Оптический отклик твист - индикатора при двумерной упругой деформации жидкого кристалла, вызванной электрическим полем, в зависимости от физических и конструктивных параметров устройства

Автор: Миронов А.А., Симоненко Г.В.

Журнал: Компьютерная оптика @computer-optics

Статья в выпуске: 30, 2006 года.

Бесплатный доступ

Разработаны оригинальные алгоритм и компьютерная программа для расчета двумерной упругой деформации ЖК в электрическом поле. Методом компьютерного моделирования выполнено исследование двумерной упругой деформации ЖК в электрическом поле в зависимости от физических и конструктивных параметров ЖК-ячейки. Показано наличие различных областей деформации ЖК в случае двумерной деформации и выяснено влияние на размер этих областей физических и конструктивных параметров ЖК-ячейки. Показано, что наибольшее влияние на размер областей двумерной деформации ЖК оказывает отношение величины электрода к величине толщины ЖК-слоя. Наибольшее влияние из физических параметров ЖК на его двумерную деформацию оказывает диэлектрическая анизотропия ЖК - материала. Произведена оценка минимального размера отображающего элемента в твист - индикаторе в зависимости от физических и конструктивных параметров.

Еще

Короткий адрес: https://sciup.org/14058719

IDR: 14058719

Статья научная