Новые возможности методов и средств исследования различных характеристик наноструктур
Автор: Прокофьева Елена Васильевна, Прокофьева Ольга Юрьевна, Саунин Владимир Сергеевич, Киселев Александр Юрьевич, Алексеев Валерий Валерьевич
Журнал: НБИ технологии @nbi-technologies
Рубрика: Технические инновации
Статья в выпуске: 6, 2012 года.
Бесплатный доступ
Предпринята попытка расширить и углубить возможности методов и средств исследования наноструктур. Определяется роль сканирующей зондовой микроскопии в сфере нанотехнологий.
Наноструктуры, углеродные нанотрубки, нанотехнологии, катализаторы, сканирующая зондовая микроскопия, наноиндентирование
Короткий адрес: https://sciup.org/14968222
IDR: 14968222 | УДК: 539.2:530.145
New features and methods of nanostructures various characteristics study
An attempt to expand and deepen the capabilities and methods of nanostructures research was made. The role of scanning probe microscopy in nanotechnology is defined.
Список литературы Новые возможности методов и средств исследования различных характеристик наноструктур
- Балабанов, В. И. Нанотехнологии. Наука будущего/В. И. Балабанов. -М.: Эксмо, 2008. -256 с.
- Ивановский, А. Л. Квантовая химия в материаловедении. Нанотубулярные формы вещества/А. Л. Ивановский. -Екатеринбург: УрОРАН, 1999. -176 с.
- Кобаяси, Н. Введение в нанотехнологию: пер. с япон./Н. Кобаяси. -М.: БИНОМ; Лаборатория знаний, 2005. -134 с.
- Маслова, Н. С. Сканирующая туннельная микроскопия атомной структуры, электронных свойств и поверхностных реакций/Н. С. Маслова, В. И. Панов//Успехи физических наук. -1989. -Т. 157, № 1. -С. 185-195.
- Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии/В. Л. Миронов. -Н. Новгород: РАНИФМ, 2004. -110 с.
- Симунин, М. М. Анализ температурного профиля полупроводникого образца в дилатометре с ИК-нагревом/М. М. Симунин//Микроэлектроника и информатика. -М.: МИЭТ, 2004. -60 с.
