Расчет частотной характеристики ТЕМ-камеры
Автор: Казанский Н.Л., Рахаева Е.А.
Журнал: Компьютерная оптика @computer-optics
Рубрика: Дифракционная оптика, оптические технологии
Статья в выпуске: 3 т.31, 2007 года.
Бесплатный доступ
С использованием многомодовых матриц рассеяния рассчитана частотная характеристика ТЕМ-камеры, которая предназначена для проведения испытаний электронных компонентов и систем на электромагнитную совместимость.
Короткий адрес: https://sciup.org/14058759
IDR: 14058759
Текст научной статьи Расчет частотной характеристики ТЕМ-камеры
Для проведения испытаний электронных компонентов и систем на электромагнитную совместимость используют ТЕМ-камеры [1]. ТЕМ-камера состоит (рис. 1)из регулярного отрезка полосковой линии 1 , на входе и выходе которой включены пирамидальные переходы 2 и 3 .
Рис. 1. ТЕМ-камера для проведения испытаний на электромагнитную совместимость
Пирамидальные переходы служат для согласования геометрических размеров регулярной части ТЕМ-камеры с коаксиальными разъемами 4 , подключенными к генератору и нагрузке, и представляют собой линии передачи с непрерывно изменяющимися геометрическими размерами.
Объект испытаний 5 помещается в середину регулярной части ТЕМ-камеры, где электромагнитное поле имеет минимальную неравномерность и не содержит продольных составляющих. Генератор, пирамидальные переходы и согласованная нагрузка обеспечивают в регулярной части ТЕМ-камеры режим бегущей волны, которая имитирует электромагнитную волну в открытом пространстве.
Габариты ТЕМ-камеры зависят от размеров исследуемого объекта, что обусловлено требованиями, предъявляемыми к неравномерности электромагнитного поля в месте расположения исследуемого объекта [2].
В регулярной части ТЕМ-камеры при больших размерах поперечного сечения регулярной части и высоких частотах кроме основной волны распространяющимися могут быть и высшие типы волн [3], которые не проходят на ее вход и выход. Это обусловлено тем, что пирамидальные переходы представляют собой нерегулярные линии передачи с малыми геометрическими размерами поперечного сечения на одном конце, на котором для высших типов волн условия распространения не выполняются [4]. По- этому в таких нерегулярных линиях распространяющиеся высшие типы волн при их падении со стороны регулярной части ТЕМ-камеры не проходят на выход пирамидального перехода, а отражаются от критических сечений [5].
Как показали теоретические и экспериментальные исследования [6], при определенных условиях эти высшие типы волн могут вызватьпоявление резонансов на частотной характеристике ТЕМ-камеры. При возбуждении резонансов в ТЕМ-камере электромагнитное поле в регулярной части в месте расположения объекта испытаний становится неравномерным, и проведение достоверных испытаний на электромагнитную совместимость становится невозможным.
Целью работы является расчет частотной характеристики ТЕМ-камеры.
Расчет характеристик ТЕМ-камеры с использованием многомодовых матриц рассеяния
Внешние электрические характеристики ТЕМ-камеры при учете в ее регулярной части распространяющихся высших типов волн можно рассчитать, используя многомодовые матрицы рассеяния входящих в нее элементов.
При расчете частотных характеристик ТЕМ-камеру (рис. 1) можно представить в виде каскадно- го соединения трех многомодовых многополюсников (рис. 2), которые описывают внешние электри-

