тепловых сопротивлений тиристоров в последовательном соединении. В этом случае разница температур может быть ещё больше.
Таким образом, получены следующие результаты:
-
1. Установлено, что наиболее сильное влияние на мощность коммутационных потерь в тиристорах в схеме инвертора тока оказывает время жизни носителей заряда в n-базовой области тиристора.
-
2. Из результатов моделирования получены следующие угловые коэффициенты зависимости зарядов обратного восстановления от времен жизни носителей заряда в базовых областях тиристоров ТБИ173-2000 К Qrr (taub)= 1016 Кл/с и К Qrr (taug)= 610 Кл/с, а также угловые коэффициенты зависимости мощности коммутационных потерь от времен жизни К Р (taub)=0,386 Вт/мкс, К Р (taug)=0,223 Вт/мкс и угловой коэффициент зависимости мощности коммутационных потерь от заряда обратного восстановления К Р (Q rr )=0,36 Вт/мкКл.
-
3. Разброс заряда обратного восстановления тиристоров при их последовательном соединении приводит не только к перенапряжениям на тиристорах с меньшим зарядом обратного восстановления, но и к повышенной мощности коммутационных потерь на них. Увеличение разброса Q rr в схеме инвертора тока (рис.1) способно стать причиной
существенного перегрева тиристора с меньшим зарядом обратного восстановления относительно других. При одностороннем охлаждении тиристора и разбросе Q rr 15% перегрев может доходить до 23,6 °С. Таким образом, высокий разброс Q rr тиристоров в последовательном соединении при недостаточном охлаждении способен стать причиной выхода тиристоров из строя.
Список литературы Моделирование влияния параметров модели тиристора на коммутационные потери в схеме инвертора тока
- Ma C. L., Lauritzen P. O., Sigg J. Modeling of High-Power Thyristors Using the Lumped-Charge Modeling Technique // 6th European Conference on Power Electronics and Applications. - 1995. - Vol. 2. - pp. 15-21.
- Baliga B. J. Fundamentals of Power Semiconductor Devices. - NY.: Springer, 2008. - 1069 p.
- Akiyama H., Kondoh H., Satoh K., Nakagawa T., Fujimoto T., Iwashita Y., Inoue M. Lifetime Control in Thyristors by Proton Irradiation // Bulletin of the Institute for Chemical Research. - Kyoto: Kyoto University, 1992. - pp. 55-60.
- Siemieniec R., Lutz J. Axial Lifetime Control by Radiation Induced Centres in Fast Recovery Diodes. - [Электронный ресурс]. - Режим доступа: http://www.broeselsworld.de/image/work/isps2002_1_save.pdf.
- Carlson R. O., Sun Y.S., Assalit H.B. Lifetime Control in Silicon Power Devices by Electron or Gamma Irradiation // IEEE Transactions on Electron Devices. - 1977. - Vol. ED-24, № 8. - pp. 1103-1108.
- Дерменжи П. Г., Кузьмин В. А., Крюкова Н. Н., Мамонов В. И., Павлик В. Я., Крюкова Н. Н. и др. Расчёт силовых полупроводниковых приборов. - М.: Энергия, 1980. - 184 с.
- Абрамович М. И., Бабайлов В. М., Либер В. Е. Диоды и тиристоры в преобразовательных установках. - М.: Энергоатомиздат, 1992. - 432 с.
- Fast switching thyristor TFI173-2000: справочные данные на тиристор ТБИ-173 ОАО «Электровыпрямитель». - [Электронный ресурс]. - Режим доступа: http://www.elvpr.ru/en/poluprovodnikprib/tiristory/TFI173-2000 (EN).pdf.