Расчет характеристик пирамидального перехода ТЕМ-камеры
Автор: Казанский Н.Л., Рахаева Е.А.
Журнал: Известия Самарского научного центра Российской академии наук @izvestiya-ssc
Рубрика: Физика
Статья в выпуске: 3 т.9, 2007 года.
Бесплатный доступ
С использованием многомодовых матриц рассеяния рассчитаны электрические характеристики пирамидального перехода для ТЕМ-камеры. Определены условия, обеспечивающие заданную точность вычисления элементов многомодовой матрицы рассеяния.
Короткий адрес: https://sciup.org/148197978
IDR: 148197978
Текст научной статьи Расчет характеристик пирамидального перехода ТЕМ-камеры
Для проведения испытаний электронных компонентов и систем на электромагнитную совместимость при воздействии на них электромагнитных полей большой амплитуды используются ТЕМ-камеры [1], состоящие из регулярной части и двух пирамидальных переходов (рис. 1).
Регулярная часть ТЕМ-камеры представляет собой полосковую линию передачи с центральным проводником 1 и наружным экраном прямоугольного сечения 2 . Для согласования геометрических размеров регулярной части ТЕМ-камеры с разъемами генератора и нагрузки 3 на ее входе и выходе включены согласующие пирамидальные переходы 4 , обеспечивающие постоянство волнового сопротивления по всей длине ТЕМ-камеры.
Объект испытаний 5 помещается в середину регулярной части ТЕМ-камеры, где электромагнитное поле имеет минимальную неравномерность и не содержит продольных составляющих. Генератор, пирамидальные переходы 4 и согласованная нагрузка обес- печивают в регулярной части ТЕМ-камеры режим бегущей волны, которая имитирует электромагнитную волну в открытом пространстве.
Требование высокой однородности поля в месте расположения испытуемого объекта при его больших габаритах вынуждает применять ТЕМ-камеры с большими размерами поперечного сечения регулярной части. Однако при больших поперечных размерах ТЕМ-камеры в ее регулярной части на некоторых частотах могут распространяться кроме основного и высшие типы волн [2], которые могут стать причиной возникновения резонансных явлений в ТЕМ-камере [3]. В этом случае равномерность поля в регулярной части в месте расположения испытуемого объекта нарушается, и результаты проведения испытаний становятся недостоверными.
Целью работы является расчет электрических характеристик пирамидального перехода ТЕМ-камеры. Результаты расчета электрических характеристик актуальны для исследования частотных параметров
Рис. 1. Конструкция ТЕМ-камеры
ТЕМ-камеры, установленной в Дирекции по техническому развитию ОАО “АВТОВАЗ”, имеющей габариты 18 х 8 х 27 м 3 и предназначенной для проведения испытаний транспортных средств на электромагнитную совместимость на частотах свыше 10 КГц.
Для расчета электрических характеристик нерегулярных линий передач применялся метод с использованием многомодовых матриц рассеяния [4]. В соответствии с этим методом пирамидальный переход, который является нерегулярной линией передачи, представлялся в виде каскадного соединения регулярных отрезков линии передачи и неоднородностей в виде скачков геометрических размеров поперечного сечения линии передачи.
Расчет многомодовой матрицы рассеяния неоднородности в виде скачка параметров линии передачи Рассмотрим неоднородность в полосковой линии передачи в виде скачка геометрических размеров (рис. 2).
При падении электромагнитной волны на неоднородность вблизи нее возбуждается весь спектр собственных волн линии передачи, по которым можно определить многомодовую матрицу рассеяния.
В [5] описан метод расчета многомодовой матрицы рассеяния неоднородности в виде скачка геометрических размеров в полосковой линии на основе строгого решения задачи дифракции электромагнитной волны методом частичных областей. В соответствии с этим методом рассмотрим две линии пере- дачи 1 и 2 с разными геометрическими размерами и электродинамическими параметрами заполняющих сред (рис. 2).
При падении на неоднородность слева электромагнитную волну в 1-ой линии передачи можно представить в виде суперпозиции ее собственных N волн.
N
E = L A n " e 1n (x,y) • eXP( - i Y ln z),
n = 1
. N _
H = L A n " h 1n (x,y) • eXP( - i Y ln z).
n = 1
где A n , Y 1 n , e 1 n , h1 n — соответственно комплексная амплитуда, продольное волновое число и составляющие электрического и магнитного полей n -го собственного типа волны в 1-ой линии передачи.
Такая волна на неоднородности частично отражается и частично проходит во вторую линию передачи. Выражения для сост а вляющих полей в первой линии передачи E 1 , H 1 можно записать в виде суперпозиции падающих и отраженных волн, а во второй линии передачи – в виде прошедших волн E 2 , H 2 .
Nw
* *•
E l = L A n e in (x-y) ■ exP( - i Y ln z) + L B n e in (x-y) • exP(i Y ln z).
n=ln
Nw
***
Hl = L AnhlnCx.y) ■ eXP( — iYlnz) — LBnhln (X,y) ■ eXP( iYlnz). n=ln
E 2
w
*
= L Cne2n(X,y) ^ eXP( — iYlnz), n=l
w
* *
H 2 = L C n h 2n (X,y) • eXP( — i Y ln z). n = l

