Непараксиальное распространение гауссовых пучков под углом к оси анизотропного кристалла
Автор: Хонина Светлана Николаевна, Зотеева Ольга Владимировна, Харитонов Сергей Иванович
Журнал: Компьютерная оптика @computer-optics
Рубрика: Дифракционная оптика, оптические технологии
Статья в выпуске: 3 т.36, 2012 года.
Бесплатный доступ
В работе аналитически и численно исследуется распространение лазерных пучков в анизотропных кристаллах как вдоль, так и под углом к оси кристалла. Для одноосного кристалла с использованием метода стационарной фазы получены аналитические выражения, показывающие зависимость астигматического искажения от поляризации падающего пучка. Также показано, что при распространении лазерного пучка под углом к оси кристалла проявляется эффект двулучепреломления, который может исчезать при соответствии плоскости наклона пучка и плоскости линейной поляризации. Для гауссовых пучков получено выражение, связывающее параметры пучка и кристалла, при котором обеспечивается визуальное разделение обыкновенного и необыкновенного лучей.
Анизотропная среда, гауссов пучок, эффект двулучепреломления
Короткий адрес: https://sciup.org/14059095
IDR: 14059095
Текст научной статьи Непараксиальное распространение гауссовых пучков под углом к оси анизотропного кристалла
Всё больший интерес и практическое применение приобретают оптические устройства, позволяющие преобразовывать одни свойства электромагнитного излучения в другие. Среди наиболее востребованных можно назвать поляризационные и модовые преобразования. В частности, теоретически и экспериментально показаны преимущества радиальной и азимутальной поляризации лазерного излучения по сравнению с линейной поляризацией в приложениях, использующих острую фокусировку [1–3]. Однако большинство современных лазеров генерируют излучение с линейной поляризацией, что приводит к необходимости выполнять поляризационные преобразования [4, 5], в том числе с использованием анизотропных кристаллов [6, 7].
Распространение лазерных мод высокого порядка в среде с сильной анизотропией приводит к сложным поляризационно-модовым преобразованиям [8–11], связанным с наличием орбитального углового момента у таких пучков. Причём для анализа таких явлений часто используется параксиальная модель распространения [12, 13].
Заметим, что взаимодействие поляризации и пространственного распределения электромагнитного поля происходит также в изотропной среде в непараксиальном режиме, в частности, при острой фокусировке [14–16].
Непараксиальный режим в анизотропной среде позволяет обнаружить более тонкие эффекты [17 – 20].
В данной работе рассматривается распространение лазерных пучков, в том числе гауссовых, как вдоль, так и под углом к оси анизотропного кристалла. Для одноосного кристалла с использованием метода стационарной фазы получены аналитические выражения, показывающие зависимость астигматического искажения от поляризации падающего пучка. Также показано, что при распространении лазерного пучка под углом к оси кристалла проявляется эффект двулучепреломления, который может исче-
зать при соответствии плоскости наклона пучка и плоскости линейной поляризации. Для гауссовых пучков получено выражение, связывающее параметры пучка и кристалла, при котором обеспечивается визуальное разделение обыкновенного и необыкновенного лучей.
В работах [21, 22] был получен в компактной форме интегральный оператор распространения электромагнитных полей в кристаллах, описываемых следующими тензорами диэлектрической и магнитной проницаемости:
f e XX |
e Xy |
|
g = |
^ yx |
e yy |
V 0 |
0 |
|
f Ц XX |
M Xy |
|
Ц = |
M- yX |
M yy |
V 0 |
0 |
0 )
e zz J
0 )
,
.
