Оценка параметров масс-спектрометрического пика в дублете
Автор: Манойлов Владимир Владимирович, Новиков Л.В.
Журнал: Научное приборостроение @nauchnoe-priborostroenie
Рубрика: Работы для масс-спектрометрии
Статья в выпуске: 3 т.22, 2012 года.
Бесплатный доступ
Предлагается метод оценки положения и интенсивности пика в дублете, скрытого главным пиком, интенсивность которого превышает искомый в 10 и более раз в присутствии шума. Положение главного пика при этом задано точно, его форма известна с некоторой точностью, а амплитуда неизвестна. Метод позволяет оценить параметры скрытого пика при отношении сигнал/шум от десяти и выше и расстоянии между пиками от половины ширины на половине высоты и более.
Обработка сигналов, метод независимых компонент, собственные векторы матриц, оценка параметров масс-спектрометрических пиков
Короткий адрес: https://sciup.org/14264804
IDR: 14264804