Оптическое измерение характеристик тонких пленок с помощью спиральных зонных пластинок

Автор: Налимов А.Г., Козлова Е.С., Стафеев С.С., Котляр В.В., Подлипнов В.В.

Журнал: Компьютерная оптика @computer-optics

Рубрика: Дифракционная оптика, оптические технологии

Статья в выпуске: 1 т.49, 2025 года.

Бесплатный доступ

В работе предложен способ измерения физических характеристик плоских тонких образцов (тонких пленок) – толщины, показателя преломления и наклона. Измерения осуществляются с помощью вихревой спиральной зонной пластинки, формирующей три максимума интенсивности, которые вращаются при удалении от плоскости зонной пластинки. Погрешность измерения наклона образца составляет доли градуса, погрешность измерения его толщины – менее 5 нм. Моделирование показало, что после металинзы формируются три максимума интенсивности, которые вращаются в пространстве с угловой скоростью 136°/мкм, что почти вдвое больше, чем в аналогичных работах.

Еще

Спиральная зонная пластинка, сенсор толщины, сенсор перемещения

Короткий адрес: https://sciup.org/140310437

IDR: 140310437   |   DOI: 10.18287/2412-6179-CO-1493

Статья научная