(1а)
(1б)
M zz J
Векторный интегральный оператор распространения, основанный на разложении по плоским волнам, имеет следующий вид:
( E X ( u , v , z ) )
E ( u , v , z ) = E y ( u , v , z ) =
I E z ( u , v , z ) J f e ox (a , в) )
Jf C o W)
a 2 + s so 2
e oy ( « , P ) exp [ ik Y o ( « , P ) z ] + I e« (a , P ) J
[ e ex ( a , P ) )
+ c e ( a , P ) e ey ( a , P ) exP [ ik Y e ( a , P ) z ]
Iez (a, P)J x exp {ik [au + Pv]} da dp,
> x
где векторы в пространственно-частотной плоскости e o ( a , P ) и e e ( a , P ) , соответствующие обыкновенному и необыкновенному лучам, распространяю-
поперечных компонент электрического поля ( k =2π/λ – волновое число в вакууме):
щимся в кристалле, определяются значениями рицы следующего вида [21, 22]:
M ( a , P ) =
мат-
M 1 M
M 1 M
(
aP e zz
Ц yx
a 2
e zz
) Ц yy
P 2 ---+ ^ xx
V e zz f aP — + e
aP
—+^
X
e
a
zz
- xy
X
Ц zz
V П zz
yx
e
xx
а именно:
e ox ( a , P ) = |
e oy ( a , P ) = |
1 [,, |
= 2 L M 22 - |
e ex ( “ , P ) = |
e ey ( “ , P ) = |
1 [,, |
= 2 L M 22 - |
e oz ( “ , P ) = |
X [ ( ae xx |
M 12 ,
M 12 ,
M 11 +V( M 11 e M 22 ) 2 + 4 M 12 M 21
M 11 -V( M 11 e M 22 ) 2 + 4 M 12 M 21
— +
П zz aP
e yy
,
П zz
e xy J
,
,
---------X e zz Y o (a , p)
+ pe yx ) e ox ( a , P ) + + ( ae xy +pe yy ) e oy ( a , P ) ] ,
eez (a , p) = -
---------X e zz Y e (a , P)
X [ ( ae xx +pe yx ) e ex ( a , P ) +
+ ( ae xy +pe yy ) e ey ( a , p ) ] .
Распространение обыкновенного и необыкновенного лучей связано с различными направлениями:
Y o ( a , p ) =
= ^ [ ( M 22 + M 11 ) + V( M 22 e M 11 ) 2 + 4 M 12 M 21
Y e ( a , P ) =
,
j [ ( M 22 + M 11 )-a/( M 22 e M 11 ) 2 + 4 M 12 M 21
.
Коэффициенты в выражении (2) определяются пространственно-частотным спектром для входных
f S x ( a , P ) ) = ±X
V S y ( a , P ) J % 2
Xff ( , y mJ exP { “ ik [ “ x + P y ] } d x d y ’
J1 V E y ( x , y ,0) J
где Ex ( x , y , 0), Ey ( x , y ,0) – поперечные электрические компоненты электромагнитного поля во входной плоскости (при z =0).
Коэффициенты имеют следующий вид:
c o ( “ , P ) =
Ce (“, P) =
S x ( a , P ) e ey ( a , P ) - S y ( a , P ) e ex ( a , P )
e ox ( a , P ) e ey ( a , P ) e e oy ( a , P ) e ex ( a , P ) , (7) S y ( a , P ) e ox ( a , P ) e S x ( a , P ) e oy ( a , P ) e ox ( a , P ) e ey ( a , P ) e e oy ( a , P ) e ex ( a , P ) .
Выражения (2)–(7) позволяют моделировать распространение произвольных электромагнитных полей в кристалле в непараксиальном режиме с учётом происходящих при этом поляризационных преобразований.
