Нелинейная модуляция импульсов и пучков СВЧ радиоволн
Бесплатный доступ
Показана возможность управляемой модуляции СВЧ радиоволн в результате отражения волн от поверхности полупроводника n-типа с периодически меняющейся температурой носителей. Рассматривается нагрев носителей внешним электрическим полем и обсуждаются случаи модуляции амплитуды и поляризации волн, проходящих через пластинку полупроводника. Отмечена роль внешнего магнитного поля в формировании поляризационной структуры излучения.
Короткий адрес: https://sciup.org/14058086
IDR: 14058086
Текст научной статьи Нелинейная модуляция импульсов и пучков СВЧ радиоволн
Настоящая работа посвящена комплексу управляемых процессов теплового взаимодействия СВЧ радиоволн со столкновительной плазмой полупроводников n-типа. Такие процессы связаны с температурной зависимостью частоты электрон-фононных столкновений м^ в полупроводниках. Зависимость коэффициентов отражения и прохождения радиоволн в ГГц диапазоне от частоты столкновений v указывает на возможность температурного контроля е этих коэффициентов. Различные тенденции такой зависимости могут быть обусловлены как температурным ростом частоты vg, характерном, например, для Ge [1]:
так и убыванием ve по закону
отмеченному для inSb [2].
Здесь veo - значение при начальной температуре Тео, Те - температура нагрева, так что Те > TeQ.
Сочетание этих тенденций с эффектами теплового самовозбуждения волны накачки и взаимодействия двух волн типа кроссмодуляции указывает на разнообразные варианты амплитудной и частотно-фазовой модуляции СВЧ радиоволн с помощью температурных эффектов.
Следует отметить физические особенности рассматриваемых явлений, отличающие их от кроссмодуляции в газовой плазме [3,4].
-
1. Наличие резкой границы полупроводниковой плазмы с внешней средой указывает на своеобразную зависимость амплитуды и фазы отраженного сигнала от электронной температуры полупроводника n-типа. Эта зависимость различна для волн s- и р-поляризаций, падающих на поверхность заданного полупроводника.
-
2. В ГГц диапазоне радиоволн мнимая часть диэлектрической проницаемости полупроводника е может быть не мала в сравнении с ее действительной частью. При этом тепловая перестройка преломленной волны развивается в тонком слое полупроводниковой плазмы, толщина которого может быть порядка длины волны.
-
3. Характерное время рассматриваемых процессов определяется временем релаксации электронной температуры
тТ 6 v ' е где:
-
6 - средняя доля энергии, переданная при электрон-фононном столкно-/7 m "С2
вении, 6 = V^ ' keT S~ • (4)
е0
Здесь cg - скорость звука, те - эффективная масса электрона, к -постоянная Больцмана. Величина 6 мала: так, для Себ = 10-2, для InSb 6 = 10~3. При этом время тт может составлять тт — 10-9—10 11 с при ve — 1011-1013 с-1. Такие показатели времени установления представляют интерес для создания устройств плазменной электроники.
Рассмотрим простой случай модуляции пучка СВЧ волн частоты и, пада ющей под углом на пластинку полупроводника n-типа. Диэлектрическая про ницаемость полупроводника может быть представлена в виде: Е - R+il к = Ет - —-— I = ; S = — V = —,- ,
L 1+S2 1+S2 to “2
где:
П - Ленгмюровская частота электронов.
При этом температурная зависимость величин R и I может быть пред ставлена через частоту столкновений [1,2] в безразмерной форме:
S/Ge = S_ /Т S/InSb = — f где параметр f характеризует температуру электронов:

Комплексные коэффициенты отражения Rg Р~поляризациям, могут быть записаны через
и R Р
соответствующие s-
величины (5) в виде (4) :
и
r _ cos g-VR+il - sin2 a । । г tog s " z ^^ ~ I Ks । e cos а + * R + il - sin2 а t (Rbjl)cos a - V R + il - sin a _ |R । e P
p (R+iI)cos a + V R + il - sin2 a'
Температурная зависимость коэффициента отражения по интенсивности
I Rs 12 показана на рис. 1.
Коэффициент прохождения волны через слой такого полупроводника также зависит от температуры. Так, для слоя толщины d коэффициент прохождения по интенсивности к составляет к = (1 - IRCI2)-е - 5- , (Ю)

Рис. 1. Зависимость модуля коэффициента отражения IR |2 от электронной температуры полупроводниковой плазмы для s-поляризованной волны
Температурная зависимость декремента затухания х показана на рис. 2.
Проанализируем влияние внешнего магнитного поля на процессы взаимодействия миллиметровых радиоволн с полупроводниковой плазмой. Влияние магнитного поля сильно усложняет угловую и частотную зависимость отражения. Рассмотрим простой случай, соответствующий нормальному падению волны на слой полупроводника, параллельный магнитному полю, в области частот вблизи гирорезонанса. Расстройку резонанса удобно характеризовать параметром:
X _ 1 - /и . _ “н2 12)
где шн - гирочастота электронов. Вблизи резонанса (/и - 1) компоненты тензора диэлектрической проницаемости полупроводника можно представить
В виде: Е± = Ч - ^
Хо
S2
X

Рис. 2. Температурная зависимость коэффициента поглощения х при нормальном падении
При нормальном падении волны комплексный коэффициент преломления n+ix различен для волн, поляризованных вдоль (еи) и поперек (е^) магнитного поля а БЛ
(° + 1Х)Н = Еп ; (п + 1Х)± = е1"“ ' (14)
Подставив в (14) компоненты тензора е (13) , находим п и х, подставляя затем их в (8) и (10) , вычисляем коэффициенты отражения и прохождения волн. При этом разница в коэффициентах отражения и прохождения для компонент Е„ и Ед приведет к изменению поляризации отраженной и прошедшей волн. Характеризуя поляризацию углом tg ц = наклона электрического вектора волны к магнитному полю, получим для отраженной волны:
tg u = tg ц0
«Л
Аналогично для прошедшей волны:
tg ц = tg ц0

w d , t
— (x^- Xn) .
Следует подчеркнуть, что магнитное поле приводит к резкому изменению отражательных свойств слоя полупроводника и без нагрева электронов. Так, Для слоя InSb с параметрами Ne = 1015 см 3, Ед = 15,8 для волны с ^ = 1 мм, So = 0,1, Хо = 0,3 при постоянной температуре f=l получим, что отношение составляет
Ri
= 2,1. В этом случае угол ц при отражении
Увеличивается, а вектор Е поворачивается "от магнитного поля". В прохо-
Дящей волне вектор Е может повернуться "к магнитному полю", так как компонента Ед поглощается сильнее, чем Еп. Так, в рассматриваемом примере Хц = 0,2, а х^ = 13,9 при невозмущенной температуре (f = 1) угол равен tg u . И_«я . 1 с <Х1 Х"Ь экспоненциальный множитель при толщине пластинки d = 5ц составляет 0,6, т.е. tg ц = 0,3 tg ц0. Таким образом, наложение магнитного поля ведет к различной поляризации отраженной и прошедшей волны.
Совместная модуляция электронной температуры и магнитного поля расширяет возможности контролируемой перестройки СВЧ радиоволн, взаимодействующих с полупроводниковой плазмой.