- б -
- а -
Рис. 2. Скачок геометрических размеров в полосковой линии передачи
В этих выражениях B n , C n - комплексные амплитуды соответственно отраженных и прошедших n -ых собственных типов волн в 1-ой и 2-ой линиях передачи.
В плоскости скачка параметров линии передачи при z = 0 должны выполняться гра-
X b kn = § kn - E b ni c ki ,
c kn
i = 1
X
= 5 kn + E b ik c in ,
ничные условия для составляющих электри-
ческого и магнитного полей, касательных
δ kn
i = 1
d kn = 2 ‘ C kn .
– единичная дельта-функция,
плоскости скачка
—— ——
E 1 т = E 2 т при
——
H 1 т = H 2 т при
< x е [ xy ,x 4 2) ] , ' У е [ У^У 2 ] , < x е [ x(11) .x^ ] , _ У е [ У? .У( 1 ] ,
8 kn =
' 1
при k ^ n при k = n , k = 1,2,3,'"’X,
——
E 1 т = E 2т = 0 при
b nk
c nk
*
1 Г - - —
= —J e l n ( x , У ) h 2 k ( x , У ) 1 z dS , N
2 k
S 1
*
1 Г * —
V J e 1 n ( x , У ) h 2 k ( x , У ) 1 z dS , N
1 k S 2
*
k^LIV 2) V 1)] k (i;
x е [ x i ,x i J ^ [ x ,x 4 J ,y L y 1 ,y 3 J ,
(2) (2) (2) (1) (1) (2) (5)
L x е L x i ,x 4 J , y = L y 3 ,y 3 J^ У ,y i J •
N jn
= J e jn ( x , У ) h — jk ( x , У ) — z dS S , L _
, j = 1,2 .
Подставляя соотношения (1), (2) в (3), (4), получим систему уравнений для касательных составляющих полей
NXX
E A nein(x,y) + E BneU(x,y) = E Cn^2n(x,y)’ n=1 n=1n
N x x
~— ~— ~—x^
A n h 1n (x,y) - E B n h 1n (x,y) = E C n h 2n (x,y)V
_ n=1 n=1n
Применяя условие ортогональности собственных типов волн к уравнениям системы (6) и используя граничное условие (5), получим систему линейных алгебраических уравнений, связывающую амплитуды отраженных ( B 1, B 2,..., B n ,...) и прошедших ( C 1, C 2,..., C n ,...) волн с падающими ( A 1, A 2 ,..., A N ), которую в матричной форме
можно записать в виде
a11 a12
a21 a22
a31 a23
c 11 c 12 c 13
c 21 c 22 c 23
c 31 c 23 c 33
" в 1 B ^ 2 B 3
_ ■■■
C 1 C2 C 3
b 1 b2 b
...
d1 d d
...
'22
d1 d d b1 b2 b
...
...