В полярных координатах:
x = r cos ф, a = ° cos ф, u = p cos 6, y = r sin ф, P = ° sin ф, v = p sin 6
выражения (2)–(7) принимают следующий вид:
f E x ( p , 6 , z ) )
E ( p , 6 , z ) = E y ( p , 6 , z ) =
V E z ( p , 6 , z ) J
= JJ 1 C o (° , ф) °<° o I
f eox (°, ф) J eoy (°, ф) exP [ikYo (°, ф) z] +
V e oz ( ° , ф ) J
f e ex ( ° , ф ) )
+ c e ( ° , ф ) e ey ( ° , ф ) exP [ ik Y e ( ° , ф ) z ]^X
Veez (°, ф) j
X exp { ik p° cos ( ф e 6 ) } ° d ° d ф ,
где
M ( ° , ф ) =
° 2 cos ф sin ф
e
V
e zz
° 2 sin 2 ф +^
e zz
° 2 cos ф sin ф
X
Ц zz
°2sin2 ф
V ^ zz
П yx
xx
+ e yx
e
e xx
e
° 2 cos 2 ф
e zz
° 2 cos ф sin ф
-Ц yy
e
e zz
° 2 cos 2 ф
Ц zz
A
X
+ Ц xy J
+e yy
° 2 cos ф sin ф
-----e xy n- zz J
,
e oz ( ° , ф ) = -
о
--------:------ х г zz Y о ( ° , ф )
х [ ( г xx cos ф+г yx sin ф ) e ox ( ° , ф ) + + ( г xy cos ф + г yy sin ф ) e oy ( ° , ф ) ] ,
e ez ( ° , ф ) =-
о
--------х г zz Y e (° , ф)
х [ (г« cos Ф+г yx sin ф ) e ex ( ° , ф ) + + ( г xy cos ф + г yy sin ф ) e ey ( ° , ф ) ] ,
eox (а, в) = в, eoy (а, в) = -а, eex (а,в) = а, eey (а, в) = в, eoz (а, в) = 0, г0 (а2 +в2 )
e ez ( а , в) =--/ ;тг .
г 1 Y 2 ( а , в )
г о -а 2 -в 2 ,
f S x ( ° , ф ) ) = X х
V S y ( о , ф ) J % 2
ГГ f E x ( r , Ф ,0) ) Г z .
х expi - ikr о cos ф-ф rr d r d ф .
JJ V E y ( r , ф ,0) J P{ (V V)}
Y e ( а , в ) = Аг о - ( а 2 +в 2 )^ ° .
V г e
Также упростятся коэффициенты (7):
Если входные поперечные компоненты электриче-
C o ( а , 3 ) =
e S x ( а , р ) -а S y ( а , в )
ского поля имеют фазовую вихревую Ex (r, Ф, 0) = E0x (r) exP ( imф) , Ey (r, Ф, 0) = E0y (r) exP ( imФ) , тогда выражение (12) упрощается:
f S x ( ° , ф ) ) k m .X
C = T i exP ( im ф ) х
ISy (°, ф))
зависимость:
C e ( а , Р ) =
а 2 + в 2
а S x ( а , в ) + в S y ( а , в )
,
а 2 + в 2
.
Таким образом, выражение (2) записывается в следующем виде:
E ( и , v , z ) =
J m ( kr о ) r d r .
Л а2 +в2 <о2
в Sx ( а , в ) -а S y ( а , в )
а 2 + в 2
f в )
-а
О
V u 7
х
Для многих оптических полей, описываемых через ортогональные полиномы, такие как полиномы Цернике, функции Лагерра–Гаусса, Эрмита–Гаусса, функции Бесселя, выражения (6) и (14) в бесконечных пределах имеют аналитический вид. В конечных пределах также можно получить приближённую аналитическую оценку.
х exp [ ik у о ( а , в ) z ] +
а S , ( а , в ) + в S y ( а , в )
а 2 + в 2
х (19)
х
а
в г о (а2 + в2)
exP [ ik Y e ( а , в ) z ]
Г х
Рассмотрим одноосный кристалл, обладающий только анизотропной диэлектрической проницаемостью (магнитная проницаемость изотропна), ось которого ориентирована вдоль оптической оси. Тогда тензоры (1) примут следующий вид:
V г e Y e ( а , в ) 7
х exp { ik [ а и + в v ] } d а d в .
