Об уточнении метода расчета индекса сцинтилляции в трансионосферном канале связи

Предложен уточненный метод расчета индекса сцинтилляции для произвольной спектральной плотности флуктуаций электронной концентрации и конечного значения внешнего масштаба неоднородностей с учетом коэффициента распространения в зависимости от расположения космического аппарата и земной станции, а также высоты фазового экрана. Полученные выражения для расчета индекса сцинтилляции предполагают нахождение коэффициентов с использованием элементов матрицы, величина которых зависит от степени анизотропии нерегулярностей и углов, определяющих направления распространения радиоволны и вектора магнитной индукции. Для данных углов, которые должны рассчитываться в точке пересечения трассы распространения волны и фазового экрана, предложен итеративный алгоритм нахождения координат этой точки. Показано, что вычисление индекса сцинтилляции в случае игнорирования коэффициента распространения дает заниженные оценки величины этого индекса.