, (7)
, (8)
Система уравнений (7) и (8) связывает амплитуды N собственных типов волн в 1ой линии передачи A 1, A 2,..., A N , падающих на неоднородность, с бесконечным числом собственных типов волн, отраженных от неоднородности с амплитудами B 1, B 2, B 3,..., и прошедших во вторую линию передачи волн с амплитудами C 1, C 2 , C 3 ,....
При этом амплитуды собственных типов волн A 1, A 2,..., A N , падающих на неоднородность, считаются заданными, а амплитуды отраженных B 1, B 2 , B 3 ,... и прошедших C 1, C 2, C 3,... волн – неизвестными.
Бесконечную систему линейных алгебраических уравнений (7) и (8) можно решить методом редукции. Из решения этой системы уравнений можно найти элементы многомодовой матрицы рассеяния [4]. Для вычисления j -го столбца многомодовой матрицы рассеяния в соотношения (7) и (8) следует подставлять следующие значения
амплитуд волн, падающих на неоднородность: A j = 1, A l = 0, l = 1 , 2 ,..., x , l ^ j .
Элементы матрицы рассеяния будут оп-
ределяться отношением амплитуд отраженной B i и прошедшей C i волн к амплитуде падающей волны A j
( ij )
S 11 =
где « akn = 5kn +E bnicki , (9)
i = 1
B i
A j
S (ij ) = C i
21 A j
где i = 1,2,..., x , j = 1,2,...,N .
Применяя эту процедуру для значе-
ний j = 1,2,...,N , можно найти элементы матрицы рассеяния S 1 ( 1 ij ) , S 2 ( 1 ij ) .
Для определения элементов многомодовой матрицы рассеяния S 1 ( 2 ij ) , S 2 ( 2 ij ) необходимо решить аналогичную изложенной выше задачу о возбуждении волн неоднородностью для случая, когда волна на нее падает справа.
Результаты расчета многомодовой матрицы рассеяния неоднородности в виде скачка геометрических размеров в полосковой линии Ниже в качестве примера приведены результаты расчета многомодовой матрицы рассеяния для неоднородности в виде скачка геометрических размеров в полосковой линии (рис. 2) с параметрами х^ = -Х;1) = 9000мм, х31) = - х21) = 5 600 мм, у^ = у 22) = 0, у31) =-у<1 = 4 000 мм, х42) = -х(2) = 8 500 мм, х(32) = -х(22) = 5150 мм, у<2 =-yW = 3 750 мм , ^ 1 = ^2 = 1 , ^1 = ^2 = 1 .
При таких геометрических размерах линий передач в них на частотах менее 7 МГц распространяющимся является только один собственный тип волны, на частотах менее 30 МГц – 7 собственных типов волн [2].
При суммировании рядов в соотношениях (9) – (11) число членов ряда ограничивалось условием, что дальнейшее увеличение числа членов ряда не изменяло все элементы матрицы рассеяния на величину, превышающую значение 0,0001.
Из анализа рассчитанных матриц рассеяния следует, что с наибольшей амплитудой основной тип волны в линии передачи возбуждает пятый тип волны. Это обусловлено тем, что структура поля пятого типа волны в наибольшей степени подобна структуре основного типа волны [6]. На рис.3 приведены структуры электрического (а, в) и магнитного (б, г) полей первого (а, б) и пятого (в, г) собственных типов волн линии передачи.
Из представленных структур полей видно, что в центральной области линии передачи направления силовых линий электрического и магнитного полей совпадают.
При изменении частоты и геометрических размеров линий передачи значения элементов многомодовой матрицы рассеяния изменяются. На рис. 4 приведены частотные зависимости элементов матрицы рассеяния.
Из представленных частотных зависимостей модулей элементов матрицы рассеяния следует, что в диапазоне частот до 17,5 МГц модуль коэффициента передачи для основного типа волны S 2 ( 1 11) монотонно уменьшается. На частоте 17,5 МГц возникают условия распространения для 5-го собственного типа

- а -

- б -

- в - - г -
Рис. 3. Структуры электрического (а, в) и магнитного (б, г) полей первого (а, б) и пятого (в, г) собственных типов волн

X МГу.
Рис. 4. Частотные зависимости элементов матрицы рассеяния
20log(| S 2 ( 1 11) |) (кривая 1) и 20log(| S 2 ( 1 51) |) (кривая 2)
волны, имеющего большую амплитуду, и на графике зависимости коэффициента передачи для основного типа волны S 2 ( 1 11) появляются изломы. Возбуждающиеся на других частотах остальные собственные типы волн на частотную зависимость коэффициента передачи по основной моде S 2 ( 1 11) не влияют из-за их малой амплитуды.
Результаты расчета пирамидального перехода для ТЕМ-камеры
С использованием полученных численных результатов расчета многомодовых матриц рассеяния неоднородностей в виде скачков геометрических размеров полосковой линии и выражения для матрицы рассеяния регулярных отрезков линии передачи [4] были рассчитаны частотные зависимости элементов матрицы рассеяния пирамидального перехода, изображенного на рис. 5 и имеющего геометрические размеры x41 = -х(1 = 9000 мм, x^ = -x21) = 5600 мм, yV* = -y((1) = 4000 мм, x^ = -x((2) = 490 мм, x(32) = -x22) = 350 мм, y22> =-y!2) = 292 мм, z0 = 10360 мм .
Для этого использовался метод расчета нерегулярных линий передачи на основе многомодовой матрицы рассеяния [4]. Переход моделировался N регулярными линиями одинаковой длины и N + 1 неоднородностями в виде скачков геометрических размеров.
Для определения необходимого числа регулярных линий N , аппроксимирующих пирамидальный переход, рассчитывались модули элементов многомодовой матрицы рассеяния S 1 ( 1 11) , S 1 ( 1 51) на частотах 5 МГц и 20 МГц , при которых в участке пирамидального перехода с наибольшими геометрическими размерами обеспечивались соответственно одномодовый и многомодовый режимы.
На рис. 6 представлены рассчитанные зависимости модулей коэффициента отражения S 1(111) и S1(151) от числа регулярных отрезков N .
Из представленных результатов следует, что увеличение числа регулярных отрезков N свыше 10 мало влияет на элементы многомодовой матрицы рассеяния. Аналогичные зависимости от числа разбиений имеют и другие модули элементов многомодовой матрицы рассеяния. С наибольшей амплитудой основной первый тип волны возбуждает в пирамидальном переходе 5-ый собственный тип волны.