В изотропной среде, т.е. при г e = г о , из выражений (17) следует, что y e ( а , в ) = Y о ( а , в ) • Тогда оператор распространения (19) примет следующий вид:
Ё =
fг •
V 0 f 1
г о
Ц= 0
V 0
0 )
0, г e J
0 )
0,
а выражения для векторов (4) и функций пространственного направления (5) значительно упростятся [22]:
Е ( и , v , z ) =
и а2 +в2 <а2
V
л
а
Y о ( а , в )
Y о ( а , в ) J
S ( а , в ) )
x) ' х (20)
Sy ( а , в ) J
х exp { ik [а и + в v +Y о ( а , в ) z ] } d а d в ,
что соответствует хорошо известному выражению [23].
Применим к (19) метод стационарной фазы. Используя результаты работы [22], для быстроосцил-лирующих членов в (19) можно записать выражения для соответствующих стационарных точек:
<
<

(21а)
(21 б)
Тогда интеграл (19) можно приближённо заменить подынтегральным выражением в стационарных точках:
E ( u . v , z ) =
2л в oc5x ( а oc . в oc ) -a oc5y ( a oc . в oc )
X
7 H. (a«. в oc )
(в oc
-a G (a ,B ) + oc o \ oc . Voc )
« oc 2 +в oc 2
X
О
V ° 7
+ 2 П a ec^x ( a ec . в ec ) + в ec5y ( a ec . в ec )
V H e ( a ec . в ec )
X
а, в e
ec
ec
£ o ( а ec 2 +в
a ec 2 +в ec 2
A
G e ( “ ec . в ec ) .
X
‘ ec 2 )
--:-----—т e Y (ex ) \ e I e \ ec , V ec )
H o ( a oc . в oc ) = где
( u 2 + V 2 + z 2 )
7* '
H e ( « c . в c ) =
£ e ( U 2 + V 2 + £ o Z 2 /£ e ) 2
^2
.
G o ( a oc . в oc ) =
= exp { ik J£ V u 2 + v 2 + z 2 } , G e ( « ec . в ec ) =
= exp
' U 2 + V 2 +£ o Z 2 /£ e } .
Так как ( в oc a ec - a oc в ec ) = ° . то векторы в (22) ортогональны. следовательно. в общей интенсивности не будет перекрёстных членов.
Выражения интенсивности для поперечных и продольных компонент имеют следующий вид:
I E ox ( U . V . z )| 2 + | E oy ( U . V . z )| 2 =
= ( 2 n ) 2 z 2 £ o X
( u2 + v 2 )( u 2 + v 2 + z 2 ) 2
X { V 2 I 5 x ( a oc . в oc )|2 + U 2 | 5 y ( a oc . в oc )|2 -
- UV [ 5 y (a oc . в oc ) 5 x (a oc . в oc ) +
+ 5 x ( a oc . в oc ) 5 * ( a oc . в oc ) ] } .
| E oz ( U . V . z )|2 = °.
|Eex ( U . V . z f + | E ey ( U . V . z ) 2 =
= ( 2 n ) 2 z '£ o £X
( U 2 + V 2 )( U 2 + V 2 +£ o z 2 /£ e ) 2 £ e
X { U 2 | 5 x ( a ec . в ec )|2 + V 2 |5 y ( a ec . в ec )|2
- UV [ 5 y (a ec , в ec ) 5 x (a ec . в ec ) +
+5X (aec, pec) 5* (aec, p^)!]-, x ec ec y ec ec
, ,2 ( 2 п ) 2 £ o
I E ez ( u . V . z ) = —TTY
( U + V +£ o z /£ e )
^ X £ e
X { U 2 |5 x ( a ec . в ec )|2 + V 2 I 5 y ( a ec . в ec )|2 -
- UV [ 5 y (a ec . в ec ) 5 x (a ec . в ec ) +
+ 5 X (aec. вес) 5 * (aec. 3^) 1}.
x ec ec y ec ec
Для многих типов поляризации (линейной. эллиптической) справедливо соотношение:
5 x ( а , в ) = P x 5 ( а , в ) .
