ОЦЕНКА ВЕРОЯТНОСТИ ОШИБОЧНОЙ ИНТЕРПРЕТАЦИИ РЕЗУЛЬТАТОВ ПЦР-АНАЛИЗА. Ч. 1. ОТКАЗЫ ТЕХНИЧЕСКИХ УСТРОЙСТВ
Автор: А. Л. Буляница
Журнал: Научное приборостроение @nauchnoe-priborostroenie
Рубрика: Математические методы и моделирование в приборостроении
Статья в выпуске: 2, 2023 года.
Бесплатный доступ
На основе признанных вероятностных моделей распределения времен первого отказа технических устройств дана оценка вероятности получения ошибочного результата генетического анализа при реализации полимеразной цепной реакции в реальном времени. Использованы модели плотности распределения вероятности времен первого отказа из множества распределений Вейбулла с различными параметрами. Большая часть временных оценок построена, исходя из распределения Вейбулла с параметром 1, что совпадает с наиболее признанным экспоненциальным законом распределения времен отказа. Исследованы случаи малых времен непрерывной работы прибора (от 100 до 1200 ч). Используя понятие "слабого звена" как наиболее вероятно отказывающего блока, а также элемента в соответствующем блоке, подтверждено, что в рассматриваемых условиях более, чем в 65% случаев, отказ прибора вызван отказом именно соответствующего элемента. При этом часто применяемая гипотеза отказа единственного элемента, например, при построении таблицы функций неисправностей, недостаточно обоснована даже при малых временах непрерывной работы прибора. Полученные оценки могут быть ориентиром при прогнозировании времен безотказной работы в условиях, когда замена элементов (блоков) практически невыполнима. В случае использования вероятностной модели – распределения Вейбулла с параметрами 1.5 и 2, что предполагает возрастание вероятностей отказа на больших временах, оценочные значения вероятности отказа для времен непрерывной работы до 700 ч уменьшаются примерно вдвое по сравнению с экспоненциальным законом.
Время первого отказа, распределение Вейбулла, экспоненциальное распределение, условная вероятность, формула Байеса, "слабое звено"
Короткий адрес: https://sciup.org/142236996
IDR: 142236996
Список литературы ОЦЕНКА ВЕРОЯТНОСТИ ОШИБОЧНОЙ ИНТЕРПРЕТАЦИИ РЕЗУЛЬТАТОВ ПЦР-АНАЛИЗА. Ч. 1. ОТКАЗЫ ТЕХНИЧЕСКИХ УСТРОЙСТВ
- 1. Дружинин Г.В. Человек в моделях технологий. Часть I: Свойства человека в технологических системах. М.: МИИТ, 1996. 124 с.
- 2. Коняхин И.А., Зверева Е.Н. Типовые расчеты по определению характеристик надежности оптико-электронных приборов. СПб.: Университет ИТМО, 2016.
- 3. Ефимов А.В. Надежность и диагностика систем электроснабжения железных дорог: Учебник для вузов ж/д транспорта / А.В. Ефимов, А.Г. Галкин. М.: УМК МПС России, 2000. 510 с.
- 4. Справочник. Надежность "ЭРИ". 2004. URL: https://areliability.com/wpcontent/uploads/2018/08/Intensivnost-otkazovelektroradioizdelij.pdf (дата доступа 07.03.2023).
- 5. Гурвич И.Б., Сыркин П.Э., Чумак В.И. Эксплуатационная надежность автомобильных двигателей. М.: Транспорт, 1994. 144 с.
- 6. Ишанин Г.Г. Источники излучения. Учебное пособие / Г.Г. Ишанин, В.В. Козлов. СПб.: СПбГУИТМО, 2004. 395 с.
- 7. Аксененко М.Д. Приемники оптического излучения: Справочник / М.Д. Аксененко, М.Д. Бараночников. М.: Радио и Связь, 1987. 296 с.
- 8. Приборы оптоэлектронные. Излучатели полупроводниковые. Оптопары. СПб.: Издательство РНИИ "Электронстандарт", 1992. 250 с.
- 9. Ишанин Г.Г. Приемники излучения / Г.Г. Ишанин, Э.Д. Панков, В.П. Челибанов. СПб.: Издательство "Папирус", 2003. 528 с.
- 10. Первый сервис-справочник по настройке компьютеров и программных продуктов. URL: https://doma35.ru/computers/srednyaya-narabotkana-otkaz-kompyutera (дата доступа 07.03.2023).
- 11. Mourad S., Zorian Y. Principles of testing electronic systems. John Wiley&Sons, 2000. 420 p.
- 12. Agrawal V.D., Bushnell M.L. Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits. Kluwer academic publishers, 2001. 690 p.
- 13. Скобцов В.Ю., Скобцов Ю.А. Логическое моделирование и тестировании цифровых устройств. Донецк: ИПММ НАНУ, ДонНТУ, 2005. 436 с.
- 14. Kang S., Lebeltvici Y. CMOS digital integrated circuits Analysis and design. Boston, McGrow-Hill, 1999.
- 15. Барашко А.С., Скобцов Ю.А., Сперанский Д.В. Моделирование и тестирование дискретных устройств. Киев: Наукова думка, 1992. 288 с.
- 16. Яблонский С.В. Введение в дискретную математику. М.: Наука, 1979. 272 с.