Повышение качества данных, фиксируемых системой технического зрения установки разварки полупроводниковых кристаллов

Современное развитие электроники позволяет сформировать блоки обработки данных, обладающие высокой энергоэффективностью при малых габаритных размерах. Необходимость очувствления и разработки блоков с возможностью анализа внешнего пространства стала важным элементом современных устройств. Развитие адаптивных и самоорганизующихся систем невозможно без устройств обработки и анализа данных. Областями применения выступают робототехника, системы управления, автовождение, медицина и др. Использование сенсорных блоков как элемента связи пространств и формирования их отображений в область информационных параметров сопряжено с их преобразованиями и упрощениями. Такое взаимодействие связано с внесением в данные помехи, борьба с которой и в современной технике является важной и актуальной задачей. Цель исследования: разработка адаптивных подходов к обработке данных многокритериальными методами и формирование реализаций для повышения точности систем технического зрения (СТЗ). Методы. Представлен метод многокритериальной обработки, основанный на минимизации комбинированного критерия, позволяющий осуществить функции реализации обнаружителя границ, сглаживания шумовой компоненты и выделения участков фон/объект. Предложена реализация для обработки двумерных сигналов в локальных областях. Результаты. Предложена блок-схема алгоритма последовательности обработки данных на основе многокритериальной целевой функции, которая позволяет производить обработку как изображений, так и одномерных массивов данных. Формирование возможности локальной обработки изображений, содержащей объекты, имеющие участки с резкими границами переходов, позволяет повысить эффективность в сравнении со стандартной реализацией. В качестве тестовых данных используются изображения СТЗ макета установки разварки полупроводниковых кристаллов. Предложенный алгоритм позволяет повысить различимость структур элементов, уменьшить шумовую компоненту, увеличить точность построения маски и улучшить визуальное качество данных. Заключение. Предложенное решение к повышению качества данных СТЗ макета установки разварки кристаллов полупроводниковых компонент позволяет осуществить сглаживания шумовой компоненты на локально-стационарных участках изображения с возможностью сохранения границ переходов, маркировки и специальных символов.