Новый метод исследования неоднородности кристаллического материала

Разработан принципиально новый метод исследования фазовой неоднородности на основе дифрактометрического анализа интегральной интенсивности интерференционного максимума отражений рентгеновского луча от микрообъемов облученного образца различных размеров в кристаллических материалах. Кроме того, были проверены экспериментально и теоретически обоснованы некоторые количественные соотношения, а именно зависимость интегральной интенсивности рентгеновской линии на структуру падающего излучения, размер проекции луча на поверхность образца и другие параметры исследования. Разработанный дифрактометрический анализ профилей интерференционных линий позволяет достичь эффективного усреднения в неоднородностях текстуры, что имеет важное значение для высокой точности, надежного определения интегральной интенсивности количественных значений. На основании приведенных количественных зависимостей, были установлены необходимые соотношения для нахождения значения относительных различий между концентрациями. Новый способ полезен при анализе фазовой неоднородности и пористости кристаллического материала, а также при анализе эффективности смешивания многофазных порошковых композиций.