5 y ( а , в ) P y 5 ( а , 3 ) .
где | px |2 +| py | = 1. Тогда общая интенсивность:
I 12 I |2 ( 2 п ) 2 z 2е
I E x ( u . V . z ) + E y ( u . V . z ) =-f4---- TTX ( U + V )
X
+
|P x V - P yU|2
( U 2 + v 2 + z 2 ) 2
| P x U - P yV|2
1 5 ( a oc . в oc )|2 +
( U 2 + V 2 + £ o z 2 |E z ( U . V . z ^ =
£ . ) ‘
£>£ e
1 5 ( а ec . в ec )|2 .
2 n)2| p_u - pV 2
= /, ) 7 ,2 £ ° 5 ( a .c . p .c )l .
( u1 + V 1 +£ o z22e , ) £.
Из выражений (27) следует. что картина интенсивности зависит как от пройденного расстояния z . так и от поляризации. Однако в параксиальном слу-
2 22
чае, когда z >> u + v , зависимость от пройденного расстояния будет незначительной, в то время как зависимость от поляризации останется заметной. Причём различие будет тем существенней, чем сильнее отличаются обыкновенная и необыкновен- ная диэлектрические проницаемости.
При линейной поляризации изменение соотношения параметров p x и p y соответствует повороту вокруг оси кристалла на угол т = tan - 1 ( p y I px ). Т.к. в этом случае значения p x , p y действительные и неотрицательные, то будет происходить соответствующее астигматическое искажение входного пучка.
При круговой поляризации выражения (27) примут следующий вид:
|Ex ( u , v , z )Г + | E y ( u , v , z )|2 = ( 2 n ) 2 z 2 е o X
I S (a oc , P oc )|2 ( -o | S (a ec , в ec )| 2
( u 2 + v 2 + z 2 ) - e ( u 2 + v 2 + - o z 2/- e )
|Ez ( u , v , z )| 2 =
(2n)2 (u2 + v2)
( u 2 + v 2 +- oZ 2 /-e )2
S ( a ec , в ec )|2 , - e
который говорит об отсутствии астигматических искажений.
Вклад в общую интенсивность продольной компоненты с ростом расстояния z будет уменьшаться.
Как правило, при анализе распространения лазерных мод в анизотропных средах исследуются орбитально-спиновые преобразования [8– 11, 14, 15] и астигматические изменения [20, 24]. Причём данные явления наблюдаются либо при фокусировке лазерного излучения, либо при распространении под углом к оси кристалла. В работе [25] было показано, что наличие вихревой фазовой сингулярности в лазерном пучке приводит к визуальному астигматизму при распространении как вдоль, так и перпендикулярно оси кристалла.
Для гауссовых пучков пространственный спектр имеет аналитическое выражение. В частности, для эллиптического пучка Эрмита–Гаусса (ЭГ):
E HG ( x , У ,0) = A nm exp

H m
X H n

(
V
2 y^ 2 ", J
( A x
w
V y J
,
где Hn ( x ) - полином Эрмита n -го порядка, wx , w y -радиусы перетяжки гауссова пучка вдоль соответствующих осей, Anm – нормировочная константа, спектр (6) в бесконечных пределах будет иметь следующий вид:
S HG X H n |
( a , p ) = - w s f a 1 | | exp V "sx J |
nm exp x w sy 1 -Л1 2 w 2 V s, J |
a 2 1 2 w 2x j |
IX J |
|
II H n |
I - w V sy |
||||
где w sx |
= ( k" x ) - 1 , |
" sy =( kw, ) |
1 . |
При распространении вдоль оси кристалла даже если изначально пучок был не эллиптичный ( w y = w x ), то при линейной поляризации, учитывая (27), постепенно он будет претерпевать астигматические изменения.
