Расчет и исследование дифракционных микро- и наноструктур
Автор: Досколович Леонид Леонидович
Журнал: Компьютерная оптика @computer-optics
Статья в выпуске: 2 т.32, 2008 года.
Бесплатный доступ
Стенограмма доклада на семинаре по компьютерной оптике и обработке изображений. Представлен ряд направлений исследований в области нанотехнологий. Рассмотрено решение обратной задачи рефлектометрии, состоящей в определении параметров периодических микро- и наноструктур по измерениям отраженного поля. Рассмотрен расчет дифракционных структур для формирования высокочастотных интерференционных картин поверхностных электромагнитных волн. Приведены результаты исследования дифракционных решеток с резонансными магнитооптическими свойствами.
Рефлектометрия, прямая задача дифракции, обратная задача дифракции, дифракционная решетка, поверхностные электромагнитные волны
Короткий адрес: https://sciup.org/14058808
IDR: 14058808
