Особенности определения остаточных напряжений в алмазе с помощью рамановской спектроскопии включений углеродных веществ
Автор: Исаенко С.И., Шумилова Т.Г.
Журнал: Вестник геонаук @vestnik-geo
Рубрика: Научные статьи
Статья в выпуске: 10 (286), 2018 года.
Бесплатный доступ
Методом рамановской спектроскопии изучены включения углеродного вещества в россыпных алмазах рек Б. Щугор и Б. Колчим, (Пермский край, Красновишерский район, Россия). Установлено, что включения углеродных веществ (УВ) могут быть представлены как графитом разной степени кристалличности, так и слабоупорядоченным стеклоподобным углеродом. Проведен анализ корреляции рамановского сдвига моды алмаза T2g (1332 см-1 при н.у.) от положения полос G и G+D` в КР-спектрах углеродных включений. Обнаружена зависимость остаточной деформации алмазной решетки от степени кристалличности включения УВ, выражающаяся в появлении D`-полосы в КР-спектре. Показано, что корректная оценка остаточного напряжения включений УВ в алмазе может быть произведена только по КР-спектрам высококристаллического графита (FWHMG = 12-20 см-1) либо по нанокристаллическому графиту (FWHMG = = 20-40 см-1) с D`-полосой в спектре. По включениям слабоупорядоченного углерода (FWHMG = 40-70 см-1) остаточные напряжения c использованием графитового коэффициента вычислять нельзя, в данном случае их можно оценивать только по остаточной деформации алмазной матрицы. При отсутствии комплексного анализа особенностей КР-спектров УВ и изначальном ошибочном принятии нанокристаллического и стеклоподобного УВ за высококристаллический графит происходит завышение полученных величин остаточного напряжения в 1.5-2 раза.
Спектроскопия комбинационного рассеяния света, остаточные напряжения, алмаз, углеродные включения
Короткий адрес: https://sciup.org/149129281
IDR: 149129281 | DOI: 10.19110/2221-1381-2018-10-47-55
Список литературы Особенности определения остаточных напряжений в алмазе с помощью рамановской спектроскопии включений углеродных веществ
- Мальков Б. А., Асхабов А. М. Кристаллические включения с октаэдрической огранкой (отрицательные кристаллы) -свидетели ксеногенности алмазов в кимберлитах//Доклады АН СССР. 1978. Т. 238. № 3. С. 695-697.
- Хохряков А.Ф., Нечаев Д.В. Исследование включений метастабильного графита в кристаллах алмаза//Кристаллогенезис и минералогия: Материалы II Международной конференции, Санкт-Петербург, 1-5 октября 2007 г. СПб., 2007. C. 134-136.
- Хохряков А. Ф., Нечаев Д. В. Типоморфные особенности включений графита в алмазе: экспериментальные данные//Геология и геофизика. 2015. Т. 56. № 1-2. С. 300-307.
- Шумилова Т. Г., Исаенко С. И., Шеманина Е. И., Лукьянова Л. И. Оптическая анизотропия и микровключения минералов в алмазе трубки Мир//Вестник Института геологии Коми НЦ УрО РАН. Сыктывкар 2010. № 4. С. 5-8.
- Akahama Y., Kawamura H. Diamond anvil Raman gauge in multimegabar pressure range//High Pressure Research. 27. P. 473-482. 2007. DOI: 10.1080/08957950701659544