Для пучков Лагерра–Гаусса (ЛГ):
E LG ( r , ф ,0) =
2 m 2
I r 1l r 1 Tml I r I ( )= Anm exp| - II — I Ln1 I I exp (im ф)
V 2w0 JVw0 J Vw0 J пространственный спектр (14) имеет также радиально-вихревой вид:
S lg ( о, Ф ) =
m
° II - I X
2 w JV w J
= Anm (-i)m (-1)n exp I -w V
XLm f°^1 exp (imф) =
Vw^ J
= S L m ( ° ) exp ( im ф ) , где w = ( k" ^ ) - 1 .
В общем случае при наличии в лазерном пучке несущей пространственной частоты:
cr ( x , y , 0) = exp ( ikqxx + ikq y y ) (33)
можно считать, что пучок распространяется под углом к оси кристалла:
n /2.2 v= 2 qq,+q,
и спектр в (6) будет смещён пропорционально несущим пространственным частотам:
Sq (a P) =
= tt f f E ( x , y ) exp ( ikq x x + ikq , y ) X
Л a (35)
X exp {-ik [ax + Py ]} dx dy =
= S ( a- q x , P- q y ) .
Таким образом, в выражениях (27) спектр будет использоваться в смещённых стационарных точках.
Заметим, что при внесении в пучок (31) про- странственной несущей частоты:
cr ( r , ф , 0) =
= exp ( ikr o 0 cos( ^ - ф 0 ) ) ,
где о0 = qq+ + q2 , ф0 = tan 1(qy I qx), пространствен- ный спектр уже не будет иметь радиально-вихревой зависимости.
Рассмотрим распространение фундаментальной гауссовой моды под углом (36) к оси кристалла. Тогда спектр в формулах (27) будет иметь следующий вид (положим w s y = wsx = ws ):
SG («oc , в oc ) =
A
= -nm exp w s 2
( nou - q x R o ) 2 + ( n o v - q y R o ) 2
2 w 2 R o
(37а)

Рис. 1. Мода ЛГ (n, m) = (3, 0) во входной плоскости (при z = 0): распределение интенсивности (а) и фазы (б)
Моделирование распространения под углом к оптической оси выполнялось за счёт умножения исходного распределения на фазовый множитель вида (33). В этом случае фаза входного распределения изменится, как показано на рис. 2.
SG («ec , в ec ) =
A
= -nm exp w s 2
^^^^^^s
( neu - qxRe ) +( nev - qyRe )
2 w s 2 R e 2
,
(37б)
V 7
где Ro = V u 2 + v2 + z 2 , R e = V u 2 + v2 + n o z 2/ n 2 ,


Как видно из (37), обыкновенный и необыкно-
венный лучи будут визуально разделяться только
при достаточно больших значениях пространствен-
ных несущих частот (33):
3 w ( z ) none 2
qx, y >7/2 2 V
kz ( ne - no )
где
w ( z ) = w 0
4 z 2
+ k2 w 4

– радиус гауссова пучка на расстоянии z .
-
4. Моделирование распространения гауссовых пучков под углом к оси кристалла
-
4.1. Распространение вдоль оси кристалла
-
4.2. Распространение под углом к оси кристалла
Рассмотрим распространение пучков ЛГ в кристалле рутила [20]: ε 0 =6,84, ε e =8,43. Данный кристалл был выбран для наглядной демонстрации эффектов двойного лучепреломления, т.к. имеет существенное различие в значениях диэлектрической проницаемости.
Параметры моделирования: длина волны λ = 1 мкм, радиус пучка R = 15 мкм, радиус перетяжки W 0 =3 мкм.
В данном разделе приведены результаты моделирования распространения мод ЛГ вдоль оси кристалла при различных поляризациях входного пучка. В качестве входного распределения использовалась мода ЛГ ( n, m ) = (3,0) (см. рис. 1).
