Применение метода полного электронного выхода для измерения сечений поглощения в области XANES Са2р- спектра поглощения CaF2
Автор: Сивков В.Н., Некипелов С.В., Вялых Д.В., Молодцов С.Л.
Журнал: Известия Коми научного центра УрО РАН @izvestia-komisc
Рубрика: Физико-математические науки
Статья в выпуске: 2, 2010 года.
Бесплатный доступ
В работе впервые методом полного электронного выхода с использованием синхротрон- ного излучения проведены абсолютные измерения сечений поглощения в области резонансной структуры Ca2р - порога ионизации CaF2, получены парциальные Ca2р - сечения поглощения и определены интегральные силы осцилляторов.
Сечение поглощения, силы осцилляторов, ближняя тонкая структура рентгеновских спектров поглощения
Короткий адрес: https://sciup.org/14992380
IDR: 14992380
Список литературы Применение метода полного электронного выхода для измерения сечений поглощения в области XANES Са2р- спектра поглощения CaF2
- Каразия Р.И. Коллапс орбиты возбужденного элек-трона и особенности атомных спектров//УФН, 1981. Т.135. Вып.1. С.79.
- Stöhr J. NEXAFS Spectroscopy//Ber-lin.: Springer, 1992. 403 p.
- Henke B.L., Gullikson E.M., Davis J.C. X-ray interaction: pho-toabsorption, scattering, trans-mission and reflection at E = 50 -30000 eV, Z = 1-92//Atom. Data and Nucl. Data Tables, 1993. Vol. 54. P. 1-144.
- Лукирский А.П. Развитие методов ультрамягкой рентгеновской спектроскопии и исследование различных спектров: Дис. … докт. физ.-мат. наук, ЛГУ. Л., 1964.
- Сивков В.Н., Виноградов А.С. Сила осцилляторов πg -резонанса формы в NK -спектре поглощения молекулы азота//Оптика и спектроскопия, 2002. Т.63. С. 431-434.
- Силы осцилляторов вибрационных и ридберговских переходов в 1s -спектре поглощения молекулы азо-та/В.Н.Сивков, А.С.Виноградов, С.В.Некипелов, Д.В.Сивков, Д.В.Вялых, С.Л.Молодцов//Оптика и спектроскопия, 2007. Т. 102. С. 413-417.
- Determination of Interface States for CaF2/Si(111) from Near-Edge X-Ray-Absor-ption Measurements/F.J.Himpsel, U.O.Karls-son, D.Morar, J.A.Yarmoff//Phys. Rev. Letters., 1986. Vol.56. Nо.14. P.1497-1500.
- Formation of a New Ordered Structure of CaF2/Si(111) by Ultraviolet Irradiation/U.O.Karlsson, F.J.Himpsel, F.R.McFeely, D.Morar, D.Riger, J.A.Yarmoff//Phys. Rev. Letters., 1986. Vol.57. Nо.10. P.1243-1246.
- Chen C.T., Sette F. Comment on "Determination of Interface States for CaF2/Si(111) from Near-Edge X-Ray-Absorption Measurements"//Phys. Rev. Lett., 1988. Vol.60. Nо.2. P.160-166.
- Kyutt R.N., Khil'ko A.Yu., Sokolov N.S. Сравнительный анализ дифракции Брэгга и Лауэ от сверхрешеток CdF2-CaF2 на Si (111)//Fiz. Tverd. Tela (St. Petersburg), 1996. Vol.40. P.1563-1567.
- De Groot F.M.F., Fuggle J.C.,Thole B.T., Sawatzky G.A. L2,3 x-ray-absorption edges of d0 compounds: K+, Ca2+, Sc3+, and Ti4+ in Oh (octahedral) symmetry//Phys.Rev.B., 1990. Vol.41. Nо.2, P.928.
- Майсте А.А., Руус Р.Э., Эланго М.А.//ЖЭТФ, 1980. T.79. C.1671.
- Силы осцилляторов вибрационных и ридберговских переходов в 1s -спектре поглощения молекулы N2/В.Н.Сивков, А.С.Виноградов, С.В.Некипелов, Д.В.Сивков//Нанофизика и наноэлектроника: Материалы симпозиума. Н.Новгород, 2006. Т.2. С.398-399.
- Development and present status of the Russian-German soft X-ray beamline at BESSY II/S.I.Fedoseenko, I.E.Iossifov, S.A.Gorovikov, J.-S.Schmidt, R.Follath, S.L.Molodtsov, V.K.Adamchuk, G.Kaindl//Nuсl. Instr.and Meth. A, 2001. Vol.470. P.84-88.
- Распределение сил осцилляторов в 2р -спект-рах по-глощения пленок 3d -переходных металлов/В.Н.Сивков, А.С.Виноградов, С.В.Некипелов, Д.В.Сивков//Изв. РАН, сер.физ., 2007. Т.71. P. 81-84.
- Сивков В.Н. Распределение сил осцилляторов в области резонансной структуры ультрамягких рентгеновских спектров поглощения молекул и твердых тел: Дис. … докт. физ.-мат. наук. С-ПбГУ. С.-Петербург, 2003.
- Фано У, Купер Дж. Спектральное распределение сил осцилляторов в атомах. М.: Наука, 1972. 200 с.
- Каразия Р.И. Коллапс орбиты возбужденного элек-трона и особенности атомных спектров//УФН, 1981. Т.135. Вып.1. С.79.
Статья научная
