ОСОБЕННОСТИ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ NIST ТЕСТОВ ДЛЯ АНАЛИЗА БИТОВЫХ СЛОЕВ ПОКРЫВАЮЩИХ ОБЪЕКТОВ В СИСТЕМАХ СТЕГАНОГРАФИИ

Статья посвящена использованию результатов NIST тестов в системах стеганографии. Известны области применения результатов NIST тестов для оценки «случайности» битовой последовательности, являющейся в частном случае младшим слоем покрывающего объекта или анализируемой стегосистемы. Данный подход обладает существенным недостатком, заключающимся в отбрасывании большого объема информации, с использованием только утверждения «случайная» или «не случайная» исследуемая последовательность. В статье предлагается использовать полное количество результатов всех NIST тестов. Результаты тестов представлены в виде отсчетов и позволяют не только оценить степень «случайности», но и увидеть особенности статистических характеристик исследуемых объектов, что для систем стеганографии имеет ключевое значение. Приведенные в статье результаты получены путем компьютерного моделирования тестов и анализа фотографий без сжатия, полученных с матрицы фотоаппарата в формате RAW в среде Python.