Проблемные вопросы применения методов ускоренных радиационных испытаний электронной компонентной базы
Автор: Авдюшкин С. А., Максимов И. А., Кочура С. Г.
Журнал: Сибирский аэрокосмический журнал @vestnik-sibsau
Рубрика: Авиационная и ракетно-космическая техника
Статья в выпуске: 2 т.24, 2023 года.
Бесплатный доступ
В настоящей работе проведен анализ существующих отечественных и зарубежных нормативных документов, регламентирующих проведение радиационных испытаний электронной компонентной базы (ЭКБ) по определению стойкости к дозовым эффектам. Ионизирующее излучение космического пространства является одним из важнейших эксплуатационных факторов, влияющих на работоспособность бортовой аппаратуры, и как следствие этого, определяющих продолжительность срока активного существования. Это во многом определяет актуальность тематики радиационных эффектов в материалах электронной техники, радиационно-индуцированной деградации полупроводниковых приборов и интегральных схем и определения показателей надежности и радиационной стойкости бортовой аппаратуры в условиях воздействия ионизирующего излучения космического пространства. Проведение радиационных испытаний ЭКБ (дозовые эффекты) является неотъемлемой частью процесса обеспечения радиационной стойкости бортовой радиоэлектронной аппаратуры и космического аппарата в целом. В работе выявлены и показаны существующие риски разработчика бортовой аппаратуры и космического аппарата в целом при обеспечении радиационной стойкости аппаратуры и гарантированного выполнения целевой задачи космического аппарата в течение всего срока активного существования.
Бортовая аппаратура, ионизирующее излучение, испытания, космическое пространство, космический аппарат, поглощенная доза, радиационная стойкость
Короткий адрес: https://sciup.org/148326825
IDR: 148326825 | DOI: 10.31772/2712-8970-2023-24-2-280-290
Список литературы Проблемные вопросы применения методов ускоренных радиационных испытаний электронной компонентной базы
- Максимов И. А., Авдюшкин С. А. Адаптация методов оценки остаточного ресурса ЭКБ при воздействии ионизирующего излучения космического пространства. Отчет о научно-исследовательской работе. Железногорск, 2022, 144 с.
- ОСТ134-1034-2012. Методы испытаний и оценки стойкости бортовой радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов к воздействию электронного и протонного излучений космического пространства по дозовым эффектам. М. : ЦНИИ Машиностроения, 2022. 58 с.
- РД В 319.03.37-2000. Инженерные методы ускоренных испытаний на стойкость к воздействию протонного и электронного излучений космического пространства. М., 2000. 30 с.
- РД134-0196-2011. Типовая методика контроля стойкости к ионизирующим излучениям космического пространства в части дозовых эффектов, отбора и отбраковки биполярных электрорадиоизделий. М., 2012. 40 с.
- ЦДКТ1.027.006-2013. Типовая методика испытаний ИЭТ на стойкость к ионизационным дозовым эффектам (гамма-излучение). М., 2013. 12 с.
- ЦДКТ1.027.007-2013. Базовая методика испытаний ИЭТ на стойкость к воздействиям электронного и протонного излучений космического пространства по дозовым эффектам на основе совместного использования источников гамма- и рентгеновского излучений. М., 2013. 18 с.
- ЦДКТ1.027.008-2013. Типовая методика испытаний ИЭТ на стойкость к дозовым эффектам с использованием ускорителей электронов. М., 2013. 11 с.
- ЦДКТ1.027.009-2013. Типовая методика испытаний ИЭТ на стойкость к ионизационным дозовым эффектам с учетом низкой интенсивности. М., 2013. 21 с.
- ESA ESCC Basic Specification No 22900. TOTAL DOSE STEADY-STATE IRRADIATION TEST METHOD. Geneve, ESA, 2016. 22 p.
- ASTM F1892. Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices. West Conshohocken, ASTM, 2012. 41 p.
- MIL-STD-883.Test method standard. Microcircuits. Department Of Defense. 2010. 729 p.
- Эффект ELDRS в электронной компонентной базе отечественного производства и методы его обнаружения / Т. Н. Каськов, П. В. Рубанов, М. И. Окунцов и др. // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. 2013. № 3. С. 14–17.
- Флуктуации в уровне радиационной стойкости различных партий источника опорного напряжения ОСМ Н142ЕН19 / С. А. Авдюшкин, И. А. Максимов, В. В. Иванов и др. // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. 2014. № 3. С. 22–24.
- Аганян Т. М., Аствацатурьян Е. Р., Скоробогатов П. К. Радиационные эффекты в интегральных микросхемах. М. : Энергоатомиздат, 1988. 250 с.