Прогнозирование остаточного срока активного существования космического аппарата

Автор: Сидняев Н.И., Баттулга Э.

Журнал: Космическая техника и технологии @ktt-energia

Рубрика: Системный анализ, управление и обработка информации, статистика (технические науки)

Статья в выпуске: 4 (47), 2024 года.

Бесплатный доступ

Изложены методы математической статистики, позволяющие следить за качеством космических аппаратов в ходе их производства и заблаговременно сигнализировать о возможных нарушениях при контроле качества аппаратуры. Представлен алгоритм по определению среднего количества отказов в целом за все установленные наработки и за наработку, на которую необходимо установить прогноз. Установлено, что прогнозирование среднего количества отказов по изделиям космической техники в целом необходимо выполнять, когда по отдельным агрегатам наблюдается небольшое количество отказов и прогнозирование их за назначенную наработку по этим агрегатам имеет значительные погрешности. Представлены общие принципы, позволяющие проверить, насколько точным и устойчивым является производственный процесс, а также определить параметры распределения нестандартных отклонений в случае устойчивого технологического процесса.

Еще

Вероятность, статистика, контроль, методики, закон распределения, точность, обработка

Короткий адрес: https://sciup.org/143183982

IDR: 143183982

Список литературы Прогнозирование остаточного срока активного существования космического аппарата

ГОСТ 27.102-2021. Надёжность в технике. Надёжность объекта. Термины и определения. М.: Издательство стандартов, 2021. 23 с.
Микрин Е.А. Бортовые комплексы управления космических аппаратов. М.: Издательство МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2014. 245 с.
Guo H., Li H, Zhao W., Song Z. Direct adaptive fuzzy sliding mode control with variable universe fuzzy switching term for a class of MIMO nonlinear systems // Mathematical Problems in Engineering. 2012. Issue 1. Article ID 543039. P. 1-21. URL: 10.1155/2012/543039 (accessed 10.03.2024). DOI: 10.1155/2012/543039(accessed10.03.2024)
Wu M.-J, Jang J.-S.R., Chen J.-L. Wafer map failure pattern recognition and similarity ranking for large-scale data sets // IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 2014. V. 28. № 1. P. 1-12. URL:10.1109/TSM.2014.2364237 (accessed 10.03.2024). DOI: 10.1109/TSM.2014.2364237(accessed10.03.2024)
Садыхов Г.С., Савченко В.П., Сидняев Н.И. Модели и методы оценки остаточного ресурса изделий радиоэлектроники. М.: Издательство МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2015. 382 с. EDN: ZCKZCP

Статья научная