N

- б -
N
Рис. 6. Зависимость модулей элементов многомодовой матрицы рассеяния | S1(111) | и | S1(151) | от числа регулярных отрезков N

Рис. 7. Частотная зависимость фазы коэффициента отражения 5-го типа волны ϕ 1 ( 1 55) ( f ) .
Цифры у кривых – число регулярных отрезков линий передач N
Частотная зависимость фазы коэффициента отражения для пятого типа волны ϕ 1 ( 1 55) при различном числе разбиений N представлена на рис. 7.
Из представленных зависимостей видно, что в диапазоне частот 5-17.5 МГц фаза коэффициента отражения 5-го высшего типа волны постоянна и равна - 180 0 . Это обусловлено тем, что анализируемая структура в этом диапазоне частот не допускает распространение данного типа волны. По мере увеличения частоты свыше 17.5 МГц в пирамидальном переходе критическое сечение [8], которое разделяет область с распространяющимися и затухающими волнами, смещается внутрь перехода, и вносимый фазовый сдвиг изменяется.
Закон изменения фазового сдвига от частоты также зависит от числа разбиений N . По мере увеличения числа разбиений частотная зависимость фазы коэффициента отражения стабилизируется, и при увеличении числа разбиений N свыше 10 не приводит к изменению частотной зависимости фазы коэффициента отражения 5-го собственного типа волны.
Заключение
Рассчитана и проанализирована многомодовая матрица рассеяния пирамидального перехода ТЕМ-камеры. Определены условия, обеспечивающие заданную точность вычисления элементов многомодовой матрицы рассеяния. Полученные результаты использованы для расчета частотной характеристики ТЕМ-камеры [7].
Работа выполнена при финансовой поддержке Российско-американской программы “Фундаментальные исследования и высшее образование” (“BRHE”, CRDF Project RUX0-014-SA-06) и Российского фонда фундаментальных исследований (гранты №№ 07-07-97601-р_офи, 06-07-08074-офи).
Список литературы Расчет характеристик пирамидального перехода ТЕМ-камеры
- Crawford M.L. Generation of Standard EM Fields Using TEM Transmission Cells//IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility. 1974. Vol. EMC-16, no. 4.
- Казанский Н.Л., Подлипнов Г.А., Рахаева Е.А., Саржин М.А., Рахаев А.А. Расчет характеристик электромагнитного поля в ТЕМ-камере//В сб. "Восьмая Российская научно-техническая конференция "Электромагнитная совместимость технических средств и электромагнитная безопасность"/Санкт-Петербург: ЛЭТИ. 2004.
- Rakhaeva E.A., Kazansky N.L., Podlypnov G.A., Rakhaev A.A., Suhov V.V., Sarzhin M.A. Research of resonance effects in TEM-cell//7-th internftional symposium on electromagnetic compatibility and electromagnetic ecology/Saint-Penerburg. 2007.
- Казанский Н.Л., Рахаева Е.А. Расчет характеристик нерегулярных линий передач//Антенны.2007. №10.
- Микроэлектронные устройства СВЧ/Г.И. Веселов, Е.Н. Егоров, Ю.Н. Алёхин и др.//Под ред. Веселова Г.И. М.: Высшая школа, 1988.
- Kazansky N.L., Podlypnov G.A., Rakhaeva E.A., Sarzhin M.A. Calculation of electromagnetic field characteristics in TEM-cell//6-th International symposium on electromagnetic compatibility and electromagnetic ecology. 2005.
- Казанский Н.Л., Рахаева Е.А. Расчет частотных характеристик ТЕМ-камеры//Компьютерная оптика.2007. Т.31. №3.
- Митрохин В.Н. Изменение адиабатического инварианта на критических сечениях неоднородных волноводов//Вестник МГТУ, сер. Приборостроение. 1990, №1.