О возможной причине стохастичности временных рядов излучения импульсного электроионизационного СО-лазера (СО-ЭИЛ)
Автор: Казакевич Владимир Станиславович, Венцлавович Татьяна Эдуардовна
Журнал: Известия Самарского научного центра Российской академии наук @izvestiya-ssc
Рубрика: Физика и электроника
Статья в выпуске: 4-1 т.15, 2013 года.
Бесплатный доступ
Проведен R/S-анализ временных характеристик мощности излучения импульсного СО-ЭИЛ. На основании экспериментальных данных рассчитан показатель Херста временных рядов импульсов излучения. Предложен критерий правильности разрабатываемых математических моделей импульсного СО-ЭИЛ. Впервые проведен вейвлетный анализ временных рядов импульсов излучения и выявлено, что стохастичное поведение временных характеристик импульсов может быть объяснено переходом к хаосу, происходящим по сценарию Фейгенбаума в динамической системе СО-ЭИЛ.
Временные характеристики импульсов излучения, колебательно-вращательные переходы, селективный и неселективный резонатор, r/s-анализ, вейвлет-анализ, электроионизационной со-лазер, динамический хаос, удвоение периода, сценарий фейгенбаума
Короткий адрес: https://sciup.org/148202249
IDR: 148202249
Список литературы О возможной причине стохастичности временных рядов излучения импульсного электроионизационного СО-лазера (СО-ЭИЛ)
- Mann M.M., Rice D.K., Equchi R.G. An Experimental Investigation of High Energy CO Laser//IEEE J. Quantum Electron., 1974, v.QE-10, p.682-685.
- Вальтер С. и др. Импульсно-периодический электроионизационный лазер на окиси углерода, работающий при комнатной температуре//Квантовая электроника. 1995. Т.22, №9. С. 883-886.
- Бородин А.М. и др. Электроионизационный СО-лазер с дозвуковым потоком рабочей среды//Квантовая электроника. 1996. Т.23, №5. C. 405-408.
- Данилычев В.А., Керимов О.М., Ковш И.Б., Итоги науки и техники, сер. Радиотехника. М.:ВИНИТИ. 1977. Т.12. С. 126-164.
- Ионин А.А., Ковш И.Б., Соболев В.А., и др. Итоги науки и техники, сер. Радиотехника. М.:ВИНИТИ 1984. Т.32.
- Басов Н.Г., Ионин А.А., Климачев Ю.М., Котков А.А., Курносов А.К., МакКорд Дж. Е., Напартович А.П., Селезнев Л.В., Синицын Д.В., Хагер Г. Д., Шнырев С.Л. Импульсный лазер на первом колебательном обертоне молекулы СО, действующий в спектральном диапазоне 2.5-4.2мкм. 3 Коэффициент усиления и кинетические процессы на высоких колебательных уровнях//Квантовая электроника. 2002. Т.32. №5. С. 404-410.
- Treanor C.E., Rich J.W., Rehm R.G. Vibrational relaxation of anharmonic oscillators with exchange-dominated collisions//J. Chem. Phys. 1968 v.48 pp. 1798-1807.
- Игошин В.И., Пичугин С.Ю. Эквивалентная двухуровневая модель СО лазера: Краткие сообщения по физике//ФИАН 1995. №5-6, С. 45-49.
- Арасланов Ш.Ф., Сафиуллин Р.К., Численное моделирование электроионизационного и проточного электроразрядного СО-лазеров//Квантовая электроника 2001. Т. 31. №8. C. 697-703.
- Добеши И. Десять лекций по вейвлетам. М. -Ижевск: НИЦ «Регулярная и хаотическая динамика». 2004.
- Петерс Э. Хаос и порядок на рынках капитала М.: Мир, 2000.
- Федер Е. Фракталы. Пер. с англ. М.: Мир,1991. 254 с. (Jens Feder, Plenum Press, NewYork, 1988).
- Короновский А.А., Храмов А.Е. Непрерывный вейвлетный анализ и его приложения. М.: Физматлит, 2003.
- Басов Н.Г., Казакевич В.С., Ковш И.Б. Спектр излучения импульсного электроионизационного СО-лазера с селективным и неселективным резонаторами//Квантовая электроника. 1982. Т.9. №4 C.763-771.
- Венцлавович Т.Э., Казакевич В.С. R/S-анализ временных рядов излучения импульсного электроионизационного СО-лазера (СО-ЭИЛ)//Известия Самарского научного центра РАН. 2007. Т. 9. №3. С. 610.
- Астафьева Н.М., Вейвлет-анализ: основы теории и примеры применения//УФН. 1996. Т.166. №11. С. 1145-1170.
- Конев Ю.Б., Кочетов И.В., Певгов В. Г., Шарков В.Ф. Анализ кинетических процессов, определяющих параметры СО2-лазеров//Препр. ИАЭ. 1977. № 2821.
- Казакевич В.С., Спектрально-временные характеристики излучения импульсного электроионизационного СО-лазера. Дисс. … канд. физ.-мат. наук, ФИАН, Москва, 1985.
- Фейгенбаум М. Универсальность в поведении нелинейных систем//УФН. 1983. Т.2. №141. C.343-374.