Рис. 2. Представление ТЕМ-камеры в виде каскадного соединения многомодовых многополюсников (M - число собственных распространяющихся типов волн)
Число входов у многополюсников определяется числом учитываемых типов волн.
При учете в регулярной части ТЕМ-камеры М собственных распространяющихся типов волн ее можно представить в виде многополюсника с 2М входами, многомодовая матрица рассеяния которого будет иметь вид [7]:
[ ^11 ] [ S12 J
[ S 21 ] [ S 22 ]
где [ S ii ] = [ S 22 ]
00...0
00...0
............
00...0
exp( - z Y 1 L ) 0
0 exp( - z y 2 L )
0 0 ... exp( - z у m L )
Yz - постоянная распространения z -го типа волны в регулярной части, L – длина регулярной части ТЕМ-камеры.
В матрицах рассеяния пирамидальных переходов со сторон, подключенных к регулярной части, следует учитывать M распространяющихся собственных типов волн, а со сторон сечения с малыми геометрическими размерами – только один. В этом случае многомодовые матрицы рассеяния первого и второго пирамидальных переходов можно записать в виде:
[ 2 S ] =
...
2 S ( M 1)
2 (11)
S 21
...
2 S ( M 2)
2 (12) S 21
2 S ( MM )
2(1 M ) S 21
" 1 s r) |
1 (11) S 12 |
1 (12) S 12 .. |
1(1 M ) . S 12 |
||
1 (11) S 21 |
1 (11) S 22 |
1 (12) S 22 .. |
1(1 M ) . S 22 |
||
[ 1 S ]= |
1 (21) S 21 |
1 (21) S 22 |
1 22 22 .. |
1 (2 M ) . S 22 |
, (2) |
... 1 ( M 1) _ S 21 |
... 1 ( M 1) S 22 |
... .. 1 ( M 2) 22 .. |
. ... 1( MM ) . S 22 _ |
2 (11) S 11
2 S 1 ( 1 21)
2 S 1 ( 1 12)
2 S 1 ( 1 22)
2 S (1 M )
2 S (2 M )
2 (11) S 12
2 (21) S 12
L = 8 м, L 2 = 8,45 м (рис. 1). ТЕМ-камера с такими размерами, предназначенная для проведения испытаний транспортных средств на электромагнитную совместимость, установлена в Дирекции по техническому развитию ОАО «АВТОВАЗ». Расчет частотной характеристики проводился в диапазоне частот от 0 до 30 МГц. В этом диапазоне частот в регулярной части распространяющимися являются 7 собственных типов волн [4]. Результаты расчета частотной зависимости выраженного в децибелах модуля коэффициента передачи ТЕМ-камерыпо основной моде 20log | S 2(111) | при учете в ее регулярной части семи распространяющихся собственных типов волн приведены на рис. 3 а .

О
б)

Рис. 3. Рассчитанная (а) и экспериментально измеренная (б) частотные характеристики ТЕМ-камеры
Из представленной зависимости следует, что на частотах свыше 20 МГц в ТЕМ-камере наблюдаются резонансы. На этих резонансных частотах структура поля в регулярной части искажается, и результаты проведения испытаний на электромагнитную совместимость становятся недостоверными.
Представленные результаты расчета частотной характеристики коэффициента передачи ТЕМ-камеры подтверждаются проведенными экспериментальными измерениями частотной зависимости коэффициента стоячей волны (КСВ) на входе ТЕМ-камеры [6]. Для этого на входе ТЕМ-камеры включался перестраиваемый по частоте генератор и измеритель коэффициента стоячей волны, а на выходе – согласованная нагрузка. На рис. 3б приведена экс- периментально измеренная частотная зависимость КСВ на входе ТЕМ-камеры.
Из представленных результатов следует, что экспериментально измеренные резонансные частоты совпадают с теоретически рассчитанными с погрешностью менее 3%, что подтверждает адекватность предложенной расчетной модели ТЕМ-камеры.
Заключение
Предложена методика расчета частотной характеристики ТЕМ-камеры с использованием многомодовой матрицы рассеяния при учете в ее регулярной части всех распространяющихся типов волн.
По рассчитанной частотной характеристике ТЕМ-камеры с указанными выше размерами выявлены ее резонансные частоты, численно равные 20, 25,8 и 29,6 МГц. На этих частотах электромагнитное поле в регулярной части становится неоднородным, что препятствует проведению испытаний на электромагнитную совместимость.
Работа выполнена при финансовой поддержке Российско-американской программы «Фундаментальные исследования и высшее образование» (“BRHE”, CRDF Project RUX0-014-SA-06) и Российского фонда фундаментальных исследований (гранты №№ 07-07-97601-р_офи, 06-07-08074-офи).