Принципы разработки современных источников ионов с поверхностной ионизацией для изотопного анализа урана и трансурановых элементов в твердой фазе (обзор)

Рассмотрены принципы разработки современных источников ионов с поверхностной ионизацией, предназначенные для изотопного анализа, в первую очередь в отношении задач атомной промышленности. Указано, что лишь две конфигурации многоленточных источников - двух- и трехленточные - остаются значимыми в современных серийных приборах. Проанализированы атомные физико-химические процессы на ленте-ионизаторе и указано на физические причины ограничения коэффициента использования пробы. Сделан вывод, что для существенного повышения точности изотопных измерений методом поверхностной ионизации необходимо перейти к одновременному на атомном уровне рассмотрению всей совокупности процессов: зарождения, транспортировки, масс-анализа и регистрации ионов пробы.