Результаты моделирования (см. табл. 1) показывают полное соответствие теоретическим выкладкам, а именно: наличие астигматических искажений при линейной поляризации и их отсутствие при круговой поляризации.
В данном разделе приведены результаты моделирования распространения мод ЛГ под углом к оси кристалла при различных поляризациях входного пучка. Наклон к оси кристалла был выбран вдоль оси x , и пространственная несущая частота определялась с учётом выражения (38): qx = 0,5 ( у = 45 o ).
Рис. 2. Фаза моды ЛГ (n, m) = (3,0) с пространственной несущей во входной плоскости
Как видно из табл. 2 и 3, при наличии во входном пучке обеих поперечных компонент (при различных типах поляризации) наблюдается эффект двойного лучепреломления. Таким образом, если линейно-поляризованный лазерный пучок распространяется под углом к оси кристалла, то вращение кристалла вокруг его оси будет приводить к появлению или исчезновению второго луча.
Заметим, что двулучепреломление возникает за счёт различия в направлениях распространения двух поперечных компонент электрического поля. При этом направление распространения продольной компоненты совпадает с направлением x -компоненты (рис. 3).
При использовании мод ЛГ с менее выраженным центральным пятном (рис. 4) визуального разделения на обыкновенный и необыкновенный лучи не происходит даже при очень больших углах наклона – в результате формируется сложная интерференционная картина, зависящая от поляризации (табл. 4).
В работе получены следующие основные результаты. Для одноосного кристалла с использованием метода стационарной фазы получены аналитические выражения, показывающие зависимость астигматического искажения от поляризации падающего пучка. При линейной поляризации вращение вокруг оси кристалла будет приводить к соответствующему астигматическому искажению входного пучка. При круговой поляризации астигматические искажения отсутствуют.
Таблица 1. Распространение моды ЛГ (n, m) = (3, 0) вдоль оси кристалла при различных поляризациях (картина полной интенсивности в поперечных плоскостях)
Линейная x -поляризация |
Линейная поляризация под углом 45 ° к оси x |
Круговая поляризация |
|||||||
Z =5 мкм |
|||||||||
Z =200 мкм |
|||||||||
Z =450 мкм |
• |
• |
|||||||
Z =600 мкм |
Таблица 2. Распространение моды ЛГ (n, m) = (3, 0) под углом к оси кристалла при различных поляризациях –

Таблица 3. Распространение моды ЛГ (n, m) = (3, 0) под углом к оси кристалла при различных поляризациях – картины интенсивности в поперечной плоскости при Z = 450 мкм
E 2 |
E x 2 |
E y 2 |
E z 2 |
|
Линейная |
||||
x -поляризация |
||||
Линейная |
||||
поляризация под углом 45 ° к оси x |
||||
Круговая поляризация |
• 1 |


Рис. 3. Соответствие компонент электрического вектора обыкновенному и необыкновенному лучам на расстоянии z = 150 мкм (а) и z = 300 мкм (б) (штрихпунктирная линия – x-компонента, сплошная линия – y-компонента, точечная линия – z-компонента)


-
б)
Рис. 4. Мода ЛГ (n, m) = (3, 3) с пространственной несущей во входной плоскости: распределение интенсивности (а) и фазы (б)
Таблица 4. Распространение моды ЛГ (n, m) = (3, 3) под углом к оси кристалла при различных поляризациях –

Также показано, что при распространении лазерного пучка под углом к оси кристалла проявляется эффект двулучепреломления, который может исчезать при соответствии плоскости наклона пучка и плоскости линейной поляризации. Для гауссовых пучков получено выражение, связывающее параметры пучка и кристалла, при котором обеспечивается визуальное разделение обыкновенного и необыкновенного лучей.
Работа выполнена при поддержке грантов РФФИ 10-07-00109-а, 10-07-00438-а, гранта Президента РФ поддержки ведущих научных школ НШ-4128.2012.9.